- •Основні показники мікроелектроніки
- •Основні показники інтегральних мікросхем
- •Загальна схема технологічного процесу виробництва імс
- •Фізичні особливості тонких плівок.
- •Методи виготовлення тонких плівок
- •Катодне розпилення.
- •Реактивне розпилення
- •Літографія
- •Фотолітографія
- •Ренгенолітографія
- •Електронолітографія
- •Проектування гібридних інтегральних схем гіс.
- •Розрахунок і конструювання елементів гіс.
- •Розрахунок товсто плівкових резисторів.
- •Тонкоплівкові конденсатори
- •Топологічне проектування
- •Епітаксія.
- •Нова схемотехніка біполярних віс
- •Самостійно: порівняння схем, Підручник, 549-552.
- •Квантові технології електронної техніки
- •1. Генерація носіїв заряду и рекомбінація носіїв заряду
- •Інверсне заселення рівнів
- •Параметри окг.
- •Принцип дії, властивості та області застосування окг.
- •Твердотільні лазери
- •Напівпровідникові окг
- •Лазери з електронним накачуванням енергії
- •Принципи створення лазерів нового покоління.
- •1. Іонізація – це процес створення окремих електричних зарядів. Таким випромінюванням є:
Проектування гібридних інтегральних схем гіс.
Основні етапи проектування.
1. Аналіз ТЗ. Основна мета – розробка плану проектування. ТЗ містить всі данні вихідні по елементам мікросхеми, рекомендована технологія.
2. Описування технологічного заданого процесу. Треба описати в записці основні етапи технологічного процесу і обрати варіанти їх виконання.
3. Розрахунок елементів і вибір компонентів.
4. Розробка топології – основний етап проектування, взаємне розташування елементів і компонентів. Задає властивості мікросхем.
5. Вибір корпусу та схеми з’єднань.
Конструкторсько-технологічні особливості. Цей етап зв’язаний з аналізом ТЗ. Вихідні данні проектування: 1). Схемотехнічні данні та вимоги, необхідня для подальшого проектування. До них відноситься схема електрична, принципова;2). перелік елементів і компонентів з їх параметрами і характеристика. Ці данні показані у специфікації. 3). Умови експлуатації.
Технологічні данні – описання обраної технології. необхідно підкреслити можливу точність виготовлення елементів. Ця властивість заданна у вихідних даних похибкою.
Технологічні обмеження. Перш ніж почати роботу необхідно вивчити цей розділ методички.
Конструкторські вимоги: контактні площадки можуть монтуватись по 2. Не всі площадки можуть бути задіяними. Крок розташування площадок відповідає ряду
Розрахунок і конструювання елементів гіс.
Тонкоплівкові резистори. Типові конструкції тонко плівкових резисторів мають такий вигляд.
а – смужка; б – система смужок; в – меандр.
Розрахунок конструкції. Розрахунок повинен визначити тип конструкції, геометричні розміри з метою здобуття резистора мінімальної площі. Резистор повинен задовольняти вимогам Р розсіювання і гама р.
Вихідні данні – це р іте(Ом), допуск у відсотках, потужність розсіювання(мВт), робочий діапазон температури, технологічні обмеження.
Послідовність розрахунку:
розбиваємо всі резистори на групи за номінальним значенням опору. Принцип такого розподілу мінімальна різниця опору між резисторами даної групи. На приклад: сотні ом, одиниці кілоом, десятки кілоом.
розраховуємо питомий опір(оптимальне значення) для кожної групи 1,2,3 з точки зору мінімальної площі для кожної групи.
за додатком (див табл.. матеріалів тонко плівкових резисторів) обираємо матеріал резистивної плівки для кожної групи резисторів з ро с найближчим до ро с оптимальним.
перевіряємо правильність вибору матеріалу з погляду точності виготовлення резистора.При цьому відносна похибка. Гамма ро с залежить від умов напилення і матеріалу плівки. Розрахувати цей параметр майже не можливо, тому він задається із експериментальних міркувань не більш 5%. Температурна похибка гама т залежить від ТКО. Похибка старіння обирається через коефіцієнт старіння на температуру. Коефіцієнт старіння визначає тимчасову нестабільність опору і обирається з таблиці 1.
05.03.12
Якщо 6 дає негативний результат, то такий резистор неможливо виготовити з обраного матеріалу. Необхідно обрати інший матеріал із меншими значеннями гамма, ро с, альфа р, і гамма р старіння; або необхідно в ТП ввести операцію підгонки опору.
Визначаємо коефіцієнт форми. За значенням коефіцієнта форми обирають конструкцію резистора: якщо коефіцієнт форми 1-10 – це смужка – рисунок А. Якщо коефіцієнт форми знаходиться в межах 1-50 – це складна форма меандр, Кф в межах 0,1 – 1 – смужка, резистор з Кф менш 0,1 - проектувати не рекомендується за великі КП, велика площа резистора.
Розрахунок резистора Кф 1-10
Визначаємо мінімальну ширину резистора за умовами: б розрахункове повинне бути не менше максимальних значень таких величин: б технологічне(мінімальне значення ширини з міркувань технологічних можливостей – див. тех.обмеж), якщо б менше – беремо Б мінімум, таке як сказано у обмеженнях; б точне – мінімальне значення ширини, що забезпечує задану точність виготовлення; дельта б і л – відносні похибки ширини і довжини, що залежать від методу виготовлення, береться в частках одиниці. Обираємо б розрахункове найближче до цього значення, кратного кроку координатної сітки(див. обмеження). Наприклад для тонко плівкової технології якщо крок 1мм, то при масштабі 20:1 округлення робимо до 0,05мм.
Л розрахункове б*Кф. Згідно цієї форми за довжину л приймають найближче до розрахункового більше ціле значення кратне кроку координатної сітки з урахуванням масштабу креслення топології. Повна довжина резистора буде розрахована за формулою 11
л+2Лк
Лк – перекриття резистора контактною площадкою. Це маскова технологія. При фотолітографії л повне = л за формулою 11.
Для резистора з Кф менш 1 ми спочатку розраховуємо довжину, а потім ширину.
Перевірка правильності розрахунків. Р0 – задане значення, Р0/ - значення з наших розрахунків.
Меандр.
