- •Реферат
- •Содержание
- •Введение
- •1. Физико-химические основы прямого получения кремния для солнечной энергетики
- •1.1 Способы очистки кремния
- •1.2 Выращивание мультикристаллического кремния
- •1.3 Электрофизические свойства кремния для солнечной энергетики
- •1.4 Растворимость примесей в кремнии
- •1.5 Физико-химическое моделирование
- •2.Методики исследования
- •2.1Электрофизические измерения
- •2.2 Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой
- •3.Экспериментальная часть
- •3.2 Элементный анализ слитков мультикристаллического кремния методом масс-спектроскопии исп-мс
- •Теоретический анализ.
- •Постановка задачи на нахождение эффективных коэффициентов распределения примесей
- •4.2 Постановка задачи на нахождение
- •5. Обсуждение результатов
- •5.1 Расчёт эффективных коэффициентов распределения примесей
- •5.2 Построение физико-химической модели
5. Обсуждение результатов
5.1 Расчёт эффективных коэффициентов распределения примесей
Поскольку погрешности определения микроконцентраций примесей в слитке являются существенными, то распределение Пфанна (см. форм.4.1) также приводится при С0±Δ, гдеΔ погрешность, указанная в методике ИСП-МС для соответствующего интервала значений концентраций по конкретному элементу (прил.1). Дело в том, что погрешность в определении на порядки большего значения исходной концентрации примеси существенно ниже погрешности определения концентрации данной примеси в слитке, тем более, что значение С0 пересчитаны исходя из состава лигатуры, добавляемой в полупроводниковый кремний. Значение коэффициента распределения примеси подбиралось таким, чтобы аппроксимирующие кривые (1) при С0-Δ и при С0+Δ не выходили за границы интервалов, в которых находится погрешность измерения концентрации примеси в нижней и верхней частях слитков. В прил.4 приведены распределения примесей Ge, Mn, Co,Fe, Ni, V в слитке №3, показывающие результат влияния диффузионного переноса вещества. Также в прил.2,3,5 приведены распределения примесей Ge, Mn, Co,Fe, Ni, Vв слитках №1, №2, №4.
Немонотонное
изменение концентрации по мере увеличения
закристаллизовавшейся доли f на некоторых
графиках (см. прил.4) может быть связано
с локальными колебаниями концентрации
примеси в пограничном слое при неполном
перемешивании расплава в режиме свободной
конвекции. Также на локальные особенности
диффузионного пограничного слоя
оказывает влияние механизм роста
кристалла. Кремний на границе
кристалл-расплав имеет как атомно-гладкие
плотноупакованные поверхности [11], так
и атомно-шероховатые (любые другие
кристаллографические плоскости.) Сильное
переохлаждение
4К
на гранях [11] вызывает большие скорости
тангенциального роста.
В таблице приведены эффективные коэффициенты распределения примеси германия и группы железа. Прочерки в табл. 8 связаны с пределами обнаружения примесей, либо просто отсутствием данных по содержанию конкретного элемента.
Таблица 8
Эффективные коэффициенты распределения примесей при выращивании mc-Siиз MG-Si[9] и на основе загрузок №1-4
|
Fe |
Ni |
V |
Ge |
Mn |
Co |
mc-Si из MG-Si [9] |
0,0004 |
0,0015 |
- |
- |
0,002 |
- |
mc-Si из загрузки №1 |
0,002 |
0,006 |
0,00004 |
0,33 |
0,001 |
0,00001 |
mc-Si из загрузки №2 |
0,025 |
0,012 |
0,002 |
0,33 |
0,03 |
0,0005 |
mc-Si из загрузки №3 |
0,03 |
0,015 |
0,0012 |
0,33 |
0,017 |
0,0002 |
mc-Si из загрузки №4 |
0,05 |
0,02 |
0,003 |
0,33 |
0,035 |
0,0006 |
Высокие
значения эффективных коэффициентов
распределения отдельно взятых примесей
группы железа по сравнению с соответствующими
равновесными равновесных коэффициентов
распределения
обусловлены неравновесными условиями
роста [16]. Когда концентрации достаточно
высоки, то между примесными частицами
начинается взаимодействие в твёрдой
фазе, которое ведёт к зависимости
коэффициента распределения табл.8 от
концентрации табл.3. Объяснить её можно
тем, что внедрение примесной частицы в
решётку, уже деформированную другой
частицей, требует большой работы, чем
внедрение в недеформированную решётку.
Это упругое взаимодействие уменьшает
растворимость в кристалле и уменьшает
коэффициент распределения, начиная с
некоторых концентраций. В результате
чего коэффициент распределения при
больших концентрациях примеси уменьшается
[18]. Когда линии ликвидус и солидус в
области малых концентраций практически
прямолинейны, то k
не зависит от С0. По табл.3 и 8 это можно
наблюдать для примеси Ge,
образующим с кремнием непрерывный ряд
твёрдых растворов. Также видно, что
указанной выше закономерности не
соответствует значение примеси Mn
авторов работы [9]. Вероятно, что существует
некая особенность физико-химического
взаимодействия различных примесей при
встраивании их в кристаллическую
структуру слитка, характеризующаяся
вопреки рассуждениям выше. Кроме того,
при сопоставимых соотношениях градиента
температуры к скорости кристаллизации
MG-Si
(G/V=4*
K*c/
)
и кремния состав №1-4 (G/V=3,6*
K*c/
),
имеется различие в тепловом поле и в
геометрии системы тигель-расплав-кристалл
табл.2. В частности, вогнутая форма
кристаллизации способствует захвату
примеси в растущем кристалле[15].
В
целом чтобы не происходило возрастание
эффективного коэффициента распределения
примеси, необходимо снижать значение
её конвективно-диффузионного параметра
V
/Dза
счёт: а) снижения скорости кристаллизации
V;
б) иного внешнего воздействия на
тепломассоперенос для увеличения
градиента температуры Gна
границе раздела фаз и уменьшения тем
самым толщены диффузионного слоя
.
