- •Мсти - конспект лекций модуля № 3 "Основы прикладной метрологии"
- •Лекция № 8. Средства измерений
- •8.1. Средства измерительной техники
- •8.2. Обобщенная структура си, ее элементы
- •8.3. Нормируемые метрологические характеристики си
- •8.4. Погрешности си
- •8.5. Выбор си по критериям точности и производительности
- •Лекция № 9. Государственное регулирование обеспечения единства измерений (гроеи)
- •9.1. Эталоны. Эталонная база рф
- •4.5. Поверочная схема. Поверка и калибровка
- •9.3. Цели и задачи гроеи
- •9.4. Сфера распространения гроеи
- •9.5. Правовая, техническая и организационная подсистемы гроеи
- •Лекция № 10. Государственное регулирование обеспечения единства измерений (окончание)
- •10.1. Утверждение типа, поверка, калибровка си
- •10.2. Государственные научные метрологические институты
- •10.3. Государственная метрологическая служба
- •10.4. Метрологическое обеспечение производства
- •Лекция № 11. Нанометрология
- •11.1. Наноразмерные объекты метрологии
- •11.2. Средства измерений нанообъектов
- •11.3. Метрологическое обеспечение нанометрологии
- •11.4. Структура организации работ по нанотехнологиям в рф и в миэт
11.4. Структура организации работ по нанотехнологиям в рф и в миэт
В составе Международной организации по стандартизации создан Технический комитет ИСО/ТК 229 "Нанотехнологии", который провел свое первое заседание в 2005 г. Первоочередные задачи ТК - разработка международных стандартов на термины и определения, методы испытаний и измерений, стандартные образцы состава и свойств, моделирование процессов, аспекты использования нанообъектов в медицине и биологии, безопасность и воздействие на окружающую среду.
В России подобные задачи решаются в рамках Технического комитета по стандартизации ТК 441 "Наукоемкие технологии", секретариат которого ведет Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (НИЦПВ) Ростехрегулирования. В ТК 441 входят подкомитеты:
ПК 1 "Нанотехнологии";
ПК 2 "Квантоворазмерные эффекты в наукоемких технологиях";
ПК 3 "Термины и определения";
ПК 4 "Методы и средства обеспечения единства измерений в нанотехнологиях";
ПК 5 "Нанотехнологии в микроэлектронике";
ПК 6 "Материалы, структуры и объекты нанотехнологии";
ПК 7 "Нанотехнологии и наноиндустрия".
Согласно Федеральной целевой программы "Развитие инфраструктуры наноиндустрии РФ на 2008-2010 гг." должен быть создан Центр метрологического обеспечения продукции и технологий наноиндустрии, который будет представлять собой распределенную по регионам систему центров коллективного пользования (ЦКП), образованных при государственных научных метрологических центрах.
В МИЭТе в 2003 году создан ЦКП "Нанотехнологии в электронике" (руководитель центра - доктор физико-математических наук профессор Владимир Кириллович Неволин). Сотрудниками центра были созданы экспериментальные образцы элементов наноэлектроники на основе углеродных нанотрубок, в том числе нановаристоры, нанотранзисторы, инвенторы.
В составе МИЭТа с 2007 г. начал работу ЦКП "Диагностика и модификация микроструктур и нанообъектов". Его руководитель - доктор физико-математических наук профессор Николай Иванович Боргарт.
