5. Хід виконання роботи
Лабораторна робота виконується згідно з отриманим завданням (Додаток Б).
При аналізі світлопольних зображень необхідно заповнити таблицю 5.1.
Таблиця 5.1
Аналіз світлопольних зображень
Варіант |
Мікроструктура |
Структурні складові |
Розмір зерна (або рейок), мкм |
Щільність дислокацій, см-2 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
|
|
|
|
|
При розрахунку мікродифракційної картини необхідно заповнити таблицю 5.2.
Таблиця 5.2
Розрахунок мікродифракційної картини
Варіант |
Постійна приладу, Åмм |
Обміряні відстані r, мм |
Міжплощинні відстані, d, Å |
(hkl) |
[uvw] |
|
раз, ° |
||
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
||
|
|
r1 |
|
d1 |
|
|
|
|
|
r2 |
|
d2 |
|
|
|||||
r3 |
|
d3 |
|
|
|||||
об,
°
При аналізі темнопольних зображень необхідно заповнити таблицю 5.3 та побудувати гістограму розподілу розмірів часток другої фази або товщини міжрейкових проміжків від їх кількості (дивись рис. 4.2).
Таблиця 5.3
Аналіз темнопольних зображень
Варіант |
Мікроструктура |
Кількість часток або міжрейкових проміжок |
Розмір часток або товщина міжрейкових проміжок, мкм |
1 |
2 |
3 |
4 |
|
|
|
|
Додаток А
МІЖПЛОЩИННІ ВІДСТАНІ ДЕЯКИХ РЕЧОВИН
Міжплощинні відстані α-заліза
Кристалічна структура: оцк;
Параметр елементарної комірки: а0=2,866 Å
(hkl) |
d, Å |
(hkl) |
d, Å |
(hkl) |
d, Å |
(hkl) |
d, Å |
011 |
2,027 |
013 |
0,906 |
114 |
0,676 |
233 |
0,611 |
002 |
1,433 |
222 |
0,828 |
033 |
224 |
0,585 |
|
112 |
1,170 |
123 |
0,766 |
024 |
0,641 |
015 |
0,562 |
022 |
1,013 |
004 |
0,717 |
|
|
134 |
Міжплощинні відстані γ-заліза
Кристалічна структура: гцк;
Параметр елементарної комірки: а0=3,585 Å
(hkl) |
d, Å |
(hkl) |
d, Å |
(hkl) |
d, Å |
(hkl) |
d, Å |
|||||||
111 |
2,070 |
133 |
0,823 |
044 |
0,634 |
335 |
0,547 |
|||||||
002 |
1,793 |
024 |
0,802 |
135 |
0,606 |
226 |
0,541 |
|||||||
022 |
1,268 |
224 |
0,732 |
006 |
0,598 |
444 |
0,518 |
|||||||
113 |
1,081 |
333 |
0,690 |
244 |
117 |
0,502 |
||||||||
222 |
1,035 |
115 |
026 |
0,567 |
155 |
|||||||||
004 |
0,896 |
|
|
|
|
|
|
|||||||
Міжплощинні відстані цементиту (Fe3C)
Кристалічна структура: орторомбічна;
Параметри елементарної комірки: а0=4,524 Å, b0=5,088 Å, c0=6,741 Å
(hkl) |
d, Å |
(hkl) |
d, Å |
(hkl) |
d, Å |
(hkl) |
d, Å |
001 |
6,742 |
111 |
3,022 |
120 |
2,218 |
211 |
1,976 |
010 |
5,088 |
012 |
2,810 |
201 |
2,145 |
202 |
1,878 |
100 |
4,524 |
102 |
2,703 |
121 |
2,107 |
113 |
1,872 |
011 |
4,061 |
112 |
2,387 |
210 |
2,067 |
122 |
1,853 |
101 |
3,757 |
021 |
2,380 |
013 |
2,056 |
212 |
1,762 |
110 |
3,381 |
200 |
2,262 |
022 |
2,031 |
030 |
1,696 |
002 |
3,371 |
003 |
2,247 |
103 |
2,013 |
220 |
1,691 |
Додаток Б
Б 1. Світлопольні зображення
Номер варіанту |
Зображення |
1 |
|
2 |
|
3 |
|
Номер варіанту |
Зображення |
4 |
|
5 |
|
6 |
|
Номер варіанту |
Зображення |
7 |
|
8 |
|
9 |
|
Номер варіанту |
Зображення |
10 |
|
11 |
|
12 |
|
Б 2. Мікро дифракційні карти
Номер варіанту |
Зображення |
1 |
|
2 |
|
3 |
|
Номер варіанту |
Зображення |
4 |
|
5 |
|
6 |
|
Номер варіанту |
Зображення |
7 |
|
8 |
|
9 |
|
Номер варіанту |
Зображення |
10 |
|
11 |
|
12 |
|
Б 3. Темнопольні зображення
Номер варіанту |
Зображення |
1 |
|
2 |
|
3 |
|
Номер варіанту |
Зображення |
4 |
|
5 |
|
6 |
|
Номер варіанту |
Зображення |
7 |
|
8 |
|
9 |
|
Номер варіанту |
Зображення |
10 |
|
11 |
|
12 |
|
СПИСОК ВИКОРИСТАНИХ ДЖЕРЕЛ:
Большаков В.И., Сухомлин Г.Д., Погребная Н.Э. Атлас структур металлов и сплавов. – Дн-вск: Gaudeamus, 2001. – 115 с.
Методичні вказівки до лабораторних робіт з курсу «Фізико-хімічні методи аналізу»/ В.І. Большаков, Г.Д. Сухомлин, Д.В. Лаухін, О.В. Бекетов, О.О. Чайковський – Дніпропетровськ, ПДАБтаА, 2005. – 16с.
Методичні вказівки до лабораторних робіт з курсу Фізико-хімічні методи аналізу. Безпосередні методи препарування зразків для електронномікроскопічних досліджень/ В.І. Большаков, Г.Д. Сухомлин, Д.В. Лаухін, О.В. Бекетов, О.О. Чайковський, В.І. Куксенко – Дніпропетровськ, ПДАБтаА, 2006. – 27с.
Утевский Л.М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении. М.: Металлургия, 1973 – 584с.
Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгенографический и электронномикроскопический анализ. М.: Металлургия, 1970 – 368с.
Эндрюс К., Дайсон Д., Киоун С. Электронограммы и их интерпритация. М.: Мир, 1971 – 256с.
Большаков В.И.,Сухомлин Г.Д., Лаухин Д.В. Атлас металлов и сплавов. Учебное пособие. ГВУЗ «Приднепровская государственная академія строительства и архитектуры», 2010 г. – 174 с.
Словник термінів
безпосередні |
прямые |
дійсний розмір |
действительный размер |
електронномікроскопічні дослідження |
электронномикроскопические исследования |
міжплощинні відстані |
межплоскостные расстояния |
мікродифракційна картина |
микродифракционная картина |
обміряний лінійний розмір |
измеренный линейный размер |
опосередковані |
косвенные |
розрішаюча спроможністю |
разрешающая способность |
світлопольне зображення |
светлопольное изображение |
темнопольне зображення |
темнопольное изображение |
товщина фольги |
толщина фольги |
щільність дислокацій |
плотность дислокаций |