Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

ОНИ / Они дневники 13 - 14 2011-12 / Материалы к ОНИ

.doc
Скачиваний:
22
Добавлен:
02.02.2015
Размер:
332.29 Кб
Скачать

Міністерство освіти і науки України

Національний технічний університет

"Харківський політехнічний інститут"

Навчальна програма вибіркової дисципліни Основи наукових досліджень

для підготовки спеціалістів напрям підготовки 7.090803, 7.090804 спеціальності 07.090803 електронні системи, 07.090804 фізична і біомедична електроніка

РОЗГЛЯНУТО

На засіданні кафедри

Промислова і біомедична електроніка

Протокол № 14

Від «03»___07______2007 р.

В.о. Завідувача кафедри

Проф.Домнін І.Ф.

ЗАТВЕРДЖЕНО Вченою радою факультету ЕМБ

Протокол №

Від «___»__________200_ р.

Декан факультету

Воінов В.В.

Упорядник доц Івахно В.В.

Харків 2007

1. Передмова

1.1. На сучасному етапі розвитку електронної техніки приділяється велика увага поліпшенню якісних характеристик пристроїв електроніки, у тому числі забезпеченню достатньої надійності. Грамотне проектування пристроїв повинно здійснюватись з урахуванням, у тому числі, характеристик надійності. Обчислення характеристик надійності вимагає залучання математичного апарату теорії ймовірностей та математичної статистики. Цей же математичний апарат необхідно використовувати для проведення статистичної обробки результатів експериментування в ході проектування та експлуатації електронних систем, оптимізації проведення експериментів, здобутку оптимальних параметрів електронних систем.

Мета вивчення дисципліни - засвоєння принципів знаходження надійносних характеристик електронних систем, наукових принципів проведення та обробки результатів експериментів та знаходження оптимальних характеристик складних електронних та біомедичних систем.

1.2. В результаті вивчення дисципліни студент повинен Знати:

  • основні принципи обчислення надійності електронних та біомедичних систем;

  • способи підвищення та оптимізації надійносних характеристик таких систем;

  • принципи статистичної обробки результатів вимірювання в електроніці, у тому числі знаходження відповідних характеристик об’єкта досліджень;

- принципи експериментального знаходження функціональних залежностей об’єктів , що досліджуються;

- методи оптимізації планування експериментів та знаходження оптимальних параметрів об’єктів , що досліджуються.

Вміти:

  • проводити розрахунки надійносних характеристик електронних та біомедичних систем;

  • формулювати рекомендації щодо поліпшення та оптимізації таких систем;

- проводити статистичну обробку результатів вимірювань та формулювати висновки за результатами цієї обробки;

- будувати плани експериментів, за цими планами знаходити емпіричні залежності.

1.3. Організаційно-методичні вказівки:

- проведення консультацій по розділам лекційного курсу;

- використання таблиць та графіків інтенсивносте й відмов електронних компонентів;

- використання статистичних таблиць та засобів обчислювальної техніки.

1.4. Система контролю знань студентів:

- проведення модульних контрольних робіт по лекційному та практичному матеріалу;

  • поточний контроль в процесі проведення практичних занять;

  • проведення заліку.

  1. В розділі "Зміст дисципліни" вказані питання, які студент повинен також вивчити самостійно.

    1. Відповідно навчального плану спеціальності загальний обсяг годин на вивчення дисципліни - 108, аудиторні заняття - 45 годин, у тому числі лекцій - 30 годин та практичних занять - 15 годин, самостійна робота студентів - 63 години. Дисципліна вивчається на 5-му курсі, у 9-му семестрі, кредитів – 3.

2. Зміст дисципліни

2.1. Завдання дисципліни - підготовка спеціаліста спеціальностей 7.090803 та 7.090804 до кваліфікованого вирішення технічних завдань, пов’язаних із розрахунком характеристик надійності електронних пристроїв, проведенням експериментальних

досліджень, обробки їх результатів. Вивчення курсу проводиться на базі дисциплін фізико-математичного циклу.

2.2. Зміст розділів і тем:

Розділ 1. Елементи теорії ймовірностей.

Тема 1. Вступ. Мета курсу. Загальні положення методології наукового пошуку. Детерміністський та ймовірнісний підходи. Основні методи проведення наукових досліджень.

Тема 2. Основні поняття теорії ймовірностей та математичної статистики. Властивості ймовірності, правила знаходження.

Тема 3. Випадкові величини та їх властивості. Щільність ймовірності. Основні закони розподілу дискретних та безперервних випадкових величин: Бернуллі, Пуассона, нормальний. Центральна гранична теорема Ляпунова. Ймовірність знаходження випадкової величини у зазначеному інтервалі.

Розділ 2. Елементи теорії надійності.

Тема 4. Основні поняття та терміни теорії надійності. Показники надійності. Рівні надійності. Врахування умов експлуатації виробів.

Тема 5. Розрахунок основних показників електронних систем без резервування, попередній та уточнений з урахуванням впливу температури та коефіцієнта навантаження.

Тема 6. Способи підвищення надійності. Види та характеристики резервування. Вибір оптимальної структури.

Розділ 3. Елементи математичної статистики, обробка результатів експериментів та планування експериментів.

Тема 7. Роль вимірювань у наукових дослідженнях і техніці. Мета та задачі математичної статистики в теорії вимірювань. Генеральні та вибіркові сукупності. Роль нормального розподілу. Ймовірність заданого відхилення. Рівень значущості. Довірчий інтервал. Правило трьох та двох сигм.

Тема 8. Статистичні оцінки випадкових величин. Математичне очікування, дисперсія. Великі та малі вибірки. Знаходження довірчого інтервалу та необхідного числа вимірів при відомій дисперсії генеральної сукупності.

Тема 9. Розподіл Ст’юдента . Ступені свободи. Знаходження довірчого інтервалу та необхідного числа вимірів при невідомій дисперсії генеральної сукупності. Непрямі виміри.

Тема 10. Статистичні гіпотези, різновиди. Нульова гіпотеза. Критерії перевірки гіпотез: V-крітерій, Ст’юдента, Фішера, Кохрена. Перевірка гіпотез відтворності, несутт’євості розходжень середніх, дисперсій.

Тема 11. Апроксимація експериментальних даних. Метод найменших квадратів. Використання при відомому та невідомому вигляді функції. Апроксимація даних поліномом першого, другого порядку, перетворюванням факторного простору.

Тема 12. Багатофакторні експерименти, планування. Кодування. Перевірка на адекватність та значущість коефіцієнтів полінома першого порядку в ортогональних планах.

Тема 13. Постановка оптимізаційних задач. Метод Гауса - Зейделя, Вільямса - Бокса. Особливості машинних експериментів.

3. Перелік контрольних робіт.

Контрольна робота №1 проводиться за матеріалами теми 5 (розв'язання задачі).

Контрольна робота №2 проводиться за матеріалами тем 8-10 (розв'язання задачі).

Контрольна робота №3 проводиться за матеріалами тем 11-12 (розв'язання задачі).

  1. Інформаційно-методичне забезпечення

  1. Белый И.В., Клепиков В.Б, Власов К.П. Основы научных исследований и технического творчества. -К.: Вища школа, 1989. - 200 с.

  2. Основы научных исследований. Под ред. В.И.Крутова. - М.: Высшая школа, 1977.-400 с.

  3. Гмурман В.Е. Теория вероятности и математическая статистика. - М.: Высшая школа, 1977. -479 с.

4. Трифонюк В.В. Надійність пристроїв промислової електроніки. - К: Либідь, 1993 - 64 с.

  1. Структурно-логічна схема вивчення дисципліни

6. Инструктивно-методические материалы

Таблица типовых значений интенсивностей отказов компонентов

№№

Наименование

010-6 ч-1

1

Резисторы

0,03 - 1,3

2

Конденсаторы

0,01 - 20

3

Конденсаторы электролитич.

До 160

4

Электровакуумн. приборы

0,1 - 100

5

Трансформаторы

0,05 - 2

6

Дроссели

0,02 - 1

7

Электродвигатели

1 - 130

8

Диоды

0,004 - 0,25

9

Транзисторы

0,012 - 2

10

Предохранители

0,1 - 10

11

Переключатели

0,005 - 0,5

12

ИМС

0,01 - 0,5

13

Реле

0,03 - 0,3

14

Разъемы

0,01 - 1

15

Соед. пайкой

0,007 - 0,13

З ависимость интенсивности отказов объемных резисторов от температуры при различных коэффициентах загрузки

Зависимость интенсивности отказов пленочных резисторов от температуры при различных коэффициентах загрузки

З ависимость интенсивности отказов керамических (верхний рисунок) и слюдяных (нижний рисунок) конденсаторов от температуры при различных коэффициентах загрузки

Зависимость интенсивности отказов печатных плат от количества n точек пайки

n, шт.

10

20

30

50

80

100

300

500

1000

0,07

0,15

0,22

0,36

0,58

0,72

2,2

3,6

7,2

Критические точки распределения Фишера F= :k1 – число степеней свободы дисперсии , k2 – число степеней свободы дисперсии .

Уровень значимости  = 0,05

k2

k1

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

1

161

200

216

225

230

234

237

239

241

242

243

244

2

18,5

19,00

19,16

19,25

19,30

19,33

19,36

19,37

19,38

19,39

19,40

19,41

3

10,13

9,55

9,28

9,12

9,01

8,94

8,88

8,84

8,81

8,78

8,76

8,74

4

7,71

6,94

6,59

6,39

6,26

6,16

6,09

6,04

6,00

5,96

5,93

5,91

5

6,61

5,79

5,41

5,Г9

5,05

4,95

4,88

4,82

4,78

4,74

4,70

4,68

6

5,99

5,14

4,76

4,53

4,39

4,28

4,21

4,15

4,10

4,06

4,03

4,00

7

5,59

4,74

4,35

4,12

3,97

3,87

3,79

3,73

3,68

3,63

3,60

3,57

8

5,32

4,46

4,07

3,84

3,69

3,58

3,50

3,44

3,39

3,34

3,31

3,28

9

5,12

4,26

3,86

3,63

3,48

3,37

3,29

3,23

3,18

3,13

3,10

3,07

10

4,96

4,10

3,71

3,48

3,33

3,22

3,14

3,07

3,02

2,97

2,94

2,91

11

4,84

3,98

3,59

3,36

3,20

3,09

3,01

2,95

2,90

2,86

2,82

2,79

12

4,75

3,88

3,49

3,26

3,11

3,00

2,92

2,85

2,80

2,76

2,72

2,69

13

4,67

3,80

3,41

3,18

3,02

2,92

2,84

2,77

2,72

2,67

2,63

2,60

14

4,60

3,74

3,34

3,11

2,96

2,85

2,77

2,70

2,65

2,60

2,56

2,53

15

4,54

3,68

3,29

3,06

2,90

2,79

2,70

2,64

2,59

2,55

2,51

2,48

16

4,49

3,63

3,24

3,01

2,85

2,74

2,66

2,59

2,54

2,49

2,45

2,42

17

4,45

3,59

3,20

2,96

2,81

2,70

2,62

2,55

2,50

2,45

2,41

2,38

Критические точки  - -распределения при уровне значимости  = 0,05, n – объем выборки

n

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

max

1,41

1,69

1,87

2,00

2,09

2,17

2,24

2,29

2,34

2,39

2,43

2,46

3

Критические точки распределения Стьюдента tкр(k) при уровене значимости  = 0,05, k – число степеней

свободы

k

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

tкр(k)

12,7

4,30

3,18

2,78

2,57

2,45

2,36

2,31

2,26

2,23

2,20

2,18

2,16

2,14

1,96

Критические точки распределения Кохрена Gкр(k,l) при уровене значимости  = 0,05; k - число степеней

свободы в выборке; l – число выборок

Уровень значимости =0,05

l

k

1

2

3

4

5

6

7

2

3

4

5

6

7

8

9

10

12

15

20

24

30

40

60

120

0,9985

9669

9065

0,8412

7808

7271

0,6798

6385

6020

0,5410

4709

3894

0,3434

2929

2370

0,1737

0998

0000

0,9750

8709

7679

0,6338

6161

5612

0,5157

4775

4450

0,3924

3346

2705

0,2354

1980

1576

0,1131

0632

0000

0,9392

7977

6841

0,5981

5321

4800

0,4377

4027

3733

0,3624

2758

2205

0,1907

1593

1259

0,0895

0495

0000

0,9057

7457

6287

0,5440

4803

4307

0,3910

3584

3311

0,2880

2419

1921

0,1656

1377

1082

0,0765

0419

0000

0,8772

7071

5895

0,5063

4447

3974

0,3595

3286

3029

0,2624

2195

1735

0,1493

1237

0968

0,0682

0371

0000

0,8534

6771

0,5598

4783

4184

3726

0,3362

3067

2823

0,2439

2034

1602

0,1374

1137

0887

0,0623

0337

0000

0,8332

6530

5365

0,4564

3980

3535

0,3185

2901

2666

0,2299

1911

1501

0,1286

1061

0827

0,0583

0312

0000

Соседние файлы в папке Они дневники 13 - 14 2011-12