
Основы наноелектроники / Основы наноэлектроники / ИДЗ / Книги и монографии / Нанотехнологии (Пул), 2005, c.325
.pdf
стенок и внешним диаметром одностенной и многостенвой нанотрубок и зна чениями сопротивления для случал, когда медная или вольфрамовая ПРОБОЛока диаметром 100нм и длиной 500нм заменяется углеродной нанотрубкой. Что бы получить значение сопротивления, эквивааевтное значению еопротивлевия обычной медной проволоки, необходимо использовать одностенную углеродную нанотрубку с наружным диаметром не более 2 нм. С многостенной углеродной ненотрубкои, например, двухстенной. наружный диаметр должен быть не бо лее Знм. Другими словами, необходимо вырастить углеродную нанотрубку с внешним диаметром 2им, либо Зим, иезависимо от того, является ли она од ностенной или многостенной.
Технология выращивания нанотрубок |
технояогня изготовяения |
||
- |
КОffIJЮJlЬ положенИIl |
ПОЛУПРОВОДННКОВЫХ приборов |
|
- |
контроль плотиости |
- |
сопротивление контакта |
- |
контроль направлении роста |
- |
траалеине |
- |
контроль хирвяьности |
- лerиpoвание |
|
- |
рост при визкой температуре |
- |
пассиваЦИ.II и Т.Д. |
CNT
|
|
|
|
|
Двухстенная |
Рис. Д.2.2. Применевие уг |
0,1 |
|
|
|
|
нанотрубка |
леродных нанотрубок в каче |
|
|
|
|
|
|
стве электрических контак |
|
|
|
|
|
|
тов (ДЛЯ технологии 45 ИМ) |
0,5!lm |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
('нмД)- |
3 |
|
|
|
|
2 |
4 |
6 |
10 |
20 |
внешний диаметр нанотрубки (ИМ)
На рис. Д.2.З показава зависимость между наружным диаметром и шири ной запрещенной зоны одностенной углеродной нанотрубки. Только одностенная углеродная ванотрубка демонстрирует характеристики, похожие на характери стики полупроводника. Можно заметить, что одностенная углеродная нанотру6 ка может иметь разную ширину запрещенной зоны: 1,5 эВ, как у арсенада галлия, приблизительио lзВ, как у кремния или 0,7 зВ, как у германия, в зависимости от различий В диаметре. Однако, из вышеприведенных значений становится ясно, что ширина запрещенной зоны изменяется уже при возрастании диаметра иа нотрубки всего на 0,1 нм, что вызывает необходимость жесткого контроля диа метра одностенной углеродной нанотрубки с точностью приблизительно 0,1 нм
Д.2.3. Подходфирмы ULVAC J<: У2Аеро!Жым uauотруб?С1Ш ~
для того, чтобы получить желаемую ширину запрещенной зоны. В данной ста тье следует отметить, что большое внимание должно уделяться контролю числа стенок нанотрубки и наружного диаметра, но имеется и множество других па рвметров, типа хиральности (которую можно определить как тип закрученной спирваи, либо через вектор хиральности}, длины, направления, положения роста
и других парвметров, контролирующих характеристики углеродных нанотру
бок, при этом, для того, чтобы углеродные нанотрубки можно было применять в технологии полупроводников, необходимо тщательно контролировать каждый
из этих параметров.
|
Аrrивно синтезируе,мые одиостенн:-,е углеродные нанотрубки |
||
Рис. Д.2.3. |
$' 1,5' |
Шириназаврешеннов |
|
|
|||
|
е |
|
ЗОНЫ как у GaAs |
|
i |
|
!ририна запрещенной |
|
|
зоны как у кремввя |
|
|
liI!t |
|
- Ширина запрещенной |
|
!f-'-f |
зоны как у германия |
|
|
" o,"-I-+--- |
+--+--+- |
|
|
! оОА~.~.. |
IiIi.IIi".!Um:Щ1,2 |
Д.2.З. Подход фирмы ULVAC к углеродным нанотрубкам
Фирма ULVAC разработала и начала серийное производство систем для нанесе ния алмазных пленок или алмазоподобных углеродных пленок. В 1999г. фирма ULVAC разработала и приступила к серийному производству системы для оса ждения углеродных нанотрубок на подложках диаметром 1 дюйм (25 мм) (Мо дель CN-CVD-I00). Серия CN-CVD - линейка систем, разработанных для выра щивания углеродных нанотрубок методом плазменного эпитаксиадьного осажде ния из газовой фазы. Модели называются CN-CV-l00, CN-CV-400, и CN-CV-800, где номер модели представляет диаметр подложки в дюймах, умноженный на 100, то есть модель CN-CVD-I00 предназначена для работы с подложками диа метром 1 дюйм (25,4мм), а модели CN-CVD-400 и CN-CVD-800 для работы с подложками диаметром 4 дюйма (около 100мм) И 8 дюймов (около 200мм), со ответственно. Модель CN-CVD-800 теперь используется для выращивания мно гостенвых углеродных нанотрубок на всей поверхности подложки диаметром 8 дюймов, что является самым большим диаметром подложки для наиотрубок, объявленным за последнее время. Модель GN-CVD-300 - система для роста гра фитовых нанотрубок методом химической газофазной элитаксии на подложках
.раамером с лист бумаги формата А4 (294 мм х 210мм).
На рис.Д.2.4 покаэвна принципивльная схема модели CN-CVD-I00. Метод осаждения нанотрубок: 1) в камеру реактора подают технологический газ (ме-
Д.2.4-. ТребованlJ.Я 11: оборудованию дл.я nрименеtш.я уг.ltеродных uаuотрубоn d
Д.2.4. Требования к оборудованию для применения углеродных нанотрубок в полупроводниковой
технологии
Исследователи ДОЛЖНЫ иметь возможность контролировать параметры, кото рые влияют на характеристики нанотрубок и только с такой точки зрения рас сматривать требования к техническому заданию на систему по выращиванию нанотрубок. В этой связи компания ~ULVAC» испытывает также другие тех нологии выращивания навоз-рубок, кроме вышеупомянутого метода химической газофазовой элитаксии в СВЧ-поле.
Источник углерода
111
Частица металлическо
каталиu.тора
Рис. Д.2.6. Механизм роста углеродных нанотрубок
Для того, чтобы контролировать наружный диаметр углеродной нанотрубки, также необходимо иметь оборудование для изменения формы и толщины ката литической металлической поверхности, либо использовать мельчайшие частицы с заранее заданным диаметром. Необходимо иметь возможность выращивания точно заданного количества углеродных нанотрубок в точно заданном месте, и с точно заданными длиной и диаметром.
Рис. Д.2.7.
Д.2.5. Заключение
Изученные к настоящему времени характеристики углеродных нанотрубок уже
позволяют утверждать, что они намного иревосходят аналогичные карактери
.стики обычных материалов. Однако, механизм роста углеродных нанотрубок
еще не совсем ясен, и для внедрения нанотрубок в полупроводниковую техноло гию может потребоваться долгое время.

C::~ Дополнение2
Рис. Д.2.8. Нанотрубки, изготовленные методом ){КМИ'lеСIIDi! газефазовой эпитаксии и химической ra.зoфaзовой
апитеясии 11 поле ВЫСОКОЙ частоты
|
~ |
Нанотрубки, вэготовлеяные методом |
Термически |
химической газефазовой элятаксив в плазме |
|
|
||
изготовленные |
|
|
нанетрубки |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Одностенная |
Многостенная |
|
|
\ |
|
|
|
|
||||
|
|
нанетрубка |
нанотрубка |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
Обычные нанетрубки |
|
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
Мноroслоi!:fIIUI пвжетнрованнвя |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
вовическвв нанmpyбка |
||||
Высокая скорость эмиссии при слабых электрических ПОЛЯХ |
• При ИСI!OJIЬЭОвании |
|
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ыeтaIlJIllчеCJCOIi Пoд'lОЖXJI |
||||
1.E-02 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
• |
• • • |
|
|
|||
г.в-оэ |
|
|
|
|
|
• |
• |
• |
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
1.Е-04 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1.E-05 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1.Е-06 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
• |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1.Е-О7 |
О |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
5 |
|
|
2 |
|
3 |
4 |
||||||||||
1 |
|
Напряженность злектричесюзго ПОЛЯ (ВJMКМ)
Рис. Д.2.9. Эмиссионные характеристики