Добавил:
ghsts1231@gmail.com студент кф мгту им. Баумана теперь снова без стипендии(( Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Скачиваний:
8
Добавлен:
01.06.2021
Размер:
211.95 Кб
Скачать

Министерство науки и высшего образования Российской Федерации

Калужский филиал федерального государственного бюджетного

образовательного учреждения высшего образования

«Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»

(КФ МГТУ им. Н.Э. Баумана)

ФАКУЛЬТЕТ _ИУ-КФ «Информатика и управление»

Кафедра иу1-кф «Конструирование и технология производства

электронных средств»

Лабораторная работа №6

«Исследование процессов термической диффузии из ограниченного источника примеси»

Дисциплина: «Физико-химические основы микро- и нано-

технологий»

Выполнил: студент гр. ИУК1-41Б

(Прудников А.Ф.

(Подпись) (Ф.И.О.)

)

Проверил:

( Ткаченко А.Л.

(Подпись) (Ф.И.О.)

)

Дата сдачи (защиты): Результаты сдачи (защиты):

  • Балльная оценка:

  • Оценка:

Калуга , 2021

Цель работы: изучить структуру и топологию электронных приборов.

Теоретическое часть Биполярный транзистор.

Основным элементом биполярных полупроводниковых интегральных схем является транзистор со структурой n-p-n. Такой транзистор обладает более высокими электрофизическими параметрами по сравнению с транзистором структуры p-n-p. Это связано с более высокой подвижностью электронов, по сравнению с дырками. Структура и топология несимметричного n-p-n транзистора покозана на рис. 1.

Рис.1. Структура и топология несимметричного n-p-n транзистора. 1 – металлизация, 2 – контактное окно, 3 – базовая область, 4 – эмиттерная

область, 5 – контакт к коллекторной области.

Такая конструкция n-p-n транзистора обычно используется при проектировании маломощных биполярных транзисторов со средними электрофизическими характеристиками. Основное достоинство такой конструкции – простота и малая занимаемая площадь.

Такой транзистор может быть получен с помощью термической диффузии. Для этого на полупроводниковой пластине p-типа формируется

скрытый n+ слой, служащий для уменьшения сопротивления тела коллектора. Затем на пластине эпитаксиально выращивается n-слой, в котором с помощью диффузии формируется транзистор. p-области по краям транзистора служат для разделения элементов внутри кристалла. Они также получаются термической диффузией. Металлизация может быть получена магнетронным распылением алюминия.

Диффузионный резистор.

Все элементы в интегральных микросхемах стараются изготавливать, используя те же операции, которые нужны для формирования биполярного n-p-n транзистора, что необходимо для упрощения технологического процесса производства. Диффузионный резистор обычно формируется одновременно с изготовлением диффузионных областей n-p-n транзистора. Существует два вида диффузионных резисторов: получаемые на основе базовой и эмиттерной областей n-p-n транзистора. На рис. 2 показаны структура и топология таких резисторов.

К Э Б

SiO2

ρS (Б) = 200÷1000 Ом/□

ρS (Э) = 20÷100 Ом/□

Рис.2. Структура и топология диффузионных резисторов. В середине – использующего базовую область, справа – эмиттерную.

Сопротивление такого резистора может достигать 50 кОм. К недостаткам таких резисторов следует отнести низкую точность номиналов сопротивлений.

Соседние файлы в папке физ-хим. основы нано- и микроэлектроники