5.324 Измерение плоскостности оптическими методами
5.324.1 Измерение при помощи автоколлиматора
Прямые линии, определяющие базовую плоскость, задают при помощи оптической оси автоколлиматора в двух положениях, по возможности, под углом 90° друг к другу. Затем применяется метод, описанный в 5.212.22.
Базовая плоскость измерения определяется направлениями осей ОХ и ОY. Таким образом, например, для измерения ОА, O"А" и СВ оптическая ось автоколлиматора должна быть параллельна ОХ (см. рисунок 44).
5.324.2 Измерение при помощи поворачиваемого оптического угольника
Средства измерения: поворачиваемый оптический угольник (визирная труба с пентапризмой)
Базовая плоскость задается центрами трех базовых визирных марок (А, В и С), размещенных по периферии измеряемой поверхности (см. рисунок. 49).
1 - поворачиваемый оптический угольник; 2 - четвертая метка
Рисунок 49
Оптический угольник следует выставить по базовым маркам так, чтобы оптическая ось его зрительной трубы была перпендикулярна к базовой плоскости, а четвертую визирную марку использовать для измерения положения любой точки проверяемой поверхности (см. А.12)
5.324.3 Измерение с помощью монтажного лазера
При этом методе с помощью сканирующего модуля и источника лазерного излучения создают базовую плоскость. Для измерений отклонений используют фотоэлектрический датчик, установленный на измеряемой поверхности (см. рисунок 50 и А.13).
1 - источник лазерного излучения; 2 - сканирующий модуль; 3 - четырехквадрантный фотоэлектрический датчик (перемещаемый)
Рисунок 50
5.324.4 Измерение с помощью лазерной измерительной системы
Топография контролируемой поверхности строится на основе контроля прямолинейности различных линий путем измерения угловых отклонений (см. А.13).
Типовая последовательность измерения этим методом показана на рисунке 51, где линии с 1 по 8 показаны схематично.
1 - первое поворотное зеркало; 2 - лазерная головка; 3 - дистанционный интерферометр и устройство отклонения луча; 4 - второе поворотное зеркало; 5 - стойка с отражателями; 6 - поверочная линейка; 7 - опорные точки (шаг измерения)
Рисунок 51
Рисунок 52 - График в изометрии
Измерение осуществляется последовательно шагами вдоль линий с 1 по 8. Полученные результаты измерения следует проанализировать и для наглядности построить график в соответствии с рисунком 52.
Примечание - Лазерный луч регулируется по горизонтали в желаемом направлении путем настройки поворотного зеркала. Это, однако, может повлиять на направление лазерного луча в вертикальной плоскости.
5.4 Параллельность, эквидистантность и соосность
В этом разделе рассмотрены методы измерения следующих геометрических параметров:
- параллельность линий и плоскостей (см. 5.41);
- параллельность перемещения (см. 5.42);
- эквидистантность (см. 5.43);
- соосность, совмещение или выравнивание (см. 5.44).
5.41 Параллельность линий и плоскостей
5.411 Определения
Линия считается параллельной плоскости, если при измерении расстояния от этой линии до плоскости в различных точках максимальное отклонение, измеренное на определенной длине, не превышает допустимого значения.
Две линии считаются параллельными, если одна из них параллельна двум плоскостям, пересечением которых является другая линия. При этом допустимые отклонения не обязательно одинаковы в обеих плоскостях.
Две плоскости считаются параллельными, если при измерении расстояние от этих плоскостей до базовой плоскости в различных точках по меньшей мере в двух направлениях разность между максимальным и минимальным размерами, полученными в результате измерений на определенной длине, не превышает допустимого значения.
Эти разности определяются в заданных плоскостях (горизонтальной, вертикальной, перпендикулярной к измеряемой поверхности, пересекающей проверяемую ось и т.п.) в пределах заданной длины (например, «на длине 300 мм» или «по всей поверхности»).
Примечание - Отклонение от параллельности определяют как разность расстояний от расчетной прямой линии (или плоскости), представляющей базовую прямую (или плоскость), до точек другой прямой линии (или плоскости). При этом результат может зависеть от того, какая прямая или плоскость выбрана в качестве базы.