- •Методология научных исследований и словарь машиностроителя
- •1.Введение
- •1. Научные исследования и инновации
- •2. Методологические основы научного познания и творчества
- •2.1. Основные понятия и определения
- •2.2. Методы познания, теоретических и экспериментальных исследований
- •3. Направления научных исследований и этапы научно-исследовательских работ
- •4. Научно-техническая информация
- •5. Патентная информация
- •6. Тема и объект исследований
- •7. Методика исследований
- •8. Теоретические исследования
- •9. Экспериментальные исследования
- •10. Исследование методом моделирования
- •10.1. Физическое моделирование
- •10.2. Математическое моделирование
- •10.3. Другие методы моделирования
- •10.4. Вычислительный эксперимент
- •10.5. Основные положения теории подобия
- •11. Обработка результатов экспериментальных исследований.
- •11.1. Основные положения теории случайных погрешностей.
- •11.2. Представление результатов параллельных измерений.
- •11.3. Доверительный интервал и доверительная вероятность.
- •11.4. Минимальное количество измерений
- •11.5. Исключение грубых ошибок.
- •12. Основные положения корреляционного и регрессионного анализа
- •13. Графическая обработка результатов эксперимента
- •13.1. Общие положения
- •13.2. Методы подбора эмпирических формул
- •13.3. Метод средних отклонений
- •13.4. Метод наименьших квадратов
- •14. Планирование и обработка результатов многофакторного эксперимента
- •14.1. Общие положения и основные понятия.
- •X1, x2, x3, …, xn – входные основные факторы;
- •14.2. Построение линейных планов полного и дробного факторного экспериментов
- •14.2.1. Полный факторный эксперимент (пфэ)
- •14.2.2. Дробный факторный эксперимент (дфэ)
- •14.2.3. Свойства матриц пфэ и дфэ
- •14.2.4. Проведение и обработка результатов эксперимента.
- •14.3. Поиск оптимума
- •14.3.1. Метод Гаусса-Зайделя
- •14.3.2. Метод градиента
- •14.3.3. Метод крутого восхождения
- •14.3.4. Симплексный метод
- •14.3.5. Оптимизация при наличии ограничений.
- •Литература.
- •Приложение 2
- •2.1. Задание
- •2.2. Критерий грубых ошибок Груббса βmax
- •2.3. Значения коэффициента Стьюдента
- •2.4. Значения Fm – критерия Фишера при 5% уровне значимости
- •2.5. Критерий Кохрена
11.2. Представление результатов параллельных измерений.
Результаты параллельных измерений удобно представлять в виде ряда распределения, для чего их разбивают на равномерные интервалы, которые называются «бинами», и располагать в порядке возрастания или убывания измеряемой величины с указанием соответствующих частот или частостей.
Частота (mi) – это количество результатов измерений (эксперимента), попавшие в данный интервал (бин).
Частость (pi) – отношение частоты к объему всей выборки
.
Число интервалов (бинов) существенно влияет на характер графика распределения. Поэтому очень важно правильно выбрать число бинов. График будет лучше отражать распределение погрешностей (более информативным), если в каждый бин попадет несколько результатов измерения. С увеличением объема выборки (N) необходимо увеличивать количество бинов, т.е. делать интервалы разбивки более узкими. Ширина интервала
,
где Xmax, Xmin - максимальное и минимальное значение измеряемой величины в выборке, ω – поле рассеяния, n – число бинов.
Ширина интервала выбирается постоянной. Число бинов, рекомендуемое для данного числа измерений, можно определить по табл.2, составленной на основании накопленного опыта.
Таблица 2
Рекомендации по выбору числа бинов
Число измерений, N |
40…100 |
100…500 |
500…1000 |
1000…10000 |
Число бинов, n |
6…9 |
8…12 |
10…16 |
12…24 |
После определения количества бинов рассматривают каждое число выборки, адресуют его в соответствующий бин и суммируют количество измерений в каждом бине.
Далее подсчитывают частоты или частость для каждого интервала и наносят эти данные на график в виде гистограммы (изображение прямоугольниками) или полигоны (ломаной линии).
Пример: Результаты измерения диаметра 100 деталей (N = 100) микрометром (точность 0,01 мм) приведены в табл.3.
Выбираем число бинов n = 10, Хmax = 20,35 мм, Xmin = 20,00 мм.
;
;
.
Таблица 3
Размер, мм |
20,00 |
20,03 |
20,04 |
20,05 |
20,06 |
20,07 |
20,08 |
20,09 |
20,10 |
20,11 |
20,12 |
20,13 |
20,14 |
20,15 |
Количество деталей |
1 |
1 |
1 |
1 |
2 |
2 |
2 |
2 |
2 |
2 |
3 |
4 |
5 |
5 |
|
20,16 |
20,17 |
20,18 |
20,19 |
20,20 |
20,21 |
20,22 |
20,23 |
20,24 |
20,25 |
20,26 |
20,27 |
20,28 |
20,29 |
|
5 |
5 |
7 |
3 |
3 |
5 |
5 |
6 |
5 |
4 |
3 |
4 |
3 |
3 |
|
20,30 |
20,31 |
20,33 |
20,35 |
|
3 |
1 |
1 |
1 |
Распределяем результаты измерений по 10 бинам.
Таблица 4
Интервал отклонений от размера 20 мм в мм |
Частота mi |
Частость pi |
0,00...0,035 |
2 |
0,02 |
0,035...0,07 |
5 |
0,05 |
0,07...0,105 |
7 |
0,07 |
0,105...0,14 |
14 |
0,14 |
0,14. ..0,175 |
15 |
0,15 |
0,175...0,21 |
18 |
0,18 |
0,21... 0,245 |
16 |
0,16 |
0,245... 0,28 |
14 |
0,14 |
0,28...0,315 |
7 |
0,07 |
0,315...0,35 |
2 |
0,07 |
|
|
|
Гистограмма и полигона, распределения отклонений диаметра для 10 и 20 бинов приведены на рис.7.
С увеличением числа измерений N до бесконечности полигона превращается в плавную кривую или функцию распределения, которая описывает предельное распределение случайной величины. Наиболее часто встречаются следующие типы функций распределения случайной величины: нормальное, островершинное, двухвершинное, трапецеидальное (типа «шапо»), равномерное (рис.8).
mi
20
15
10
5
0
pi
0,2
0,15
0,1
0,05
0
гистограмма
полигона
0,035
0,07
0,105
0,14
0,175
0,21
0,245
0,28
0,315
0,35
a) n = 10
Х, мм
Х, мм
0,035
0,07
0,105
0,14
0,175
0,21
0,245
0,28
0,315
0,35
pi
0,15
0,1
0,05
0
б) n = 20
Рис.7. Гистограмма и полигона распределения отклонений диаметра 20 мм при числе бинов: а) n = 10; б) n = 20
f(x)
f(x)
f(x)
f(x)
f(x)
0
0
0
0
0
а)
б)
в)
г)
д)
x
x
x
x
x
Рис.8. Типы функций распределения случайной величины:
а) нормальное, б) островершинное, в) двухвершинное, г) трапецеидальное, д) равномерное.
В технологии машиностроения большинство кривых распределения можно аппроксимировать законом нормального распределения (Гаусса-Ляпунова) (рис.9).
,
где
σ
и
–
параметры закона нормального
распределения. Площадь под кривой
нормального распределения в пределах
соответствует вероятности того, что
результаты эксперимента попадут в
данный интервал. Эта площадь характеризуется
интегралом вероятности
,
Его величина колеблется в пределах
y
x
0
x1
x2
σ
σ
Рис.9. Кривая нормального распределения.
Кривая нормального распределения асимптотически приближается к оси абсцисс. Для технических расчетов вполне допустимо ограничить поле рассеяния пределами ±3σ (от значения ). При этом площадь под кривой в этих пределах составляет 99.73% площади, ограниченной всей кривой, т.е. за пределами площади 6σ будет находится только 0.27% всей площади.
Оценку соответствия результатов измерения закону нормального распределения ведут по одному из следующих показателей:
по среднему абсолютному отклонению (САО);
по размаху варьирования;
по показателю асимметрии и эксцесса;
по критерию Пирсона (χ2 );
по критерию Колмогорова-Смирнова (КС).
Для небольших выборок (N < 120) используют САО.
При законе нормального распределения должно соблюдаться неравенство, установленное экспериментально
.
