- •Раздел 2. Средства измерений оптических величин
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных
- •Раздел 1.Основы оптических измерений
- •1.1. Понятия об измерениях и измерительных средстствах
- •1.2.Классификация измерений
- •1.2.1. По виду измерений:
- •1.2.2.По методам измерений
- •1.3.2.Случайные погрешности (Сл.П)
- •1.4. Оценка результатов обработки данных измерения
- •1.5. Некоторые особенности измерения и обработки данных
- •1.6.Погрешности измерения прямого и компенсационного преобразования
- •2.1.1.Основые измерительные операции
- •5) Обработка результатов наблюдений и отсчетов.
- •2.1.2.Факторы, влияющие на точность измерения
- •2.1.3.Погрешности поперечных наводок
- •2.1.4.Погрешности продольной наводки (фокусировки)
- •2.2.Типовые средства оптических измерений
- •2.2.1. Тестовые объекты
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров. О куляр с призмой - куб
- •Окуляр Гаусса
- •Окуляр аббе
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров.
- •Окулярный микрометр с внутренним отсчетом
- •2.2.5. Коллиматоры
- •2.2.6. Зрительные и автоколлимационные трубы
- •Характеристики зт
- •2.2.7. Измерительные микроскопы
- •3.Разрешающая способность-а.
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла Характеристики оптического стекла:
- •3.1. Гониометрические методы
- •3.2. Измерение коэффициента преломления рефрактометрическим методом
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных параметров оптических деталей.
- •4.0. Общие сведения.
- •4.1. Измерение линейных размеров
- •4.1.1. Измерение с помощью компаратора.
- •4.1.2. Измерение толщин оптических деталей c помощью микроскопа
- •4.2. Измерение радиусов кривизны сферических поверхностей
- •4.2.1. Механический метод
- •4.2.2. Автоколлимационный метод
- •4.2.2.1. Измерение малых радиусов кривизны сферической поверхности с помощью микроскопа.
- •4.2.2.2. Измерение больших радиусов кривизны сферических поверхностей с помощью зрительной трубы
- •4.2.3. Интерференционный метод измерения радиусов кривизны сферических поверхностей (метод ньютона)
- •4.3. Измерение углов призмы , клиньев и клиновидности пластин
- •4.3.1.Способы измерения углов призм
- •4.3.2. Особенности измерения углов многогранника.
- •4.3.3. Измерение углов оптических клиньев
- •3.Фотоэлектрический метод (омп 1975, n5, c. 27-28)
- •4.4. Контроль децентровки линз
- •Коллимационный метод
- •5. Измерение и контроль основных характеристик оптических приборов
- •5.1. Основные характеристики оптических приборов
- •5.2. Измерение фокусных расстояний
- •5.2.1. Метод увеличения
- •1. Измерение фокусного расстояния положительной оптической системы
- •2. Измерение фокусного расстояния отрицательной оптической системы
- •1. Окуляр 2. Дополнительная линза 3. Исследуемая оптическая система 4. Зрительная труба
- •3. Измерение фокусного расстояния короткофокусной оптической системы (микрообъектив, микроокуляр и т. Д.)
- •5.2.2. Метод угловых измерений
- •5.2.3. Автоколлимационный метод Русинова
- •5.2.4. Метод узловой точки
- •5.2.5. Метод Фабири-Юдина
- •5.3. Измерение фокальных отрезков
- •5.4. Измерение рабочих отрезков
- •5.4.1. Визуальный метод измерения
- •5.4.2. Фотографический метод
- •5.4.3. Интерференционный метод
- •5.4.4. Фотоэлектрический метод
- •5.5 Измерение углового увеличения оптических систем
- •5.5.1.Измерение углового увеличения телескопической системы
- •1. Измерение углового увеличения с помощью нивелирной рейки
- •2.Измерение углового увеличения с помощью коллиматора и зрительной трубы
- •5.6. Измерение видимого увеличения микроскопа
- •5.7 Измерение линейного увеличения микрообъектива ()
- •5.8. Измерения поля зрения оптических систем
- •5.8.1.Измерение угла поля зрения телескопической системы
- •1. С помощью нивелирной рейки (или по удаленным предметам)
- •3. С помощью широкоугольного коллиматора
- •5.8.2. Измерение поля зрения лупы и микроскопа
- •5.8.3. Измерение поля зрения фотографического объектива
- •5.9. Измерение диаметров входных и выходных зрачков d и d' и их положений
- •5.9.1. Измерение диаметров входных и выходных зрачков телескопической системы
- •5.9.2. Измерение диаметров входного и выходного зрачков фотографического и проекционного объективов
- •5.10 Измерение эффективного относительного отверстия фотографического объектива
- •5.11. Измерение основных светотехнических хараетристик оптических приборов
- •5.11.1. Измерение коэффициента виньетирования фотографических объективов
- •5.11.2 Измерение распределения освещенности в плоскости изображения
- •5.11.3. Измерение коэффициента светопоглощения оптической системы и стекла
- •5.11.4. Измерение коэффициента светорассеяния оптической системы
- •5.11.5. Измерение цветопередачи фотографических объективов
- •Метод контроля цветопередачи объективов на зонном фотометре
- •Список литературы
2.1.4.Погрешности продольной наводки (фокусировки)
Из A‘F‘ L(Рис.2.3) R2 =Д’ 2/4+(R - LФ)2=Д’ 2/4+R2 -2RLФ+LФ 2
R=Д’ 2 / 8LФ .Применяя формулу Ньютона ‘ ‘ 2 имеем 0
‘ 2 ‘ ‘ 2 R=2LФ‘ 2/ (Д’ / 2)2 = в / 2 , в22,
где в=2Lф , Д’ ‘ , при Lф =0,1 мкм в=0,2 мкм
Н Н’ вых.зр. Д’
Pf PA
A’ F A F'
L
‘ = - R Lф
Рис 2.3.Обозначения: Lф- отклонение волнового фронта, PA, PF - поверхности плоского и сферического волнового фронтов
Из полученных формул видно, что продольные наводки грубее поперечных наводок. Здесь также точность наводок () зависит от марки и методов наведения ( см. таблицу ниже)
Способы продольных наводок
изображения точки |
ФЭУ |
Визуальные наводки (1/2-1/8) |
Ф-Э наводки |
по глубине марок |
ФЭУ |
/40 |
|
|
ФЭУ
ФЭУ |
/40
|
|
фокусировки |
ДИССЕКТОР
|
- |
|
2.2.Типовые средства оптических измерений
2.2.1. Тестовые объекты
К ним относятся: точечные и щелевые диафрагмы, сетки, миры, перекрестья, марки и растры специальной формы, полуплоскость.
1
.Точечные
диафрагмы (точки) служат для имитации
светящейся точки и применяются для
контроля качества изображения О и ОЭС.
Изготов ляются механическим способом
или прожиганием лазерным лучом.
Дд Дд=(1,22
Sinо‘‘
к‘’о
2.Щелевые диафрагмы (сменные и регулируемые) применяются для измерения аберраций а также для угловых и спектральных измерений.
3.Сетки с различными шкалами. Cетка- это плоскопаралельная пластина из оптического стекла с нанесенными на нее шкалами.
4. Миры: штриховые, радиальные, глубинные, комбинированные.
Штриховые миры представляют собой испытательные таблицы, выполненные на оптическом стекле в виде штриховых элементов, оцифрованных от 1-25. Каждый элемент состоит из четырех групп штрихов (светлых на темном фоне): горизонтальных, вертикальных и двух наклонных под углом 45 градусов. Ширина штрихов в каждом элементе уменьшается по геометрической прогрессии со знаменателем q = 2-1/12 =0,94. Миры изготавливают согласно стандарта по номерам : 1 - 6.Число штрихов
1 2 3 4 5
определяется по формулам:
5 N=(60 / В) 1,06 i-1 ,
10 где i- номер элемента миры,
В
15 l=2a ,a‘k
,
l a 20 где l
, - линейное
и угловое
25 разрешение миры, помещенной
21
22 23 24 25 в фокусе
коллиматора.
Основные характеристики мир сведены в таблицу
-
мира
В-база миры
число штрихов
1
1,2мм
50 - 200
2
2,4
25 -100
3
4,8
12,5 - 50
4
9,6
6,5 - 12
5
19,2
3,1 - 12
6
38,4
1,6 - 6,3
Д Рис 2.4
Радиальные миры (Рис 2.4) представляют собой стеклянную пластину с нанесенными чередующимися прозрачными и непрозрачными секторами. Разрешающая способность в центре поля определяется по формуле
N =n / (3,14 Д) ,где n - число пар секторов, Д - диаметр сливающихся секторов. Радиальные миры изготавливаются по стандарту: n=18 , 36, 48, 72.
Глубинные миры представляют собой склеенный блок (Рис 3.4) из основания 6 и ряда стеклянных столбиков 1-5 разной высоты с нанесенными на них штриховыми или радиальными мирами.
1 2
+2 -2
6
3 0
4 5
+1 -1
Комбинированные миры - это фотоотпечатки на стекле, где нанесены в определенной последовательности штриховые и радиальные миры определенного вида.
Важной характеристикой мир, сеток, растров является контрастность К =(Imax - Imin)/ (Imax + Imin) , где Imax ,Imin - яркости белых и темных полос. Стандартные миры изготавливаются с К = 1.
2.2.2. Осветители состоят из источника света и конденсора. Источники света подразделяются: монохроматические - лазеры и лампы, дающие определенную длину волны( Na, Pb) и лампы осветительные, а также тепловые источники. Конденсоры проецируют нить источника на входной зрачок диафрагмы. Применяются 2-х, 3-х, 4-х кратные линзовые и зеркально-линзовые конденсоры. Их характеристики: угол охвата - 2А=20о-135о ( 1-ый линзовый - 20o, 2-х линзовый -50o, 3-х линзовый - 60о-70о и зеркально-линзовый -100о-135о и линейное увеличение- = -1х до -10х, при этом должно выполняться условие - АкАоб .
2.2.3. Автоколлимационные окуляры отличаются от обычных тем, что шкала, сетка, перекрестие, находящиеся в фокусе окуляра, подсвечиваются осветителя и дополнительных оптических элементов (наклонных пластинок, призм и т.п.) . Примеры ряда окуляров приведены на рис2.5.
В оптической измерительной технике широко применяются окуляры типа: Аббе, Гаусса, с куб- призмой, Монченко и редко применяются окуляры:
Линника, Захарьевского, со светящейся точкой.

по
резкости
метод
сдвинутых
теневой
метод
растровый
метод