Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

1-Лабораторная_Метрология, стандартизация и спецификация

.doc
Скачиваний:
25
Добавлен:
23.06.2014
Размер:
1.79 Mб
Скачать

Вывод: результаты проделанных экспериментов подтвердили наш вывод о том что: в первой схеме погрешность в большей степени зависит от RА при измерении малых сопротивлений. Во второй схеме погрешность в большей степени зависит от при измерении больших сопротивлений.

  1. Получим в общем виде аналитическую формулу для расчета относительной методической погрешности для каждой из схем измерения и определим, начиная с какого значения RX методическая погрешность для каждой из схем будет удовлетворять условию (внутренние сопротивления приборов те же: RA =1 Ом; RV =5000 Ом):

Схема 1:

,

,

,

,

тогда для , .

Схема 2:

,

,

,

,

,

тогда для ,

Метрология, стандартизация и сертификация