Sb000537
.pdf
Вторичное интегрирование (5.8) приводит к следующему уравнению огибающей пучка:
|
|
|
r |
dr |
|
|
|
|
|
|
|
|
z = z0 + ∫ |
|
|
|
. |
(5.9) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
c ln r ra + γ |
2 |
|||||
|
|
|
ra |
|
|
|
|
||
Радиус пучка в кроссовере находится из (5.6), если в нем положить |
|||||||||
∂ r ∂ z = 0 : |
r |
= r exp(− γ 2 |
c). Анализ уравнения (5.9) показывает, |
что суще- |
|||||
|
кр |
a |
|
|
|
|
|
|
|
ствует угол сходимости пучка θ , при котором кроссовер максимально удален от анодной диафрагмы: zкр = z(rкр )− z0 = max для пушки с заданным значе-
нием первеанса. Такой режим работы пушки называют оптимальным.
Для расчета ЭОС сильноточной пушки также может быть использована программа MATLAB. В качестве исходных данных для расчета задаются:
анодное напряжение Uа , катодный ток Iк , плотность тока эмиссии катода
I э , радиус кроссовера rкр . В результате расчета определяются геометрия
пушки и контур огибающей электронного пучка. Как и в предыдущем случае, при необходимости можно уточнить найденную геометрию пушки с помощью программ анализа более высокого уровня.
6. РАСЧЕТ СИСТЕМ ФОРМИРОВАНИЯ ПОТОКОВ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ В ПЛАЗМЕННЫХ ПРИБОРАХ И УСТРОЙСТВАХ
В основу конструкций ГРЭП с холодным катодом и анодной плазмой положен ограниченный разрядный промежуток высоковольтного тлеющего разряда (ВТР). Холодный катод 1 охвачен анодным экраном 3, отделенным от катода высоковольтным изолятором 2 (рис. 6.1).
1 |
2 |
3 |
а |
|
|
б |
Рис. 6.1
41
В анодном экране выполнено отверстие, образующее анодную апертуру. Расстояние между анодом и катодом ограничено по минимуму условием исключения вакуумного пробоя (предельная напряженность электрического
поля не более 105 B
cм), а по максимуму − условием возникновения газово-
го разряда между катодом и анодным экраном. Расстояние «катод−экран» должно быть меньше наименьшей длины области катодного падения потенциала в рабочем диапазоне условий разряда. При такой экранировке катода разряд может зажигаться только в области анодной апертуры.
На рис. 6.1 представлены два характерных типа поперечных сечений указанных разрядных промежутков: а − ширина анодной апертуры − величина порядка расстояния между катодом и экраном или менее этого (при этом поле катода сильно экранировано и незначительно проникает в заанодное пространство; эмитируемые плазмой ионы фокусируются на катоде в пятно малой площади, из которого эмитируется расходящийся электронный пучок высокой яркости; в эмиссионном пятне происходит интенсивное распыление катода, поэтому срок службы катода невелик); б − ширина анодной апертуры значительно больше расстояния между катодом и экраном (поле катода экранируется слабо, и распределение потенциала в области катодного падения определяется в основном объемным зарядом пучка положительных ионов; при этом форма плазменного эмиттера в значительной степени подобна форме холодного катода, на поверхности которого существует развитая эмиссионная зона). Во всех типах разрядных промежутков эмиссионная поверхность катода может быть вогнутой, плоской или выпуклой в зависимости от требований, предъявляемых к конфигурации формируемых пучков. С помощью ГРЭП получают конические, трубчатые, клиновидные, дисковые и пучки других профилей.
Мощность электронных пучков, формируемых существующими газоразрядными пушками с холодным катодом и анодной плазмой, лежит в диапазоне от сотен ватт до сотен киловатт, причем меньшие уровни мощности характерны для пушек с точечным или нитевидным эмиттерами электронов,
а большие − для пушек с развитым эмиттером электронов.
Диапазон широко используемых ускоряющих напряжений находится в пределах единиц−десятков киловольт.
К основным физическим процессам, определяющим работу ГРЭП, можно отнести следующие:
42
−эмиссию электронов из холодного катода при бомбардировке его ионами и быстрыми нейтральными частицами;
−ускорение электронов в области катодного падения потенциала и формирование электронного пучка;
−эволюцию электронного пучка в плазме и генерацию заряженных частиц плазмы;
−эмиссию ионов из плазмы и образование потока ионов к катоду;
−образование потока быстрых нейтральных частиц в результате процессов перезарядки ионов на нейтральных частицах газа.
Кроме того, параллельно с рассмотренными процессами происходит распыление электронов под действием бомбардировки тяжелыми частицами, конденсация распыленных частиц, генерация электромагнитного излучения
ит. п.
Все отмеченные процессы взаимосвязаны и находятся в динамическом равновесии, которое может сдвигаться под влиянием изменения ускоряющего напряжения, рода и состава газа, давления и температуры газовой среды, изменения эмиссионных характеристик материалов электродов и т. д. По-
этому расчет основных характеристик таких пушек − сложнейшая задача.
Целью приближенного экспресс-анализа ЭОС ГРЭП является нахождение распределения потенциала на оси системы формирования, длины области катодного падения (участка ускорения), усредненной плотности элек-
тронного тока с катода и на их основе − исходного варианта геометрии системы.
В качестве исходных данных для расчета задаются потенциалом катода
Uк (катод находится под высоким отрицательным потенциалом по отноше-
нию к заземленному аноду и анодной плазме, потенциал которой Ua = 0 ),
материалом катода, давлением p и родом газа, а также током электронного потока Ie .
Распределение потенциала в катодном падении одномерного разрядного промежутка ВТР с анодной плазмой определяется полем объемного заряда положительных ионов, движущихся с перезарядками от плазмы к катоду. Так как объемный заряд встречного пучка электронов во много раз меньше ионного, его можно не учитывать. Решают уравнение Пуассона (2.1) с гранич-
ными условиями U (0) = 0 , U (d ) = −Uк , напряженность электрического поля на плазменном эмиттере E(0) = 0 . При этом скорость, приобретаемая ионом
43
при |
движении |
без |
перезарядок |
от |
границы плазмы до сечения z |
|||
v(z) = |
|
|
, где μ − масса иона. Количество ионов этой части потока про- |
|||||
|
2eU (z) μ |
|||||||
порционально exp − z |
_ |
_ |
|
|
||||
λ , где λ − средняя длина свободного пробега иона до |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
очередного процесса перезарядки: |
_ |
(sp). Здесь s − удельная вероятность |
||||||
λ = 1 |
||||||||
резонансной перезарядки (на рис. |
6.2 |
дана зависимость s от энергии для |
||||||
ионов водорода); |
p − давление газа. Поток ионов, прошедших перезарядку, |
|||||||
пропорционален |
1 − exp − z |
λ_ . |
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Учитывая, что объемный заряд, создаваемый ионом, обратно пропорционален его скорости, на начальном участке ускорения скорость иона опреде-
ляется напряженностью поля E(z) и случайностью места перезарядки. Для ионов, прошедших перезарядку, может быть принят режим установившегося дрейфа в сильном электрическом поле. Средняя скорость такого потока
|
_ |
|
|
vz = |
2eE(z)λ |
≈ K1 E1 2 (z). |
|
μ |
|||
|
|
Объемный заряд определяется суммой зарядов, создаваемых обоими потоками, тогда уравнение Пуассона можно записать в виде
|
∂E |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
_ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
_ |
|
|
|
|
|||||
|
|
J |
i |
|
|
|
|
e− z λ |
|
|
|
|
|
|
1 − e− z λ |
|
|
|
|||||||||||||||||
|
|
|
= |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
+ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
. |
(6.1) |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
μ)1 2 |
|
K |
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||
|
∂ z ε (2eU (z) |
|
|
|
|
E1 2 (z) |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
0 |
|
|
|
|
|
|
|
|
i |
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
Обозначив K2 = U (z ) [zE(z )] и преобразовав (6.1), получим |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
∂E |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
_ |
|
|
|
|
|
|
|
1 − e |
|
_ |
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
J |
i |
|
e−z λ |
|
|
|
|
|
|
|
−z λ |
|
|||||||||||||||
E1 2 |
|
|
|
= |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
+ |
|
|
|
|
|
|
|
. |
|
|||||||||
∂ z |
|
|
|
|
(2eK |
|
|
1 2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
ε |
|
|
|
|
|
|
|
|
K |
|
|
|
|
|
|
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
z μ) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
0 |
|
|
|
2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
||
Тогда |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
z |
|
|
|
|
|
z |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
λ |
2 3 |
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
λ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
e−z |
_ |
|
|
|
|
|
1 − e−z |
_ |
|
|
|
|
||||||||||
|
3J |
i |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||||
U (z) = −∫ |
|
|
|
|
∫ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
2ε |
|
(2eK z μ)1 2 + |
|
|
|
|
|
K |
|
|
|
dz . |
(6.2) |
||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
0 |
|
|
0 |
|
|
|
|
2 |
|
|
i |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
||||||
|
0 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
Параметр K2 в уравнении (6.2) может быть аппроксимирован зависимо-
стью K2 = 0,75 − (0,75 − 0,6)z
d .
44
S, кол. вз/(см·Па)
10
10
10
−3
−4
−5
102 |
103 |
104 |
10 |
5 |
|
|
|
|
W, эВ |
|
Рис. 6.2 |
|
из выражения: Ji = Je γ , где |
|
Плотность тока ионов Ji определяется |
||||
J e − плотность электронного потока: Je = Ie |
Sк ( Sк − площадь эмитирую- |
|||
щей поверхности катода); γ − коэффициент ионно-электронной эмиссии.
Таким образом, с помощью выражения (6.2) можно приближенно рассчитать распределение потенциала в катодном столбе и длину катодного падения потенциала. Сравнивая поперечные размеры эмиссионной зоны с длиной области катодного падения, определяют тип разрядного промежутка
(см. рис. 6.1). Расстояние «катод − анодный экран» выбирают исходя из при-
веденных соображений.
Определенная таким образом геометрия электродов (поверхность плазмы рассматриваем как границу прозрачного анода) вместе с заданными параметрами разряда характеризует исходный вариант рассчитываемой ГРЭП.
Для расчета ЭОС плазменной пушки с помощью программы MATLAB в качестве исходных данных для расчета необходимо задать катодный потен-
циал Uк , электронный ток Ie , радиус пучка на выходе из плазмы. В резуль-
тате работы программы определяются геометрия пушки и контур огибающей электронного пучка.
45
Cписок литературы
1.Сушков А. Д. Вакуумная электроника. СПб.: Изд-во «Лань», 2004.
2.Силаев С. А., Шануренко А. К. Проектирование мощных электронных приборов с электростатическим управлением: учеб. пособие / СПбГЭТУ
«ЛЭТИ». СПб., 1999.
3.Антонов С. В., Шануренко А. К. Проектирование вакуумных и плазменных приборов и устройств. СПб.: СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2004.
4.Рыкалин Н. В., Зуев И. В., Углов А. А. Основы электронно-лучевой обработки материалов. М.: Машиностроение, 1978.
5.Молоковский С. И., Сушков А. Д. Интенсивные электронные и ионные пучки. 2-е изд., перераб. и доп. М.: Энергоатомиздат, 1991.
6.Прилуцкий В. С., Шануренко А. К. Особенности физических процессов
вкатодах мощных электронных приборов с электростатическим управлением: учеб. пособие / СПбГЭТУ «ЛЭТИ». СПб., 1998.
7.Прилуцкий В. С. Вольфрамовый торированный карбидированный катод. М.: Руда и металлы, 2001.
46
Оглавление |
|
Введение................................................................................................................... |
3 |
1. Системы формирования потоков заряженных частиц |
|
вакуумных и плазменных приборов и устройств ............................................ |
3 |
1.1. Системы формирования электронных потоков |
|
в электронных лампах .......................................................................... |
4 |
1.2. Системы формирования сфокусированных электронных |
|
потоков.................................................................................................... |
5 |
1.3. Системы формирования потоков заряженных частиц |
|
в плазменных приборах и устройствах.............................................. |
12 |
2. Обобщенные методы расчета систем формирования потоков |
|
заряженных частиц вакуумных и плазменных приборов и устройств........ |
13 |
3. Расчет систем формирования электронных потоков |
|
в электронных лампах....................................................................................... |
17 |
3.1. Расчет катода ........................................................................................ |
18 |
3.1.1. Расчет вольфрамового торированного |
|
карбидированного катода...................................................... |
19 |
3.1.2. Расчет ВТКК решетчатого типа при задании диаметра |
|
нити катода и шага решетки ................................................. |
22 |
3.1.3. Расчет подогревного оксидного катода ............................... |
23 |
3.2. Расчет геометрических размеров системы электродов.................... |
24 |
3.2.1. Расчет межэлектродных расстояний .................................... |
24 |
3.2.2. Расчет сеточной структуры ................................................... |
25 |
3.2.3. Расчет второй сетки лучевого тетрода................................. |
27 |
4. Расчет систем формирования слаботочных электронных потоков ............. |
30 |
5. Расчет систем формирования сильноточных (интенсивных) |
|
электронных потоков........................................................................................ |
35 |
6. Расчет систем формирования потоков заряженных частиц |
|
в плазменных приборах и устройствах........................................................... |
41 |
Список литературы ............................................................................................... |
45 |
47
Антонов Сергей Владиславович, Синев Александр Евгеньевич, Шануренко Александр Константинович
Проектирование вакуумных и плазменных приборов и устройств
Электронное учебное пособие
2-е издание, переработанное
Редактор Н. В. Лукина
––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––– |
––––––– |
Подписано в печать 29.12.14. Формат 60×84 1/16. Бумага офсетная. Печать цифровая. Печ. л. 3,0.
Гарнитура «Times New Roman». Тираж 10 экз. Заказ 246.
––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––– |
––––––– |
Издательство СПбГЭТУ «ЛЭТИ» 197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5
48
