- •1.Охарактеризуйте зонную схему кристаллических тел, полупроводников, проводников, диэлектриков. Хуй
- •2.Получите зависимость концентрации свободных носителей в полупроводнике от положения уровня Ферми.
- •3.Охарактеризуйте положение уровня Ферми и концентрацию носителей в собственных полупроводниках.
- •4.Охарактеризуйте положение уровня Ферми и концентрация носителей в примесных полупроводниках.
- •5.Получите зависимость концентрации носителей в примесных полупроводниках от температуры. Раскройте закон действующих масс.
- •6.Охарактеризуйте неравновесных носителей. Раскройте процесс рекомбинации носителей.
- •8.Раскройте процесс рекомбинации носителей. Рассмотрите виды рекомбинации.
- •11.Рассмотрите основные механизмы рассеяния носителей. Охарактеризуйте подвижность носителей. )комбо блять.
- •9.Охарактеризуйте движение электронов под действием внешнего электрического поля.
- •12.Охарактеризуйте электропроводность чистых металлов.
- •13.Охарактеризуйте электропроводность собственных полупроводников.
- •14.Охарактеризуйте электропроводность примесных полупроводников.
- •15.Приведите уравнение токов в полупроводниках.
- •16.Охарактеризуйте составляющие плотности тока в полупроводниках и электрическое поле объемных зарядов.
- •17.Охарактеризуйте контакт электронного и дырочного полупроводников.
- •18.Рассмотрите р-n-переход в равновесном состоянии.
- •19.Получите зависимость контактной разности потенциалов обедненной
- •20.Рассмотрите р-n-переход при прямом смещении.
- •21.Рассмотрите р-n-переход при обратном смещении.
- •23.Охарактеризуйте вах тонкого перехода. Приведите формулу Шокли.
- •28.Рассмотрите вах тонкого перехода. Приведите формулу Шокли. ) ахуенное комбо.
- •24.Рассмотрите Вольт-фарадные характеристики мдп-структур.
- •25.Классифицируйте и охарактеризуйте полевые транзисторы.
- •26.Рассмотрите полевые транзисторы с изолированным затвором.
- •27.Статические вольт-амперные характеристики мдп-транзисторов.
- •29.Охарактеризуйте тепловой ток и дифференциальное сопротивление p-n-перехода. Хуй
- •30.Рассмотрите вах реального p-n-перехода. Хуй
- •30.Рассмотрите эффект поля. Охарактеризуйте мдп-структуры.
5.Получите зависимость концентрации носителей в примесных полупроводниках от температуры. Раскройте закон действующих масс.
На рисунке показаны качественные кривые зависимости логарифма концентрации электронов в зоне проводимости в n-полупроводнике от обратной температуры при различных концентрациях примеси. На кривой можно выделить три участка: I-участок, соответствующий примесной проводимости полупроводника, II-участок, соответствующий области истощения примеси, III- участок собственной проводимости полупроводника. У полупроводников с высокой концентрацией примеси участок истощения примеси отсутствует (см. кривую ND4).
В
В том случае закон действующих масс можно записать в виде nno*pno=ni2 для
n-полупроводника,(2.4.7)npo*ppo=ni2для р-полупроводника.
Из
(2.4.7) следует, что легируя полупроводник
примесью, мы повышаем концентрацию
основных носителей, что приводит к
понижению концентрации неосновных
носителей, т.к. их произведение должно
оставаться неизменным.
6.Охарактеризуйте неравновесных носителей. Раскройте процесс рекомбинации носителей.
Наряду с процессом тепловой генерации электронов и дырок вследствие перехода электронов из валентной зоны в зону проводимости в полупроводниках протекает процесс рекомбинации свободных носителей. Если бы процесс генерации был единственным, то концентрация свободных носителей непрерывно возрастала с течением времени. Процесс генерации носителей уравновешивается рекомбинацией носителей. Электрон в зоне проводимости может потерять вследствие определенных причин энергию и перейти опять в валентную зону.При этом ликвидируется как электрон проводимости, так и дырка в валентной зоне.
При любой температуре в полупроводниках устанавливается равновесие между процессом тепловой генерации носителей и процессом рекомбинации. Этому равновесию соответствует равновесная концентрация носителей. Такие носители называются равновесными. Закон действующих масс применим только к равновесным носителям.
Если генерация носителей заряда осуществляется под действием других факторов, а не вследствие повышения температуры, таких как облучение светом, введение носителей заряда извне за счет электрического поля и т.п., то концентрация носителей будет отличаться от равновесной. В полупроводнике появятся избыточные носители называемые неравновесными носителями. Концентрации таких носителей обозначают через n и p. Полная концентрация носителей заряда будет равна:
n=n0+nи p=p0+p (2.5.1) где no и po - равновесные концентрации.
Каждый неравновесный носитель возникнув в полупроводнике существует в нем определенное время ограниченное его рекомбинацией. Для отдельных носителей это время различно, поэтому вводят среднее время жизни носителей, которое для электронов обозначают n, а для дырок p.
Процесс
генерации характеризуется скоростью
генерации G,
которая равна числу носителей появляющихся
в единицу времени в единичном объеме
полупроводника. Аналогично процесс
рекомбинации характеризуют скоростью
рекомбинации
Знак минус указывает на то, что в процессе рекомбинации концентрация носителей уменьшается.
