- •Материалы и компоненты наноэлектроники Лабораторный практикум
- •Реценты:
- •Лабораторная работа №1 Получение пористого кремния методом электрохимического травления Цель работы:
- •1. Физико-химические основы анодного травления кремния
- •1.1. Основные особенности анодного растворения кремния
- •1.2. Механизмы анодного растворения кремния
- •1.2.1 Механизм анодного растворения кремния по Тарнеру
- •1.2.2. Механизм анодного растворения кремния по Меммингу и Швандту
- •1.2.3. Гидридный механизм анодного растворения кремния
- •1.2.4. Механизм анодного растворения кремния в разбавленных растворах hf
- •2. Методика получения пористого кремния методом электрохимического травления
- •2. 1. Подготовка образцов к электрохимическому травлению
- •2.1. 1. Формирование подложки.
- •2.1.2. Химическая обработка.
- •2.1.3. Формирование омического контакта.
- •2.1.4. Определение площади активного травления.
- •2.2. Расчет режимов электрохимического травления и состава электролита.
- •2.3. Описание электрохимической ячейки и процесса анодирования
- •3. Порядок проведения работы и указания по технике безопасности
- •4. Методика обработки и представления результатов измерений
- •5. Требования к отчёту
- •6. Контрольные вопросы и задания.
- •Лабораторная работа №2 Определение степени пористости кремниевых структур весовым методом (6ч). Цель работы
- •1. Методы определения степени пористости
- •2. Методика подготовки образцов к электрохимическому травлению и описание электрохимической ячейки
- •3. Порядок выполнения работы и указания по технике безопасности
- •4. Методика обработки и представления результатов
- •5. Требования к отчету
- •6. Примерные контрольные вопросы и задания для допуска и сдачи работы
- •2. Схема измерения вах
- •3. Методика подготовки образцов к электрохимическому травлению и описание электрохимической ячейки
- •4. Порядок выполнения работы и указания по технике безопасности
- •5. Методика обработки и представления результатов
- •6. Требования к отчету
- •7. Литература
- •Лабораторная работа №4 Обработка и количественный анализ сзм изображений (4ч). Цель работы
- •1. Теоретические основы обработки и количественного анализа сзм изображений
- •Количественный анализ сзм изображений
- •2. Задание на выполнение работы
- •3. Методические указания к выполнению работы
- •2. Варианты заданий
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
- •5. Литература
- •Лабораторная работа №6 Метод получения нано-размерных островковых структур инконгруэнтным испарением Цель работы
- •1. Физико-химические основы метода
- •2. Вывод базовых соотношений определения брутто-характеристик процесса формирования островковых пленок инконгруэнтным испарением
- •3. Основные положения феноменологической модели роста островков
- •4. Определение максимальной высоты островка в процессе роста
- •Лабораторная работа № 7 Получение газопоглощающих покрытий методом магнетронного распыления Цель работы:
- •1. Теоретические основы метода
- •1.2. Конструкции магнетронных распылительных систем
- •2. Оборудование и материалы
- •3. Порядок выполнения работы и указания по технике безопасности
- •3.2. Проведение измерений
- •3.3. Проведение экспериментальных и теоретических расчетов параметров процесса магнетронного распыления
- •4. Оформление результатов работы
- •5. Контрольные вопросы
- •7. Литература
- •Лабораторно-практическая работа № 8 Моделирование вах одноэлектронного транзистора Цель работы:
- •8.1. Базовая теория кулоновской блокады
- •8.3. Задание на выполнение работы
- •8.4. Вопросы на защиту
- •Литература
- •5. Часть 2. Одноэлектронный транзистор
- •8.3. Задание на выполнение второй части работы
- •Дополнительная литература
1.2. Механизмы анодного растворения кремния
1.2.1 Механизм анодного растворения кремния по Тарнеру
Чтобы объяснить экспериментальные данные, в частности накопление на кремниевом аноде коричневой аморфной плёнки и выделение водорода на участке 1, Дж. Тарнером [6,4] впервые был предложен ряд электрохимических и химических уравнений реакций растворения кремния при его анодной поляризации в концентрированных растворах HF. До критической плотности тока анодное окисление кремния по Тарнеру происходит до фторида кремния (II), а не до его оксида, как предполагал А. Улир и другие учёные:
Si
+
2HF + ne+
SiF2
+
2H+
+
(2 – n)e–, (1.1)
где по заключению авторов [3] n = 2.
Фторид кремния (II), образующийся как промежуточный продукт, неустойчив и быстро диспропорционирует по химической реакции (курсив – газообразное состояние)
2SiF2 Si + SiF4 (1.2)
Фторид кремния (IV) – газ, но из раствора он не выделяется, очевидно, из-за достаточно быстрой его реакции с HF:
SiF4 + 2HF H2SiF6 (2.28)
Кремний, накапливающийся на аноде в виде пористой пленки, медленно реагирует с водой, выделяя водород:
Si
+ 2H2О
SiO2
+
2H2 (1.3)
Оксид кремния быстро растворяется в концентрированных растворах HF:
SiO2 + 6HF H2SiF6 + 2H2O (1.4)
По Д. Тарнеру, пленка кремния растет на поверхности кремния потому, что она медленно реагирует с водой и, кроме того, в концентрированных растворах HF скорость подвода молекул воды к поверхности анода может оказаться недостаточной. В области электрополирования (участок 2) процесс анодного растворения кремния слагается:
1) из суммарной электрохимической реакции анодного окисления кремния, механизм которой аналогичен механизму Геришера (рис. 2.4):
Si + 2H2O + ne+ SiO2 + 4H+ + (4 – n)e–, (1.5)
где n = 4 [32];
2) из суммарной химической реакции растворения окcида:
SiО2 + 6HF H2SiF6 + Н2O (1.6)
1.2.2. Механизм анодного растворения кремния по Меммингу и Швандту
Р. Мемминг и Г. Швандт [3], в отличие от Д. Тарнера, во-первых, пришли к заключению, что обильное выделение H2 при анодной поляризации кремния нельзя объяснить одной медленной реакцией кремния с водой (1.3). Используя данные анализа выхода по току, они приняли, что около 40 % неустойчивых молекул SiF2, образующихся в концентрированной HF в начальный период (участок 1), диспропорционируют по реакции (1.2), а около 60 % их превращаются в H2SiF6 по другой реакции:
SiF2 + 2HF H2 + SiF4; SiF4 + 2HF H2SiF6 (1.7)
или
SiF2 + H2O H2 + SiOF2; SiOF2 + 4HF H2SiF6 + H2O (1.7а))
Во-вторых, для реакции (2.26), т. е. для анодного окисления кремния до Si (II) в концентрированных растворах HF (рис.1.1, участок аb), они предложили детальную схему:
(1.8a,b,c,d)
где
(Si)n
– внутренние
атомы кремния; …
– одноэлектронная
связь; – и
= – одинарная и двойная ковалентная
связь;
– электрон; :
– два неcвязанных
электрона. Р. Мемминг и Г. Швандт [26]
предположили, что стадия а
(1.8а)
начинается на поверхности, покрытой
cвязанным фтором ("фторидная"
поверхность) и идет с участием пазона
(дырки) е+.
При подходе пазона к поверхности кремния
(уход валентного электрона в объём
полупроводника) за счет приложенного
электрического поля одна ковалентная
связь Si–Si ослабляется (обозначено как
…).
Для полного разрыва этой ковалентной
связи (стадия b)
необходима определенная энергия
активации и чтобы одна из дырок достаточно
долго задерживалась у соответствующего
объёмного атома кремния. По аналогии
со схемой Геришера (рис. 1.1) стадия b
(2.26,b)
ими указана как стадия, определяющая
скорость всей электрохимической реакции
(1.1). После разрыва связи образующийся
радикал кремния, т. е. вышедший на
поверхность атом кремния с одной
разорванной связью, немедленно реагирует
с молекулой HF, которых в концентрированном
растворе HF должно быть достаточно
(стадия с).
Разрыв другой (последней) ковалентной
связи, по-видимому, протекает быстро
из-за неустойчивости группы –SiF2
и идет с участием
пазона (стадия d).
Для кремния р-типа при его анодной поляризации в растворе с 10 моль/л HF и 0.5 моль/л NH4F ими было найдено, что в области плотностей тока
10–6…10–3А/см2 наклон тафелевского участка составляет b = dU /d lg i = 0.06 В. Используя это значение наклона и предполагая участие в стадии, определяющей скорость электрохимической реакции (1.1) только одного пазона, они определили коэффициент переноса . = 0.059/nb = 1 (n – число пазонов) и сделали вывод, что перенапряжение полностью падает в ОПЗ кремния р-типа, а не в слое Гельмгольца. Однако с таким заключением трудно согласиться, поскольку в кремнии р-типа не должно наблюдаться обеднения пазонов. Более вероятно, что в этих условиях падение напряжения сосредоточено в слое Гельмгольца, а число зарядов е+, участвующих в контролирующей стадии реакции (1.1), может достигать двух при . = 0,5.
Возможно, анодное окисление кремния до Si (II) идет с образованием двойных связей =Si = Si = и димерных частиц по реакции типа (1.3).
