- •Igbt транзистор
- •2 Монтаж кристаллов многовыводных интегральных микросхем жестко организованными выводами: Flip–Chip, bga. Монтаж и демонтаж корпусов bga. Особенности контроля качества паяных соединений.
- •3 Технология и оборудование монтажа cob (кристалл на плате). Основные достоинства технологии cob. Области применения cob (smart–cart и др.).
- •4 Многокристальные модули (мkм): конструктивные особенности, выбор материалов подложки, технология сборки. Внутренний монтаж кристаллов на подложки из алюминия.
- •Flip-chip технология
- •С применением полиимидной ленты носителя
- •Внутренний монтаж кристаллов
- •5 Электронные микромодули с 3–d интеграцией, классификация структур, конструктивные особенности, технология сборки микромодулей.
- •3D интеграция: пластина на пластину
- •6 Микроблоки с общей герметизацией (мбог): техническая характеристика, технология сборки и монтажа микроплат, герметизация микроблоков.
- •7 Волоконно–оптические кабели и линии связи (волс): техническая характеристика, особенности конструкций, технология соединений. Оптическая запись и хранение информации на дисках. Тиражирование дисков.
- •8 Технология оптоэлектронных устройств отображения информации: светодиодные панели и экраны, особенности сборки.
- •10 Технология оптического и электрического контроля электронных модулей. Автоматизация контроля. Адаптеры, летающие зонды и матрицы. Рентгеновский контроль качества паяных и микросварных соединений.
- •12 Диагностика неисправностей в электронных модулях. Автоматизированные системы анализа отказов. Этапы технической диагностики. Контактные и бесконтактные методы диагностики.
- •13 Неразрушающие методы технической диагностики электронных модулей: рентгенотелевизионный, тепловизионный, фотоакустический. Области применения методов и используемое оборудование.
- •14 Дефекты поверхностного монтажа электронных модулей и методы их устранения.
- •15 Технология и оборудование для демонтажа smd и многовыводных интегральных компонентов в электронных модулях.
- •16 Герметизация изделий электроники. Классификация и характеристика методов. Технология поверхностной герметизации. Применяемые материалы.
- •17 Технология объемной герметизации. Вакуумно–плотная герметизация изделий пайкой и сваркой. Контроль герметичности.
- •18 Регулировка и настройка рэс, методы, оценка их погрешностей. Автоматизация регулировки.
- •19 Проверка и регулировка параметров источников питания электронных устройств.
- •20 Технология контроля и регулировки параметров нч блоков радиовещательных приемников.
- •21 Технология контроля и регулировки параметров вч блоков радиовещательных приемников. Определение чувствительности и избирательности приемников.
- •22 Комплексная автоматизация производственных процессов. Этапы, пути и критерии автоматизации.
- •23 Расчет производительности общественного труда и пути ее роста.
- •24 Специальное автоматическое технологическое оснащение: структура, классификация. Агрегатное и переналаживаемое асто.
- •25 Автоматические линии, основные типы и их характеристики.
- •26 Проектирование поточных линий сборки рэс. Расчет основных параметров линий.
- •27 Расчет параметров конвейера сборки и варианты его планировки.
- •28 Основные технические показатели промышленных роботов, методики их контроля.
- •29 Роботы и робототехнологические комплексы в производстве рэс, варианты компоновки. Рабочие зоны роботов–манипуляторов, технические характеристики.
- •30 Автоматизированное технологическое оснащение и промышленные роботы в составе ртк и гпм.
- •31 Приводы промышленных роботов и расчет усилий приводов. Линейные шаговые двигатели их преимущества.
- •32 Захватные устройства роботов-манипуляторов. Оценка их эффективности.
- •33 Загрузочные устройства для автоматического технологического оборудования. Расчет объема загрузки на плановые периоды работы.
- •34 Контроль параметров промышленных роботов в составе гпм.
- •35 Роботехнологические комплексы сборки, пайки, влагозащиты и отмывки. Примеры компоновки. Расчет и пути повышения производительности роботизированной сборки.
- •36 Гибкие производственные модули сборки и монтажа рэу.
- •37 Гибкие производственные системы, ячейки, планировка участка сборки с автоматизированным складом. Расчет коэффициента использования производственной площади.
- •38 Планировка участка сборки электронных модулей с поверхностным и смешанным монтажом по типу европейских сборочных линий.
- •39 Гибкость и мобильность гпс. Порядок расчета гибкости. Проблемы при внедрении гпс.
- •40 Принципы управления производственными и технологическими системами. Асутп и функции подсистем.
- •41 Человеко-машинные асу тп для цеха, участка. Примеры и схемы реализации. Достоинства и недостатки схем.
- •42 Технологические датчики и блоки сбора данных для систем управления оборудованием.
- •43 Автоматические системы управления и регулирования тп.
- •44 Микропроцессорные асу тп, схемы построения и основные характеристики.
- •45 Управление тп и оборудованием с помощью пэвм и микроЭвм. Промышленные компьютеры.
- •46 Применение программируемых контроллеров для управления тп и то.
- •47 Технологическая подготовка производства, основные принципы построения и автоматизация.
- •48 Автоматизация проектирования технологических процессов с применением эвм. Прикладные пакеты сапр тп.
- •49 Автоматизированные и интегрированные технологические комплексы. Компьютеризованные производства cam. Структура и основные характеристики.
- •50 Автоматизированные системы проектирования технологической документации и оснастки ТехноПро’99, TechCard и др.
- •51 Технологическая оснастка и правила ее проектирования. Поверочные расчеты оснастки.
- •52 Методика технологического контроля конструкторской документации.
- •53 Нормоконтроль технологической документации. Правила заполнения комплекта тд.
- •54 Перспективы развития технологии рэс. Cals технологии, нанотехнологии. Открытие мемристора.
4 Многокристальные модули (мkм): конструктивные особенности, выбор материалов подложки, технология сборки. Внутренний монтаж кристаллов на подложки из алюминия.
Многокристальные модули (МКМ) - новый этап в развитии техники и технологии сборки радиоэлектронной аппаратуры. Необходимость значительного повышения рабочих частот, улучшения отвода тепла, увеличения количества выводов современных БИС, дальнейшего снижения габаритов и веса при одновременном снижении стоимости приводят к широкому применению многокристальных модулей
Структура МКМ
1- сигнальные слои, 2- кристаллы, 3- SMD,
4- кремниевая подложка
Конструктивные типы МКМ: Модуль памяти в двухмерном исполнении; Модуль памяти в трехмерном исполнении и в бескорпусном исполнении
Материалы подложек для МКМ
Керамика на основе оксида алюминия (высокая теплопроводность, повышенная механическая прочность, малая ширина проводников),( высокая диэлектрическая проницаемость в 2 раза выше, чем у FR-4,различный с кремнием ТКЛР
Карбид кремния (близкий к кремнию ТКЛР)
Полиимид (гибкость формы), (разница в ТКЛР).
Кремний (высокая теплопроводность и низкая диэлектрическая проницаемость)
Межсоединения в МКМ
Flip-chip технология
С применением полиимидной ленты носителя
Внутренний монтаж кристаллов
Внутренний монтаж кристаллов
На подложке из алюминия штампом пробиваются прямоугольные отверстия, соответствующие размерам кристаллов; в керамической или поликоровой пластине- прожигание лучом лазера.
На подложке анодированием формируется диэлектрический слой.
На подложку укладывается полиимидная пленка толщиной 12 мкм . На пленку укладывается основание микроблока- плата.
Кристаллы ИС размещаются в отверстиях подложки так, чтобы верхняя сторона кристаллов с контактными площадками находилась наверху;
К подложке и кристаллам прикладывается давление 0,5 МПа и температура 350 С, в результате чего адгезионная пленка приклеивается к лицевым сторонам каждого кристалла ИС и основанию микроблока;
Ионно-химическим травлением в полиимидной пленке формируются отверстия, вскрывающие контактные площадки ИС;
Подложку размещают на столе из магнитного материала, сверху на подложку с высокой точностью накладывают коваровую маску (фольгу с тонкими прорезями), и стол плотно прижимает ее к подложке;
Вакуумным напылением через маску формируют токоведущие дорожки из меди ( подслой Ti для обеспечения высокой адгезии) и Ni (защитного слоя). Ширина проводников 50 или 70 мкм. В результате без пайки и сварки получается соединение контактных площадок ИС с токоведущими дорожками платы. После нанесения слоев Ti – Cu – Ni коваровая маска снимается с подложки;
На полученную топологию первого слоя вновь наносятся полиимидная пленка, в которой ионным травителем вскрываются переходные межуровневые отверстия, и через вторую маску производится формирование второго слоя разводки с контактными площадками. Одновременно с формированием второго уровня топологии платы происходит формирование переходных соединений верхнего и нижнего уровней. Возможно формирование до 30 слоев топологии.
На контактные площадки наносится припойная паста, устанавливаются SMD и паяются.
Преимущества внутреннего монтажа кристаллов
Отсутствие выводов ИС, и следовательно, отсутствие паяных и сварных соединений этих выводов с контактными площадками платы;
· Формирование проводника сухим методом. Нет остатков травителя, вызывающих деградацию тонких проводников обычных ПП;
·Близость значений ТКЛР кристалла, оксидного защитного слоя подложки, керамических корпусов конденсаторов и ситалловых корпусов резисторов гарантирует безотказную работу блоков при резких перепадах температуры;
· Кристаллы ИС, уложенные в алюминиевую или керамическую подложку, находятся в условиях постоянной тепловой разгрузки, что повышает надежность работы ИС;
· Подложка из алюминия создает не только тепловую разгрузку кристаллов, но и защищает схемы от электромагнитного воздействия.
Электронные модули, выполненные по технологии “внутреннего монтажа” имеют в 10-20 раз меньшие габариты, чем SMT.
