Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Скачиваний:
18
Добавлен:
14.06.2020
Размер:
8.14 Mб
Скачать

6~ [лава 9. Квантовыеямы,nровОЛQкииточкu

плотности тока от напряжения для GaAs/AlGaAs фотодетектора на переходах «связанное состояние - непрерывная ЗОНа», а на рис. 9.22 представлена зависи­

мость чувствительности такого детектора от длины ВОЛНЫ для нормального паде­

ния и падения под углом 45". Чувствительность достигает максимума на длине волны 9,4 мкм. На рис. 9.23 "оказана зависимость этой пиковой чувствительнос­ ти от приложенного напряжения смещения. Рабочее напряжение смещения в 2 В при получении экспериментальных кривых на рис. 9.22было выбрано из-за того, что, как хорошо ВИДНО на рис. 9.23, чувствительность при этом напряжении достигает максимума, а, следовательно, слабо зависит от напряжения. Рабочий диапазон длин волн такого детектора находится между 8,5 и 10 МКМ.

9.6.2. Лазеры на квантовых точках

Инфракрасныедетекторы, описанныев предыдущемпараграфе, основаны на су­ ществованиидискретного спектра энергетическихуровней квантовыхям, между которымии происходятиндуцируемыеинфракраснымизлучениемпереходы. Ра­ бота лазера также основана на наличии дискретного спектра уровней, то есть уровней, между которыми могут происходитьиндуцированныелазерные перехо­ ды. Слово лазер (laser) является аббревиатурой от light amplification Ьу stimulated emission, то есть «усиление света при вынужденном излучении». Свет, излучае­ мый лазером, монохроматичен и когерентен. Сконструировано множество нано­ масштабных лазеров на квантовых ямах и .квантовых проволоках. В них электро­

ны проводимости локализованы на дискретных энергетических уровнях в одном

ИЛИ двух измерениях соответственно. Гибридные лазеры основаны на «точках в яме», например, квантовых точках InAs, находящихся в квантовой яме из InGaAs. Другая конструкция использует то, что называется InAs квантовыми штрихами, то есть очень короткими квантовыми проволоками, или, С другой точ­ ки зрения, вытянутыми в одном направлении квантовыми точками. Этот пара­ граф посвящен обсуждению лазеров на квантовых точках, в которых локализация

имеет место по всем трем измерениям.

Для работы обычного лазера необходимо наличие среды, содержащей атомы с дискретными уровнями энергии, между которыми могли бы происходить лазер­ ные переходы, а также механизма создания инверсной заселенности уровней, при которой на более высокоэнергетичном уровне накапливается большее коли­ чество электронов, чем находится на лежащем ниже. В гелий-неоновом лазере ак­ тивными являются атомы неона в присутствии атомов гелия, в Nd-YAG твердо­

тельном лазере активные атомы - это замещающие атомы неодима (с концентра­ цией около 1019 см-З) В кристалле иттрий-алюминиевого граната. В описываемом

ниже лазере квантовые точки играют роль активных атомов.

На рис. 9.24 показана схема конструкции лазера на квантовых точках на ос­ нове диода, выращенного на не показанной на рисунке подложке из GaAs Л-111­ па. Верхний металлический слой контактирует с лежащим под ним слоем арсе­ нида галлия. Между этим верхним контактом и не показанной снизу подложкой

9.6. Прияожения 2~

w

InO.5Gao.SДs QD

Рис. 9.24. Схематическое изображение лазера на квантовых точках в ближнем ИК диапазоне. Врезка снизу показывает детали структуры области 190-нано­

метрового волновода, находяшегося между слоями ЛJо 85Gao !5Лs и со­

держащего 12 монослоев II105Gao5As квантовых точек' (обоЗначенных QD), генерирующихлазерное'излуЧение.

~9 МКМ х 1020 МКМ

:3"

160

Т=295К,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

~

 

 

 

 

 

 

 

 

~

 

 

 

 

 

 

 

 

Х

 

 

 

 

 

 

 

 

3

120

Ilh::=4.1 Мд

 

 

 

 

 

 

О

Х

О

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

~~

 

 

 

 

~

80

 

!~

 

1.. 4.8мА

i

 

 

 

 

 

 

 

иХ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

o~

 

 

 

 

g

40

 

 

 

 

 

 

~"

 

 

 

 

~

 

 

 

 

 

 

 

 

"

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1.26 1.30

1.34

1.38

 

 

~(a)

 

 

 

 

Длина ВОЛНЫ, мкм

=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

О

10

20

 

 

30

40

 

О

 

 

ТОК, МА

Рис. 9,25. Зависимость выходной мощности в ближнем ИК диапазоне от тока для лазера на квантовых точках, покаэанного на рис. 9.24, в режиме непре­ рывной генерации и излучения через боковую грань при комнатной тем­

пературе.

~~ Гпава 9. Квантовыеямы, проволокииточки

'"'

103~-----------~

 

находится пара обкладок ТОЛЩИНОЙ

 

2 мкм ИЗ ~о,85GЗо,lsAs, а между НИЫИ

~

Lc = 5040MJ(М

 

 

 

 

 

 

 

расположен волновой канал толщиной

~

10'

 

 

 

190 им из Ala osG!1o 9#'Этот ВОЛНОВОД

~

 

 

 

 

 

 

 

I

 

 

 

играет роль проводника излучаемого

 

 

 

света к выходным-окнам на границах

 

 

 

структуры. Посрединеволновода(тем­

 

 

 

ная горизонтальнаяполосана рисунке,

i

-

-

W",59МКМ

 

помеченнаяQD) находится слой ОaЛs

--··W",29МКМ

 

 

 

 

 

 

толщиной30 им, в котором лежат 12 1010-

100

200

 

 

нослоев квантовых-точек из 1110 sGIlo SAS

зоо

"

Температура, К

сконцентрацией 1,5· 101a CM-l. На H~­

Рис. 9.26. Зависимость критической плот­

ней врезке к рисунку более подробно

ности тока от температуры для лазера на

показана структура волновода. Длина

квантовыхточках, показанного нарис. 9.24,

Lc и ширина W может меняться от об­

в импульсном режиме излучения через бо­

разца к образцу в диапазоне от 1 до

 

 

 

 

 

ковую грань.

 

 

 

5 мм, а W - от 5 до 60 мкм. Торцы ла-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

зера покрыты высокоотражающим

(>

95 %) слоем из ZnSejMgF2возвращающим большую часть излучения для

усиления вынужденной генерации. Свет покидает лазер через боковые стороны

структуры.

Зависимость ВЫХОДНОЙ МОЩНОСТИ лазера от протекающего тока в непрерыв­ НОМ режиме излучения при комнатной температуре показана на рис. 9.25 (для об­ разца размерами Le = 1,02 мм и W= 9 мкм). При силе тока немного выше поро­ гового значения 4,1 МА, отмеченного на рисунке стрелкой (а), излучение лежит в ближней ИК области на длине волны 1,32 мкм, что показано на врезке. Порого­ вея плотность тока резко возрастает при температурах выше 200 К, что показано на рис. 9.26 для импулъеного режима.

9.7. Сверхпроводимость

Некоторые свойства сверхпроводникованалогичны свойствам квантовыхточек, проволоки ям. это происходит,в частности, из-затого, что масштабих характер­ ных длин А. и g, перечисленных в Таблице 9.6, лежит в ианометровой области. В этой таблице также приведены значения критической температуры Те, ниже ко­ торой материал переходит в сверхпроводящее состояние, то есть его электричес­ кое сопротивление становится равным нулю. Большинство перечисленных в таб­ лице значенийА. и gлежит в области 200 нм И менее, а некоторые составляют и ме­ нее 6 нм. Глубина проникновения А. - это расстояние, на которое внешнее магнитное поле Ворр может проникатъ в сверхпроводник 1рода. Магнитное поле не проникает в объем сверхпроводника первого рода, а поле большее критического значения Ве вызывает обратный переход сверхпроводника в нормальное состоя­

ние. Сверхпроводимость в материале возникает при образовании связанных элек-

9.7. Сверхпроводимость ~

тронных состояний, называемых куперовскими парами, размер которых сравним с длиной когерентности .;. Таким образом, эти куперовские пары, являющиеся

носителями сверхпроводящего тока, можно рассматривать как наночастицы.

ThБJпщa 9.6. Температуры перехода То длина когерентности sи глубина проникно­ вения I для некоторых типичных сверхпроводников.

Тип сверх­

Вещество

 

провоАИМОСТИ

 

 

..1. {ММ}

 

 

0,56

 

Cd

I

760

110

"

 

,

3,4

360

40

 

I

7,2

82

39

РЬ

Pb-In сппав

11

7,0

30

150

Nb-N сплав

11

16

5

200

PbMo6S g

11

15

2

200

VзSi

11

16

3

60

Nbpe

11

23

3

90

КЗС6Q

11

19

2,6

240

для сверхпроводников второго рода существуют два критических значения магнитного поля, ВС) < ВС7., и три области в пространстве значений магнитиого поля с различным поведением. В малых магнитных полях Варр < ВС1 материал ве­ дет себя как сверхпроводник первого рода и полностью выталкивает магнитное поле, а в больших магнитных полях Варр >ВС2 материал возвращается в нормаль­ ное состояние. В промежуточных полях ВС1 < Варр < ВС2 поле проникает в объем образца в виде трубок магнитного поля, магнитный поток в каждой из которых

равен кванту магнитного потока

ФО

= -h = 2.0678 х 10-15 Тл > м2

(9.16)

 

 

у каждого вихря существует внутренняя часть, радиус которой составляег ё. Маг­ нитное поле в ней практически постоянно. Во внешней области радиусом А поле падает с расстоянием от центра вихря. На большом расстоянии поле спадает по экспоненциальному закону exp(-гД). Длина вихря равна толщине образца, обычно имеющей порядок сантиметров. Вихри, наблюдаемые с торца, образуют двумерную гексагональную решетку, схематически показанную на рис. 9.27. Цен­ тры внутренних областей вихрей находятся друг от друга на расстоянии d, вели­ чина которого в поле, близком к ВС1, близка к глубине проникновения А, а в по­ ле ВС2 - к длине когерентности .;. Вихри можно рассматривать как магнитный аналог квантовых проволок В том смысле, что они ограничивают один квант мат­ нитного потока в поперечном направлении, но не лимитируют длину. Попереч­ ные размеры внутренней области вихря лежат в нанометровом диапазоне, а дли­

на, как правило, в макроскопическом.

две области сверхпроводника, разделенные тонким слоем изолирующеro мате­ риала, образуют джозефсоновский переход. Эффект Джозефсона состоит в том,

что электрический ток через переход может течь и в отсутствие электрического

~ Глава 9. Квантовыеямы, проволокиu точки

о

 

о

о

о

о

о

о

о

и магнитногополей. Емкостьсверхма­

 

лога джоэефсоновскогоперехода пло­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

о

о

о

о

о

о

о

о

о

швдъю 0,01 мкм' и толщиной 0,1 им

о

 

о

о

о

о

о

о

о

можно оценить величиной С = eoA/d =

о

о

о

о

о

о

о

о о

= 10-15 Ф, а изменение потенциала при

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

туннелировани ОДНОГО электрона через

о

 

о

о

о

о

о

о

о

барьер - .1.у= ejC= 0,16 мВ, что состав­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 9.27. Двумерная гексагональная ре- щетка вихрей.

 

00

 

 

,,"

 

 

 

 

 

 

 

всо

 

 

ев

 

 

 

 

."

 

~

 

 

 

 

 

~

 

 

 

 

 

 

 

 

 

зоо

"

о

 

 

 

"-'

 

 

 

 

 

 

;:;Ii;

'"-"

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

юс

 

 

 

 

 

'"

 

-w_L,L-foc'-+.~~f:-"~~.

 

 

-0.3 -02 -0_1

1)

0_1 0.2

 

 

 

1>'&'" ,,", 1"&"" 1\/\

Напр~ениесмещения,В Рис. 9.28. Структура кулоновской лестницы

на трафике зависимости тока 1 и дифферен­ циальной проводимости dl/dV от напряже­ ния смещения на зернистой свинцовой пленкеджоэефсоиовскогоперехода.Видно, что первая ПРОИ3ВОДНая обеспечивает на­

много лучшее разрешениескачковтока.

ляег существенную дОЛЮ ТИПИЧНЫХ

значений напряжения на джозефсонов­ еком переходе. Это может оказаться до­ стаТОЧНЫМ для запирания дальнейшего

туннелирования электронов через пере­

ХОД, то есть для возникновения куло­

новокой блокады. На рис. 9.28 показана кулоновская лестница, образуюшвяся на вольтамперной характеристике джо­ зефсоновского перехода на основе зер­ нистой пленки свинца. Из этого рисун­ ка видно, что особенности лестницы

видны гораздо лучше, если рассматри­

вать график производной тока по на­ пряжению, а не самого тока. Такая ку­

лоновская лестница для сверхпровод­

ника аналогична гораздо более выраженной лестнице на рис. 9.18 для

одноэлектронного туннелирования на

квантовых точках.

Литература

M.S. Feld алd К. An, «Single Atom Laser», Sci. Аm. 57 (July 1998).

D.к. Ferry and S.M. Goodnick, Transport in Nanostrur:tures, Cambridge Univ. Ртезв, Cambridge, UK, 1997.

V.Оаврапап, М. Оrtunо, а. Schon and U. Simon, in Nalwa (2000), \Ь1. 2, Chapter 11.

D.Heitrnann and J.P. Kotthaus, «The Spectroscopy ofQuantum Dot Aпays~, Phys. Today 56 (1ипе 1993)

М. HeninJ, «Quanturn Dot Nanoslructures», Materials Today, 48 (June 2002) L. Jacak, Р. Hawrylak and А. \\bjs, QшmtumDots, Springer, Вегйп, 1998

L.P. Kouvenhovell алd P.L. МсЕиеll, .Sillgle EJectron Тгапвроп Through а Qualltum Dot~, [п NanotechnolQff!, О. 1imp ed., Springer, Весliп, 1999, Chapter 13.

H.S. Nalwa, ed., Handboaka/NanostructuredMa/erials and Nana/echnolagy, \Ь1. 1-5, Academic Ртее, Воыоп,

2000.

а. Park, О.В. Shchekin, S. СБиtak., D.L. Huffakeralld D.G. Оерре,Appl. Phys. Le/t. 75, 3267 (1999)

ГЛАВА 10.

САМОСБОРКА И КАТАЛИЗ

1О.1• Самасбарка

10.1.1. Процесс самосборкu

Белки - большие молекулы с молекулярными весами, составляющими десятки ТЫСЯЧ, найдены практически во всех клетках и тканях тела и играют для жизни ключевую роль. Они образуются последовательным соединением сотен амино­ КИСЛОТ, каждая из которых ПОДВОДИТСЯ к месту своего присоединения молекулой транспортной рибонуклеиновой кислоты (РНК) в порядке, предписанном моле­ кулой информационной РНК. По прибытии на место каждая аминокислота лег­ ко связывается с предыдущей. Таким образом последовательности аминокислот собираются в полипептидную цепь, которая непрерывно увеличиваясь в длине, в конце этого процесса становится белком. Этот тип самосборки, естественным образом протекающий во всех ЖИВЫХ системах, имеет свой аналог в нанонауке. Здесь также используют самопроизвольную организацию малых молекул в боль­ шие, строго определенные, стабильные молекулярные комплексы или агрегаты

и осаждение атомов или молекул на подложку с последующим самоупорядочени­

ем в полезные для разных приложений наноструктуры. Зачастую слабые обрати­ мые взаимодействия между частями молекул позволяют получать равновесные структуры без какого-либо централизованного управления процессом. Процеду­ ра автоматически исправляет ошибки, то есть ошибочно или неправильно при­ крепленные элементы могут быть заменены во время роста.

Традиционный органический синтез очень больших молекул, называемых макромолекулами, состоит из множества шагов, которые включают в себя разру­ шение и перестройку сильных ковалентных связей. Конечный результат и произ­ водительность в целом контролируются номенклатурой и кинетикой отдельных стадий. Выход такого синтеза обычно невелик. а ошибки не являются быстро распознаваемыми или исправляемыми. В противоположность этому, разносбоаз­ ные процессы самосборки используют слабые, нековалентные связывающие вза­ имодействия, например, водородные связи или силы Ван-дер-Ваальса, которые

позволяют реакциям идти под термодинамическим контролем с непрерывным

исправлением ошибок. Типов исходных молекул обычно немного, они неболъ­ шие и легко синтезируемые, а конечный продукт получается в гермединамичес­

ки равновесном состоянии.

10.1.2. Полупроводниковыеостровки

Один тип самосборки касается образования полупроводниковыхостровков, что осуществляется способом, называемым гетероэпитаксией. ОН заключается

~ Глава 10. Самосборкаикатализ

в осаждении материала, образующего островок на подложке, состоящей из друго­ го материала с близкой структурой и значением параметра решетки. Тетероэпитак­ сия широко используется как при проведении исследований, так и при промы-­ ленном изготовлении многих полупроводниковых устройств, превратившисъ, по существу, в хорошо развитую технологию. Она включает в себя доставку атомов

или молекул к поверхности подложки, где они могут принимать участие в одном

из трех npоцессов: а) адсорбции и диффузии по поверхности с образованием заро­ дыша островка путем соединения с другими адатомами, б) присоединении к суще­ ствующему островку, в) десорбции с испарением в окружающее пространство. Ма­

ленькие островки могут продолжать расти, мигрировать на другое место или испа­

ряться. Существует критический размер, при котором они становятся устойчивыми и больше не испытывают существенного испарения. Таким образом, есть начальная стадия формирования островков, когда их число с добавлением но­ вых порций материала увеличивается. За ней следует вторая, в течение которой ко­ личество островков стабилизируется, а существующие растут в размере. Наконец, есть стадия слияния, когда главными событиями являются объединения существу­ ющих островков друг с другом с образованием больших кластеров.

Различные стадии могут бытъ описаны аналитически в терминах скорости из­ менения dnjdt концентрацийиндивидуальныхадсорбоатомовn\, их пар n2, клас­ теров из трех атомов nз и так далее. Примером кинетического уравнения, лриме­ нимого в начальной стадии (стадии нуклеации) может служить следующее выра­ жение для изолированных атомов (Weinberg et al. 2(00)

~/

= (R.uu +

R.Ie, +

j ) - (~

+

R,,1Jf' +

lЯn

(10.1)

 

2R

 

 

где Rads - скорость адсорбции, Rdet

- скорость отделения атомов от кластеров

больших, чем пары, и R\ - скорость разрыва пар адатомов. Отрицательные члены соответствуют скорости испарения Rewp , скорости захвата индивидуальных вдато­ мов кластерами RCЩJ и скорости образования пар адсорбоатомов 2Ri. Коэффици­ ент 2 перед R] и Ri обусловлен участием двух атомов в каждом процессе пары. Аналогичные выражения могут быть написаны для скорости изменения числа пар dnJdt, и т.д. Некоторыеиз членовдля различныхскоростей R/ зависят от ко­ личества вещества на поверхности, поэтому уравнение (10.1) примеиимо, глав­ ным образом, в течение стадии нуклеации.

На второй стадии (агрегации) процент изолированных адагомов становится незначителъным, и рассмотрение в терминах свободной энергии может обеспе­ чить некоторое понимание npoцесса формирования островка. Рассмотрим МОТ­ ность свободной энергии Гиббса gSur-WfС между открытой поверхностью подложки и вакуумом, пяотностъ свободной энергии gsur-/ay между поверхностью и слоями алатомов и плотностьсвободной энергии g/ау-vш: между этими слоями и вакуумом. Они связаны с полной плотностьюсвободной энергии Гиббса соотношением

(10.2)

10.1 Самосборка ~

где е - доля аакрытой поверхности. При формировании и росте островков относи­

тельные вклады этих членов постепенно изменяются, и процесс роста развивается таким образом, чтобы обеспечить минимизацию свободной энергии. Этот подход может использоваться и для определения давления Ps = gsur-WIC - (gSlU'-/ау + gsur-WIC)' которое возникает из-за различия между свободной энергией открытой поверх­ ности gsur-VQс и слоев (gшr-/ау +gsur-vш) и является движущей силой процессе, кон­ тролирующего потоки адатомов на поверхности. При выполнении условия gsur-vш: >(gsur-lay +gsur-wu:) добавление едатомов увеличивает Е И, следовательно, вы­ зывает уменьшение свободной энергии. Таким образом, адсорбирующиеся адато­ мы имеют тенденцию оставаться непосредственно на открытой поверхности, что приводит к горизонтальному росту островков и возможному образованию моно­ слоя. Рассеивающее давление Ps в этом случае положительно и вносит вклад в рас­ пространение адатомов по поверхности (режим роста Франка-Ван дер Мерва).

При выполнении противоподожногоусяовиядь.ь; <(gsur-шу +gSlU-voc) рост до­ ли покрытия поверхности Е увеличивает свободную энергию, так что быть тон­ ким и плоским для адсорбируемого слоя становится термодинамически невыгод­ ным. Вновь добавляемые атомы поддерживают свободную энергию на низком

уровне пугем присоединения к вершинам сущесТВУЮЩИХ островков, что приводит

к их вертикальному, а не горизонтальному росту (режим роста Волмера-Вебера). Выше уже упоминалось. что гетероэпитаксия используется для выращивания островков и пленок, атомарная структура которых близка к структуре подложки. Доля Гнесоответствия между кристаллическими решетками островков и субстра­

та задается выражением

(10.3)

где О! - постоянная решетки островка или пленки, 01 - постоянная решетки подложки. Для маленьких несоответствий (f < 2%) при росте пленки, состоя­

щей из многих последовательных слоев друг на друге, возникающая деформа­ ция невелика. Если несоответствие превышает 3%, то первый слой заметно де­ формирован, а при добавлении следующих слоев деформация растет. В конеч­ ном счете, вне переходной области деформация спадает, и толстые пленки оказываются деформированными только в пограничной области вблизи под­ ложки. Это несоответствие благоприятствует росту трехмерных островков, что отчасти компенсирует напряжения и способствует понижению свободной энергии (режим роста Странски-Крастанова). Зачастую в этом режиме сначала образуется монослой. способствующий понижению внутренних напряжений, а затем на нем формируются трехмерные островки. Другая возможность - об­ разование монослойных островков оптимального размера, обеспечивающих лучшую релаксацию напряжений, возникающих из-за несоответствия решеток. Затем может последовать добавление к этим островкам следующих слоев. Ти­ пичный размер такого монослойноro островка может быть 5 нм, что составляет 12 элементарных ячеек.

~ Глава 10. Самосборкаикатализ

Рис. 10.1. Изображения последовательного роста островков lnAs на аaЛs (001) подложке для доли покрытия монослоем а) - 0.1, б) - 0.3, В) - 0.6 и г)­ 1.0, полученные в просвечивеющем электронном микроскопе. Размеры изображения составляют 50х50 им для а) и 40х40 им ДЛЯ б) - г). На врез­ ке к рисунку а) показано увеличенное изображение ОaЛs подложки.

Разумеется, ДЛЯ корректного описания этой ситуации в уравнение (10.2) не­ обходимо добавить новые члены, учитывающие внутренние напряжения в ост­ ровках и подложке, поверхностную энергию боковых граней островков и др. Ге­ тероэпитаксиальный рост при постепенно увеличивающемся от нуля до несколь­

КИХ атомных слоев количестве вещества, осаждаюшемся на поверхности, хорошо

исследован экспериментально. В качестве примера на рис. 10.1 показан последо­ вательный рост островков lnAs на ОaЛs (001) подложке для нескольких степеней покрытия монослоем. Из данных в Таблице В.1 и формулы (10.3) видно, что при постоянных решетки а =.0,606 нм для InAs и а = 0,565 нм для GaAs величина не­ соответствияf= 7,0% для этой структуры весьма велика.

10.1 Самосборка 22~

10.1.3. МОНOCJIОU

Модельная система, которая хорошо иллюстрирует принципы И преимущества процесса самосборки, - самособранный монослой (Wilber и Whitesides 1999). Метод Ленгмюра-Блоджегт; который исторически предшествовал подходу само­ сборки, широко использовался в прошяом для подготовки И изучения оптичес­ ких покрытий, биосенсоров, лиганд-стабилиэированных кластеров Auss, антител и ферментов. В этом методе на границе раздела воздух-вода формируют моно­ слой кластеров, а затем в виде того, что называют менкой Ленгмюра-Блоджетт; переносят его на подложку. Однако такие пленки сложны в приготовлении. Са­ мособранные монослои прочнее, легче в изготовлении и могут быть получены из более широкого класса веществ.

Самособранные монослои и муяьтислои приготавливали на различных металлических и неорганических подложках, например на Лg, Аи, Си, Ge, Pt, Si, GaAs, 2 и других материалах. Это было сделано при помощи связующих молекул или лигандов, таких как алкантиолы RSH, сульфиды RSR', дисуль­ фиды RSSR', кислоты RCOOH, и силоксаны RSiОRз, где символы R и R' обо­

значают органические молекулярные группы, присоединяющиеся, например,

к радикалу тиола -SH или кислотномурадикалу -СООН. Связываниес по­ верхностьюдля тиолов, сульфидов И дисульфиловосуществляетсяпосредст­ вом атома серы, то есть на золотой подложкеобразуетсяобъект RS-Au, а при связывании кислоты - RC02-(МО)п, где МО обозначает ион подложки из оксида металла. Атом водорода при формировании связи покидает молекулу. Алкантиолы RSH - наиболее широко используемые лиганды из-за их боль­ шой растворимости, совместимости со многими органическими функцио­ нальными группами и подходящей скорости реакции. Они спонтанно адсор­ бируются на поверхности, а следовательно применим термин самосборка. В этом разделе рассмотрена самосборка лиганда тиола X(CH2)nSH, где конце­ вая группа Х - метил (СНз). Типичное значение п равно 9 (декантиол), что со­ ответствует С10Н2! дЛя R.

При создании золотой подложки, предназначенной для последующей само­ сборки на ней, применяют испарение золота с помощью электронного пучка или

высокотемпературного нагревательного элемента и последующее его осаждение

в виде поликристаллического слоя толщиной от 5 до 300 нм на полированное ос­ нование, например, на стеклянную пластинку, кремниевую шайбу или листок слюды. Внешний атомный слой золота, несмотря на поликристаллическую структуру, образует локальные области с плоской гексагональной плотноупако­ ванной решеткой, как показано на рис. 10.2 и 10.3. Разяичные свойства материа­

лов - проводимость, степень проэрачности, размер доменов, поверхностная ше­

роховатость и др. зависят от толщины пленки. Адсорбционные позиции находят­

ся в полых выемках между триплетами атомов золота на поверхности.

Количество таких мест равно количеству атомов золота на поверхности. Иногда ДЛЯ облегчения адгезии добавляют атомы Сг или Тi. Когда молекулы из жидкой

Соседние файлы в папке Книги и монографии