- •Глава 1. Электронно-лучевая литография 4
- •Глава 2. Типы приборов, наиболее подходящие для электронно-лучевой литографии. 15
- •Глава 3. Ограничения электронно-лучевой литографии. 22
- •Введение
- •Глава 1. Электронно-лучевая литография
- •1.1 Формирование рисунка электронным лучом.
- •1.2 Методы репродуцирования.
- •1.3. Совместимые процессы.
- •1.4 Преимущества литографии с высокой разрешающей способностью.
- •Глава 2. Типы приборов, наиболее подходящие для электронно-лучевой литографии.
- •2.1 Зависимость параметров от размеров элементов.
- •Глава 3. Ограничения электронно-лучевой литографии.
- •3.1 Ограничения, связанные с резистом.
- •3.2 Настоящее и будущее технологии.
- •Заключение.
Содержание
ВВЕДЕНИЕ 1
Глава 1. Электронно-лучевая литография 4
1.1 ФОРМИРОВАНИЕ РИСУНКА ЭЛЕКТРОННЫМ ЛУЧОМ. 4
1.2 МЕТОДЫ РЕПРОДУЦИРОВАНИЯ. 11
1.3. СОВМЕСТИМЫЕ ПРОЦЕССЫ. 13
1.4 ПРЕИМУЩЕСТВА ЛИТОГРАФИИ С ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЬЮ. 14
Глава 2. Типы приборов, наиболее подходящие для электронно-лучевой литографии. 15
2.1 ЗАВИСИМОСТЬ ПАРАМЕТРОВ ОТ РАЗМЕРОВ ЭЛЕМЕНТОВ. 18
Глава 3. Ограничения электронно-лучевой литографии. 22
3.1 ОГРАНИЧЕНИЯ, СВЯЗАННЫЕ С РЕЗИСТОМ. 23
3.2 НАСТОЯЩЕЕ И БУДУЩЕЕ ТЕХНОЛОГИИ. 26
ЗАКЛЮЧЕНИЕ. 32
Введение
В последние два десятилетия происходило исключительно быстрое развитие технологии и областей применения микроэлектроники. Микроэлектроника достигла уровня, в настоящее время определяющего практически все аспекты гражданской и военной электронной аппаратуры. Микроэлектроника **, в частности интегральные схемы, уже вызвала глубокие изменения в самых различных областях техники — ЭВМ, управляющих систем в промышленности, электроники военного применения, наручных часов, автомобилей и фотоаппаратов. Существенно уменьшены, особенно в последние годы, размеры микроэлектронных приборов, улучшены их характеристики: например, схемы на транзисторах могут работать с рабочей частотой свыше 1 ГГц, хотя еще сравнительно недавно ставилась -задача достичь частоты 10 МГц.
Несмотря на столь быструю эволюцию, во многих областях требуются еще более высокие параметры (в частности, меньшая потребляемая мощность и большее быстродействие) и большая функциональная плотность компонентов; во всех случаях необходимы более высокая надежность и меньшая стоимость. Чтобы удовлетворить эти требования, в микроэлектронной промышленности вынуждены внедрять новейшие методы обработки, изготовления и управления (контроля) технологическими процессами. Одним из наиболее перспективных способов достижения этих целей является уменьшение размеров приборов — создание ИС с повышенной функциональной плотностью компонентов. Такие ИС позволяют увеличить рабочую частоту и снизить потребляемую мощность. Повышение выхода годных структур, связанное с уменьшением размеров кристаллов (при сохранении большого числа выполняемых функций), приводит к снижению стоимости и предположительно к повышению надежности.
Таким образом, увеличение функциональной плотности является и целью, и стимулом развития технологии. Современный процесс оптической ФЛ может быть назван краеугольным камнем технологии изготовления ИС. Однако в ряду основных технологических процессов изготовления ИС фотолитография характеризуется наименьшим выходом годных. Помимо этого, ФЛ как метод формирования рисунка не может обеспечить требуемых параметров и функциональной плотности компонентов в разработке новейших микроэлектронных приборов. Поэтому необходим новый, отличный от ФЛ процесс формирования рисунка, которому в свою очередь требуются новые дополняющие технологические процессы. Для достижения желаемых параметров, стоимости и надежности необходимы также сложнейшие методы технологического контроля в сочетании с автоматизацией процессов изготовления и управления ими с помощью процессоров.
Большими возможностями для решения перечисленных задач обладают разные виды излучений с большой энергией, в частности электронное, ионное и лазерное [7, 9—11, 62]. Так, ионные пучки можно применять для внедрения атомов примеси в полупроводник в дополнение к диффузии или взамен нее. С помощью электронного луча можно формировать рисунок в слое резиста. В настоящее время для этого применяют фотолитографию. С помощью лазерного и электронного лучей можно проводить отжиг дефектов кристаллической структуры пластин с лучшими результатами, чем в высокотемпературных печах. Преимуществом использования в технологических процессах и для исследовательских целей пучков (особенно пучков заряженных частиц) является их способность производить то же действие, какое обеспечивают традиционные методы, но качественно иным путем.
Поэтому можно ожидать существенных изменений получаемых результатов, и эти ожидания оправдываются на практике.
Например, лазерные лучи и ионные пучки успешно применяются для подгонки номиналов пленочных резисторов и ионного легирования соответственно.
Электронный луч можно применять для создания рисунков с меньшими размерами и лучшей разрешающей способностью по сравнению с самым совершенным фотолитографическим процессом. Есть основания считать, что достаточно скоро удастся ослабить действие факторов, ухудшающих выход годных структур, снизить плотность дефектов в структуре и создать электронно-лучевые установки (ЭЛУ) для экономически эффективного производства приборов. Технология ЭЛЛ выходит из стен лаборатории и внедряется в производство, она дает начало новому поколению литографических процессов и высокоэффективных средств для изготовления микроэлектронных приборов.
Цель этой книги — описать технологические процессы и оборудование для литографии с высокой разрешающей способностью, используемые при изготовлении микроэлектронных приборов, а также определить ее место в общем технологическом цикле.
