1-Лабораторная_Метрология, стандартизация и спецификация
.doc
Вывод: результаты
проделанных экспериментов подтвердили
наш вывод о том что: в первой схеме
погрешность в большей степени зависит
от RА
при измерении малых сопротивлений.
Во второй
схеме погрешность в большей степени
зависит от
при измерении больших сопротивлений.
-
Получим в общем виде аналитическую формулу для расчета относительной методической погрешности для каждой из схем измерения и определим, начиная с какого значения RX методическая погрешность для каждой из схем будет удовлетворять условию
(внутренние сопротивления приборов те
же: RA
=1
Ом; RV
=5000 Ом):
Схема 1:
,
,
,
,
тогда для
,
.
Схема 2:
,
,
,
,
,
тогда для
,
![]()
Метрология, стандартизация
и сертификация
