Двухбарьерные структуры
Две топологически совмещенные туннельные структуры, соединенные последовательно, и их эквивалентная схема показаны на рис. 6. Они могут представлять собой металлический проводник, в середине которого расположен металлический или полупроводниковый островок. Обычно по своим размерам и характеристикам этот островок похож на квантовую точку, в которой локализовано определенное число электронов. Он имеет емкостную связь как с правым, так и с левым электродом. Эта связь характеризуется, соответственно, емкостями CL и CR. Емкость самого островка С равна сумме CL и CR. Как и в случае однобарьерной структуры, для двухбарьерной структуры также существует определенный диапазон напряжений, в котором электрический ток отсутствует вследствие кулоновской блокады переноса электронов. Однако симметрия вольт-амперной характеристики, типичная для однобарьерной структуры, нарушается из-за дополнительных ограничений на перенос электронов, связанных с наличием в островке разрешенных электронных состояний.
На вольт-амперной характеристике двухбарьерной структуры имеется диапазон напряжений, в котором электрический ток через структуру протекать не может. Этот эффект обусловлен электронными свойствами центрального островка и находит объяснение в терминах электрохимических потенциалов островка и электродов. При малых размерах островка энергии Ферми островка и электродов различаются. Это приводит к различию электрохимических потенциалов
(рис. 7, а), причина
которого заключается в том, что
перераспределение заряда в островке
имеет место только при значениях I,
кратных е/С.
В макроскопическом образце величина С
достаточно велика, поэтому отношение
е/С
очень мало, и энергии Ферми проводников
и квантовой точки почти в точности
совпадают. Однако в наноразмерных
структурах величина V0
все же остается отличной от нуля, принимая
значения в диапазоне V0<e/2C.
Это рассогласование энергий Ферми
проводников и квантовой точки ведет в
конечном счете к асимметрии вольт-амперных
характеристик.
Рис. 6. Две топологически совмещенные и последовательно соединенные через квантовую точку туннельные структуры (а) и их эквивалентная схема (б)
Рис. 7. Эквивалентная схема (а) и вольт-амперная характеристика (б) двухбарьерной структуры
Дискретность энергетических состояний электронов в островке приводит к тому, что заряд островка изменяется только дискретно (с приходом или уходом одного электрона). Соответствующее изменение энергии составляет е2/2С. В соседних же макроскопических областях (за границами барьера) энергетические состояния электронов являются квазинепрерывными. При температуре 0 К эти состояния заполнены вплоть до уровня Ферми ЕF, в результате чего возникает различие еV0 между энергией уровня, с которого происходит инжекция электрона, и ближайшим к нему уровнем островка, который этот электрон может занять. Электростатическая энергия всей системы с приходом на островок одного нового электрона изменяется на величину
.
Электрон, пришедший на островок с левого электрода, индуцирует на правом барьере поляризационный заряд величиной еСR/С. Чтобы подавить возникающую при этом кулоновскую блокаду, приложенное внешнее напряжение должно удовлетворять условию
,
что
приводит к асимметрии вольт-амперной
характеристики двухбарьерной структуры.
Для случая СCR>CL
ее вид показан на рис. 7, б. Очевидно, что
при
=0
вольт-амперная характеристика имеет
вид, типичный для однобарьерной структуры.
Рассмотренный выше случай предполагает, что характеристики двух туннельных барьеров идентичны. Когда же один из них имеет более высокую прозрачность, вольт-амперная характеристика приобретает специфический ступенчатый вид (рис. 8). Такую характеристику называют кулоновской лестницей (Coulomb staircase). Ее вид обусловлен различием скоростей туннелирования электронов через первый и второй барьер. Электрод у барьера с большей прозрачностью называют истоком, а с меньшей – стоком.
Если напряжение между истоком и стоком превышает порог кулоновской блокады, то электрон туннелирует в островок между электродами, где он находится в течение достаточно продолжительного времени, пока не произойдет его туннелирование в сток. Вследствие меньшей прозрачности барьера туннелирование из островка в сток происходит с меньшей вероятностью и поэтому ограничивает перенос электронов через островок. Заряд, накопленный на границе стокового барьера, становится больше заряда на истоковом барьере. Это приводит к тому, что повышение напряжения на внешних контактах компенсируется главным образом падением напряжения на стоковом барьере. Падение же напряжения на истоковом барьере остается почти неизменным. Поскольку именно оно определяет скорость инжекции электронов в островок, то и общий ток также остается неизменным. Так формируется первая после кулоновского зазора ступенька, на которой протекающий через структуру ток не зависит от приложенного напряжения. Последующие ступеньки появляются с периодичностью, соответствующей увеличению заряда островка из-за увеличения числа постоянно находящихся на нем электронов по мере повышения напряжения во внешней цепи. Таким образом, пологие участки на вольт-амперной характеристике отвечают различным зарядовым состояниям островка.
Рис. 8. Вольт-амперная характеристика двухбарьерной одноэлектронной структуры, один из барьеров которой имеет более высокую прозрачность
Двухбарьерные структуры, благодаря возможности управления их электрическими характеристиками путем соответствующего воздействия на электронные состояния в электродах и островке, представляют практический интерес для создания переключающих и усилительных приборов. Это достигается за счет использования различных материалов для островка и электродов или посредством локализованных зарядов, встроенных в барьерный диэлектрик. Однако наиболее эффективным с точки зрения практического приборного применения является оперативное управление вольт-амперной характеристикой структуры с помощью электрического потенциала, подаваемого на островок через третий электрод.
Вывод
На основе явления резонансного туннелирования работают резонансно-туннельные диоды. Они интересны и актуальны благодаря своей возможности работать в терагерцовом диапозоне частот при комнатной температуре, поэтому исследование резонансного туннелирования представляет столь большой интерес.
