- •Лабораторная работа №5 изучение явления дифракции лазерного излучения…………………………………………………………12
- •Лабораторная работа 3 определение радиуса кривизны линзы с помощью колец ньютона
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •Лабораторная работа 4 изучение явления дифракции с помощью дифракционной решетки
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •I. Определение постоянной дифракционной решетки
- •Определение длины волны красной и фиолетовой линии в видимой части оптического спектра.
- •Лабораторная работа 5 изучение явления дифракции лазерного излучения
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •Определение длины волны лазерного излучения
- •Определение ширины щели.
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 6 изучение закона малюса
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •Измерение и обработка результатов
- •Примеры отсчета показаний по нониусу
- •Установка нуля
- •Определение нулевого угла
- •Результаты измерений концентрации растворов
- •Лабораторная работа 8 магнитное вращение плоскости поляризации света
- •Измерение и обработка результатов:
- •Вращая ручку окуляра, найдите такое положение, при котором поле зрения имеет наименьшую освещенность. Снимите показания на лимбе (с учетом нониуса) и занесите в таблицу 7.
- •Примечания:
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа 9 качественный спектральный анализ
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •III. Определение постоянной Планка.
- •Контрольные вопросы
- •Описание установки
- •Измерение и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа 11 изучение явления фотоэффекта с помощью вакуумного фотоэлемента
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов.
- •Определение зависимости фототока от величины падающего светового потока.
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Савельев и.В. Курс общей физики: в 3-х т. М.: Наука, 1982, т.3. Лабораторная работа 12 определение массы электрона и радиуса первой боровской орбиты атома водорода.
- •Теоретические сведения
- •Измерения и обработка результатов
- •Градуировка монохроматора.
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа № 14 определение показателя преломления и дисперсии оптически прозрачных сред
- •/1. Основные понятия и законы
- •2. Теория лабораторной работы Теоретические сведения
- •Устройство и принцип работы рефрактометра урл
- •Ход лучей в осветительной измерительной призмах.
- •Измерения и обработка результатов.
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 15 определение ширины запрещенной зоны полупроводника
- •Теоретические сведения.
- •1. Образование носителей в собственных полупроводниках.
- •Проводимость полупроводников и металлов.
- •Зависимость концентрации носителей заряда в полупроводниках и металлах от температуры.
- •I. Снятие вольтамперной характеристики полупроводника при комнатной температуре т0 (значение т0 определяется в лаборатории) .
- •II. Исследование температурной зависимости электропроводности полупроводника.
- •3. Отключите установку от сети.
- •4. В процессе нагрева образца снимается зависимость тока от напряжения и по полученным данным находится значение
- •Контрольные вопросы
Теоретические сведения
Дифракция – это явление отклонения световых лучей от прямолинейного направления распространения при ограничении световых пучков какими-либо преградами. Это явление можно представить как огибание световыми волнами преграды.
Масштаб огибания зависит от отношения размеров преграды к длине волны. Дифракция легко наблюдается, если размеры преграды, например щели, через которую проходит свет, соизмеримы с длиной волны.
Явлению дифракции сопутствует явление интерференции (наложение когерентных дифрагированных волн друг на друга). В результате в области дифрагированных лучей можно наблюдать чередование максимумов и минимумов интенсивности света.
Дифракционный спектр может быть получен при помощи дифракционных решеток, которые позволяют производить наиболее точные исследования спектров атомов и молекул вещества в самом широком диапазоне длин волн.
Дифракционные решетки представляют собой периодические структуры. Например, молекулы в кристалле являются элементами пространственной решетки; правильно расположенный ряд точечных отверстий представляет собой линейную дифракционную решетку.
В качестве диспергирующих устройств в спектральных приборах широко используются штриховые дифракционные решетки. Изготавливаемые в виде пластин с нанесенными на них алмазным острием параллельными штрихами. Если штрихи нанесены на прозрачный материал, то решетка является прозрачной. Штрихи рассеивают свет и являются как бы непрозрачными промежутками. Не тронутые алмазом полоски стекла (щели) прозрачны, они могут рассматриваться как когерентные источники света (деление волнового фронта). За дифракционной решеткой образуется интерференционное распределение интенсивности света. При освещении решетки монохроматическим светом происходит чередование темных и светлых полос, при освещении белым светом – спектральное распределение максимумов и минимумов.
Теория дифракционной решетки основана на применении метода зон Френеля к случаю дифракции в параллельных лучах. Современная дифракционная решетка содержит до 1700 штрихов на миллиметр. Интенсивность света в той или иной точке наблюдения определяется как результат сложения большого числа когерентных колебаний с равными амплитудами и постоянной разностью хода. Действие дифракционной решетки сводится к получению интерференции многих колебаний. Общий световой поток пропорционален числу щелей. Излучение каждого источника имеет дифракционной распределение. Увеличение числа щелей приводит к увеличению общего количества энергии, прошедшей через решетку, следовательно, к увеличению интенсивности и делает спектр более резким. Направление, под которым наблюдается максимум интенсивности, определяется из условия максимума интерференции света от двух соседних щелей.
Их рис.6 видно, что
,
,
- формула дифракционной решетки (13),
где d – постоянная дифракционной решетки; - постоянная решетки; k- порядок спектра.
Формула (13) является рабочей формулой в данной работе.
Перед тем как приступить к выполнению работы, необходимо произвести установку спектрометра. На решетку должны падать параллельные лучи нормально к поверхности дифракционной решетки. Обе трубы – зрительную и коллиматор – установить так, чтобы их оси приблизительно совпадали и были горизонтальными. Передвигая окуляр, достичь отчетливого изображения щели.
Ширина щели во время работы должна быть небольшой, но и не слишком малой, чтобы изображение ее было ясно видным и достаточно ярким. Кроме того, передвижением всего прибора относительно источника света следует найти его положение, соответствующее наибольшей яркости изображения щели.
Настроив трубу спектрометра относительно источника света, установить дифракционную решетку в плоскости (на глаз), перпендикулярной оси коллиматора. Наблюдая за спектром, который виден в зрительную трубу при ее поворотах вправо и влево, установить решетку так, чтобы все спектральные линии находились на одной горизонтали.
