2. Исследование влияния вторичной эмиссии на токораспределение между анодом и второй сеткой.

- Вывести регуляторы напряжения всех источников питания (кроме напряжения накала U_н) в положение, соответствующее минимальным напряжениям. Положение регулятора U_н не следует изменять!

- Переключить тумблер Т₃, подсоединив сетку С₂ к источнику питания В₂ и обеспечив тетродный режим работы ламы.

- Снять зависимости I_к, I_а, I_с2, от U_а при U_с1= +30 В и U_с2= +250 В. Анодное напряжение U_а изменять в пределах 0…300 В. При этом в диапазонах напряжений 0…20 В и 210…260 В измерения вести через 5 В, а в остальных областях  через большие интервалы. График зависимости строится на миллиметровке непосредственно в процессе измерений.

V. Обработка полученных результатов

1. По данным п. 2 разд. IV построить зависимость коэффициента токопрохождения q=f(I_а/I_к) от отношения U_а/U_с и определить по экспериментальным данным отношение (U_а/U_c)_гр (соответствующее переходу от режима возврата к режиму перехвата). Для этого следует линейно экстраполировать крайние части обеих ветвей кривой токораспределения до их пересечения и абсциссу полученной точки пересечения принять за искомую величину.

VI. Отчет

Отчет по работе составляется индивидуально каждым и должен содержать только следующее:

- Титульный лист с названием работы, датой выполнения, фамилией и группой автора, фамилией преподавателя.

- Схему включения исследуемого прибора для каждого раздела задания.

- Графики снятых зависимостей с названиями согласно заданию.

- Результаты обработки полученных данных.

- Выводы, содержащие сопоставление полученных в работе результатов с ожидаемыми согласно сведениям из литературных источников.

.

Лабораторная работа № 5

Движение электронов в скрещенных Е - и В - полях

I. Цель работы

Экспериментальная проверка соотношений, вытекающих из уравнения движения электрона в постоянных скрещенных электрическом и магнитном полях.

II. Предварительное задание

1. Используя [4, (7.24)] , рассчитать и построить параболу критического режима для коаксиального диода, диаметр анода которого равен 10 мм, а диаметр катода равен 0,1 мм. Расчет провести для значений В, лежащих в интервале 0... 0,025 Тл.

2. Подготовить ответы на следующие вопросы:

- Направление сил, действующих на электрон в скрещенных электрических полях в различных точках его траектории [5].

- Качественный вид зависимостей анодного тока экспериментального диода от тока электромагнита, построенных на одном графике.

III. Объект исследования и измерительное оборудование

Объект исследования  вакуумный прямонакальный коаксиальный диод, находящийся в продольном магнитном поле (рис. 1). Диод имеет цилиндрический анод 1 и прямонакальный катод 2. Охранные кольца 4 служат для уменьшения неоднородности электрического поля у торцевых частей анода, создавая эффект бесконечно длинного анода. При включении диода в схему на охранные кольца подается тот же потенциал, что и на цилиндрический анод, а ток измеряется только в цепи анода. Диод помещен между полюсами N и S постоянного электромагнита, создающего равномерное магнитное поле, направленное вдоль оси анода.

Измерения проводятся на установке, блок-схема которой приведена на рис. 2. Источником анодного напряжения является стабилизированный блок питания У1136. Анодное напряжение измеряется вольтметром V₁, анодный ток – миллиамперметром мА₁. Напряжение накала подается от регулируемого источника H и измеряется вольтметром V₂. Магнитное поле создается электромагнитом, который питается от второго стабилизированного блока У1136. Ток в цепи электромагнита измеряется

Рис. 1

Рис. 2

миллиамперметром мА₂. Величину магнитной индукции в рабочей области диода можно определить по градировочной кривой электромагнита, имеющейся на лабораторном стенде.