- •Раздел 2. Средства измерений оптических величин
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных
- •Раздел 1.Основы оптических измерений
- •1.1. Понятия об измерениях и измерительных средстствах
- •1.2.Классификация измерений
- •1.2.1. По виду измерений:
- •1.2.2.По методам измерений
- •1.3.2.Случайные погрешности (Сл.П)
- •1.4. Оценка результатов обработки данных измерения
- •1.5. Некоторые особенности измерения и обработки данных
- •1.6.Погрешности измерения прямого и компенсационного преобразования
- •2.1.1.Основые измерительные операции
- •5) Обработка результатов наблюдений и отсчетов.
- •2.1.2.Факторы, влияющие на точность измерения
- •2.1.3.Погрешности поперечных наводок
- •2.1.4.Погрешности продольной наводки (фокусировки)
- •2.2.Типовые средства оптических измерений
- •2.2.1. Тестовые объекты
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров. О куляр с призмой - куб
- •Окуляр Гаусса
- •Окуляр аббе
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров.
- •Окулярный микрометр с внутренним отсчетом
- •2.2.5. Коллиматоры
- •2.2.6. Зрительные и автоколлимационные трубы
- •Характеристики зт
- •2.2.7. Измерительные микроскопы
- •3.Разрешающая способность-а.
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла Характеристики оптического стекла:
- •3.1. Гониометрические методы
- •3.2. Измерение коэффициента преломления рефрактометрическим методом
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных параметров оптических деталей.
- •4.0. Общие сведения.
- •4.1. Измерение линейных размеров
- •4.1.1. Измерение с помощью компаратора.
- •4.1.2. Измерение толщин оптических деталей c помощью микроскопа
- •4.2. Измерение радиусов кривизны сферических поверхностей
- •4.2.1. Механический метод
- •4.2.2. Автоколлимационный метод
- •4.2.2.1. Измерение малых радиусов кривизны сферической поверхности с помощью микроскопа.
- •4.2.2.2. Измерение больших радиусов кривизны сферических поверхностей с помощью зрительной трубы
- •4.2.3. Интерференционный метод измерения радиусов кривизны сферических поверхностей (метод ньютона)
- •4.3. Измерение углов призмы , клиньев и клиновидности пластин
- •4.3.1.Способы измерения углов призм
- •4.3.2. Особенности измерения углов многогранника.
- •4.3.3. Измерение углов оптических клиньев
- •3.Фотоэлектрический метод (омп 1975, n5, c. 27-28)
- •4.4. Контроль децентровки линз
- •Коллимационный метод
- •5. Измерение и контроль основных характеристик оптических приборов
- •5.1. Основные характеристики оптических приборов
- •5.2. Измерение фокусных расстояний
- •5.2.1. Метод увеличения
- •1. Измерение фокусного расстояния положительной оптической системы
- •2. Измерение фокусного расстояния отрицательной оптической системы
- •1. Окуляр 2. Дополнительная линза 3. Исследуемая оптическая система 4. Зрительная труба
- •3. Измерение фокусного расстояния короткофокусной оптической системы (микрообъектив, микроокуляр и т. Д.)
- •5.2.2. Метод угловых измерений
- •5.2.3. Автоколлимационный метод Русинова
- •5.2.4. Метод узловой точки
- •5.2.5. Метод Фабири-Юдина
- •5.3. Измерение фокальных отрезков
- •5.4. Измерение рабочих отрезков
- •5.4.1. Визуальный метод измерения
- •5.4.2. Фотографический метод
- •5.4.3. Интерференционный метод
- •5.4.4. Фотоэлектрический метод
- •5.5 Измерение углового увеличения оптических систем
- •5.5.1.Измерение углового увеличения телескопической системы
- •1. Измерение углового увеличения с помощью нивелирной рейки
- •2.Измерение углового увеличения с помощью коллиматора и зрительной трубы
- •5.6. Измерение видимого увеличения микроскопа
- •5.7 Измерение линейного увеличения микрообъектива ()
- •5.8. Измерения поля зрения оптических систем
- •5.8.1.Измерение угла поля зрения телескопической системы
- •1. С помощью нивелирной рейки (или по удаленным предметам)
- •3. С помощью широкоугольного коллиматора
- •5.8.2. Измерение поля зрения лупы и микроскопа
- •5.8.3. Измерение поля зрения фотографического объектива
- •5.9. Измерение диаметров входных и выходных зрачков d и d' и их положений
- •5.9.1. Измерение диаметров входных и выходных зрачков телескопической системы
- •5.9.2. Измерение диаметров входного и выходного зрачков фотографического и проекционного объективов
- •5.10 Измерение эффективного относительного отверстия фотографического объектива
- •5.11. Измерение основных светотехнических хараетристик оптических приборов
- •5.11.1. Измерение коэффициента виньетирования фотографических объективов
- •5.11.2 Измерение распределения освещенности в плоскости изображения
- •5.11.3. Измерение коэффициента светопоглощения оптической системы и стекла
- •5.11.4. Измерение коэффициента светорассеяния оптической системы
- •5.11.5. Измерение цветопередачи фотографических объективов
- •Метод контроля цветопередачи объективов на зонном фотометре
- •Список литературы
1.2.2.По методам измерений
Метод непосредственной оценки состоит в измерении величин непосредственно по прибору прямого действия (например, измерение длины метром ). Этот метод наиболее распространенный и грубый.
Метод сравнения с мерой является более точным.
1.Метод противопоставления - здесь измеряемая величина и величина, воспроизводимая мерой, воздействуют одновременно (прибор сравнения).
2.Диференциальный метод (разностный)
- метод, при котором измеряется разность
величин
,
т.е. определяется отступление от меры.
Пример: контроль величин по образцовой
мере.
3.Нулевой (компенсационный) метод основан на компенсации разностного сигнала до нуля. Например, измерение углов клиньев с помощью автоматического измерителя углов клиньев.
4.Метод замещения основан на сравнении с мерой, где измеряемая величина замещается известной величиной, воспроизводимой мерой.
1.2.3.По способу выражения результатов измерения:
-абсолютный метод измерения, когда измеряемая величина выражается в абсолютных единицах измерения,
-относительный метод измерения
,
применяется при измерении погрешностей
1.2.4.По характеру зависимостей измеряемой величины:
- статические измерения, когда Х(t)=соnst ,при этом измерения подразделяются на однократные и многократные (статистические).
- динамические измерения, когда Х(t)-var
1.2.5. По способу воздействия на объект измерения:
- контактные и бесконтактные
1.2.6. По способу воздействия на технологический процесс:
- активный способ, когда измерения производятся в процессе изготовления деталей, узлов, приборов,
- пассивный - после изготовления или в промежутке между операциями,
- поэлементный контроль,
- комплексный контроль.
1.2.7.По точности измерения делятся на три класса:
- измерения высшей точности,
- контрольно-поверочные измерения (государственная и ведомственная поверки),
технические измерения.
1.3. ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ
Пусть Х -истинное значение измеряемой величины, аi - результаты измерения .Погрешностью измерения называется отклонение результата измерения аi от истинного значения измеряемой величины Х.
Погрешности результатов измерения выражают в виде:
абсолютных - i = аi - х
относительных - i = i / Х
По характеру их проявления они подразделяются:
1.3.1.Систематические погрешности (СП).
СП характерны тем, что их величина постоянна или изменяется по определенному закону. CП повторяются при повторных измерениях, т.е. c (t) =сonst , c (t) = (t) ,СП определяются по формуле
(1.1)
1.Методические погрешности определяются неточностью метода измерения и неточностью метода обработки результатов. Сюда входят: допущения в формулах, описывающих физические явления в приборе, а также в формулах для расчета погрешности результата измерения, несоответствие модели объекта измеряемому объекту: неточность описания формы оптической поверхности, однородности, приближенный учет аберраций испытываемой системы и т.п.
2.Инструментальные погрешности включают в себя погрешности средств измерения и средств связи. Сюда входят: погрешность шкалы , технологические погрешности изготовления деталей и узлов, погрешности юстировки , фокусировки, центровки узлов установки объекта; погрешности приемников и источников излучения; шумы и нестабильность, инерционность элементов; погрешности наведения и считывания , погрешности, вызванные непостоянством температуры, давления, влажности, напряжения и наличием вибраций.
3.Внешние погрешности обусловлены внешними факторами ( Т -температура, Р - давление, g - ускорение),влияющими на процесс измерения.
4. Субъективные погрешности связаны с индивидуальными особенностями оператора.
