
- •Мета фотолітографії. Схема її технологічного процесу.
- •Практичнi способи проведення дифузiї: дифузія з використанням рідинних джерел домішки.
- •Рентгенопроменева літографія.
- •Методи вивчення характеристик дифузiйних шарiв.
- •Методи нанесення фоторезистів.
- •Фiзичнi основи процесу термiчної дифузiї
- •Суміщення та експонування
- •Автоепiтаксiя кремнiю хлоридним та силановим методами.
- •Проекційна електронолітографія.
- •Загальна характеристика iонної імплантації
- •Фiзичнi основи процесу іонної імплантації.
- •Іонна літографія.
- •Фоторезисти. Означення, порівняльна характеристика негативних та позитивних фоторезистів.
- •Фоторезисти. Означення, порівняльна характеристика негативних та позитивних фоторезистів.
- •Практичнi методи проведення iонної iмплантацiї
- •Молекулярно-променева епiтаксiя.
В1
-
Мета фотолітографії. Схема її технологічного процесу.
Суть процесу літографії полягає в тому, що чутливі до світла фоторезисти наносяться на поверхню підготованої підкладки і піддаються дії випромінювання (експонування). Використання спеціальної скляної маски з
прозорими та непрозорими полями (фотошаблону) приводить до локальної дії випромінювання на фоторезист, а отже і до локальної зміни його властивостей. При подальшому дії певних хімікатів відбувається усунення з
підкладки ділянок плівки фоторезисту, які піддались освітленню (проявлення). Таким чином, із плівки фоторезисту створюється захисна маска з рисунком, який повторює рисунок фотошаблону. На останній стадії здійснюється травлення поверхневого шару підкладки на
незахищених ділянках.
-
Практичнi способи проведення дифузiї: дифузія з використанням рідинних джерел домішки.
На рисунку 2.2 приведена схема установки для рідинних джерел домішок
При використанні рідинних джерел домішки, якими як правило служать галогеніди, установка для дифузії має одну високотемпературну зону – кварцеву піч 1 (800-1200˚С). Довжина труби, в якій містяться підкладки дорівнює 40 –60 см, діаметр ~20 см.
Для випаровування рідинного джерела достатньо підтримувати його температуру в інтервалі 20 – 40˚С.
Рисунок. 2.2. Схема установки дифузії для рідинних джерел домішок:
1 – трубчата піч;
2 – кварцева труба;
3 – підкладки;
4 – посудина з рідким джерелом домішки.
Найбільш широке вокористання в якості джерела знайшли галогеніди фосфору та бору (трихлористий фосфор PCI3, хлорокись фосфору POCl3, трибромистий бор BBr3).
В кварцеву трубу направляється три потоки газу:
1) основний потік азоту або аргону зі швидкістю 1000 см3/ хв;
2) слабий потік цього ж газу зі швидкістю 10 см3/ хв, цього ж газу, який попередньо пройшов через рідке джерело;
3) слабкий потік кисню зі швидкістю 15 см3/ хв.
При використанні рідинних джерел наявність кисню у складі газу-носія має принципове значення, оскільки приводить до утворення оксидів домішки. Так для BBr3 у зоні дифузії проходять наступні хімічні реакції:
-
4 BBr3 + 3 О2 = 2 В2О3 + 6 Br2
-
Si + О2 = SiО2
При взаємодії оксиду кремнію з оксидом бору утворюється сполука типу
-
m В2О3*n SiО2 – боросілікатне скло.
На поверхні кремнію виділяється бор з боросілікатного скла і при реакції
-
3 Si + 2 В2О3= 2 SiО2 + 4В
йде виділення дифундуючого в кремній бора.
-
Аналогічно проходять реакції для PCI3, POCl3, які використовують для дифузії фосфора:
-
4 PCI3 + 5 О2 = 2 Р2О5 + 6 CI2
-
4 POCl3 + 3 О2= 2 Р2О5 + 6 CI2
-
Si + О2 = SiО2
-
2Р2О3 + 5 Si = 5 SiО2 + 4 Р
-
m Р2О5∙n SiО2 - фосфоросілікатне скло.
-
Розглянуті хімічні реакції супроводжуються утворенням галогенідів, які здатні травити поверхню кремнію, а самі по собі є отруйними газами.
-
При достатньому вмісті кисню (~ 7L 10 %) травлення кремнію не відбувається завдяки росту кількості SiО2.
-
Недоліком дифузії є те, що і самі джерела і продукти реакції являються отруйними речовинами.
В2