- •Оглавление Пупилин
- •Моделирование цепей постоянного тока
- •I. Моделирование цепей постоянного тока.
- •80 Минут
- •1.1. Общая характеристика программы Electronics Workbench.
- •1.2. Снятие вольтамперной характеристики.
- •Построение схемы рис. 2.
- •Задание параметров элементов схемы
- •Снятие вольтамперной характеристики
- •1.3. Измерение эквивалентного сопротивления цепи.
- •Построение схемы рис. 4.
- •Настройка мультиметра.
- •Измерение эквивалентного сопротивления
- •II. Самостоятельная работа.
- •80 Минут
- •Моделирование цепей однофазного синусоидального тока
- •Общие теоретические сведения.
- •1.2. Измерение действующих значений тока и напряжения в цепи.
- •Построение схемы рис. 1.
- •Задание параметров элементов схемы
- •1.3. Снятие вольтамперной характеристики с помощью осциллографа.
- •Построение схемы рис. 2.
- •Задание параметров элементов схемы.
- •Измерение активной, реактивной и полной мощностей.
- •Построение схемы рис. 4.
- •Задание параметров элементов схемы.
- •II. Самостоятельная работа.
- •80 Минут
- •Исследование частотных характеристик rl - и rc – цепей
- •Общие теоретические сведения.
- •1.2. Исследование частотных характеристик последовательных rl - и rc – цепей.
- •Построение схемы рис. 2.
- •Создание схемы rc – цепи
- •Получение осциллограммы сигналов в последовательной rc –цепи.
- •Получение амплитудно – частотной характеристики
- •Получение фазо – частотной характеристики
- •II. Самостоятельная работа.
- •80 Минут
- •Исследование последовательных резонансных цепей
- •I. Исследование характеристик резонансных цепей.
- •120 Минут
- •Общие теоретические сведения.
- •1.2. Исследование частотных характеристик последовательного колебательного контура.
- •Построение схемы исследования цепи.
- •Получение осциллограммы сигналов в последовательном контуре.
- •Получение амплитудно – частотной характеристики
- •Получение фазо – частотной характеристики
- •Определение экспериментальным путем резонансной частоты fР
- •40 Минут
- •Исследование параллельных резонансных цепей
- •I. Исследование характеристик параллельных резонансных цепей.
- •100 Минут
- •Построение схемы исследования цепи.
- •Получение осциллограммы сигналов в параллельном контуре.
- •Получение амплитудно – частотной характеристики
- •Получение фазо – частотной характеристики
- •Определение экспериментальным путем резонансной частоты fР
- •60 Минут
- •Моделирование трехфазных цепей
- •I. Исследование соединения «звезда-звезда».
- •100 Минут
- •1.1. Общие теоретические сведения.
- •1.2. Исследовние амлитудно-фазовых соотношений между напряжениями и токами соединения «звезда-звезда»
- •Построение схемы исследования цепи.
- •Получение осциллограммы сигналов.
- •1.3. Измерение мощности в трехфазных цепях.
- •Построение схемы измерения мощности.
- •60 Минут
- •Исследование переходных процессов в цепях с одним накопителем энергии
- •I. Исследование переходных процессов в цепях с одним накопителем энергии.
- •100 Минут
- •1.1. Исследование переходных процессов при подключении rc-цепи к источнику постоянного напряжения и при разряде конденсатора.
- •Построение схемы рис. 1.
- •Задание параметров элементов схемы
- •Получение осциллограммы переходных процессов.
- •1.2. Исследование переходных процессов при подключении rl-цепи к источнику синусоидального напряжения.
- •60 Минут
- •Исследование переходных процессов в цепях с двумя накопителями энергии
- •Самостоятельная работа. 60 минут
- •I. Исследование переходных процессов в цепях с двумя накопителями энергии.
- •100 Минут
- •1.1. Общие теоретические сведения.
- •1.2. Исследование переходных процессов при разряде конденсатора с начальным напряжением на rl- цепь.
- •Построение схемы рис. 1.
- •Разряд конденсатора на идеальную катушку индуктивности
- •Разряд конденсатора при низкой добротности контура
- •60 Минут
- •Часть I. Методы расчета переходных процессов в линейных электрических
- •Знакомство с расчетом переходных процессов при помощи
- •Часть II. Методы расчета мощности напряжения и тока в электрических цепях с синусоидальным и несинусоидальным периодическим электрическим током.
- •Часть I. Методы расчета переходных процессов в линейных электрических
- •I. Знакомство с расчетом переходных процессов при помощи MathCad
- •20 Минут
- •1.1. Рассмотрим пример:
- •II. Самостоятельная работа.
- •60 Минут
- •Часть II. Методы расчета мощности напряжения и тока в электрических
- •I. Знакомство с расчетом токов напряжений и мощности MathCad в цепях с синусоидальным и несинусоидальным периодическим током.
- •20 Минут
- •1.1. Рассмотрим пример:
- •II. Самостоятельная работа.
- •60 Минут
- •Зачетное занятие по MathCad 2000.
- •Часть I.Зачетное занятие по MathCad 2000
- •I. Самостоятельная работа. 80 минут
- •Часть II. Итоговое занятие за 4 семестр по основным темам дисциплины
- •Часть I.Зачетное занятие по MathCad 2000 ( юнита 1.)
- •I. Самостоятельная работа
- •80 Минут
- •Часть II. Итоговое занятие за 4 семестр по основным темам дисциплины
- •I. Выполнение практической работы.
- •80 Минут
- •Исследование цепей с периодическими несинусоидальными токами
- •I. Исследование цепей с периодическими несинусоидальными токами.
- •60 Минут
- •Общие теоретические сведения.
- •1.2. Линейчатый спектр гармонического сигнала.
- •1.3. Фурье-анализ треугольного сигнала.
- •II. Самостоятельная работа.
- •100 Минут
- •Исследование полупроводникового диода и стабилитрона
- •1.1. Общие теоретические сведения.
- •1.2. Исследование полупроводникового диода
- •80 Минут
- •1.2.1. Исследование прямой ветви вах диода
- •Построение схемы исследования прямой ветви вах диода
- •Снятие прямой ветви вах диода
- •1.3. Исследование вах диода на экране осциллографа
- •Построение схемы исследования вах диода на экране осциллографа
- •40 Минут
- •Исследование биполярного транзистора
- •I. Исследование биполярного транзистора
- •120 Минут
- •1.1. Общие теоретические сведения.
- •1.2. Исследование входных и выходных характеристик биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером
- •1.2.1. Исследование входной характеристики транзистора в схеме с общим эммитором
- •Построение схемы исследования входной вах транзистора
- •Снятие входной вах транзистора
- •1.2.2. Исследование выходной характеристики транзистора в схеме с общим эммитором на экране осциллографа
- •Построение схемы исследования семейства вах транзистора
- •40 Минут
- •Исследование характеристик операционного усилителя, неинвертирующих усилителей
- •I. Исследование характеристик операционного усилителя, неинвертирующих усилителей
- •120 Минут
- •1.1. Общие теоретические сведения.
- •1.2. Исследование характеристик оу
- •Построение схемы измерения входных токов оу
- •Измерение входных токов оу
- •Построение схемы определения напряжения смещения
- •Определение напряжения смещения
- •1.3. Исследование неинвертирующего усилителя
- •Построение схемы исследования неинвертирующего усилителя
- •40 Минут
- •2.1. Исследование характеристик оу
- •2.2. Исследование влияния параметров неинвертирующего усилителя (рис.3)
- •Исследование инвертирующих усилителей, интегрирующих и дифференцирующих схем на оу
- •I. Исследование инвертирующего усилителя, интегратора на оу
- •120 Минут
- •1.1. Исследование инвертирующего усилителя
- •70 Минут Общие теоретические сведения
- •Исследование инвертирующего усилителя средствами сапр
- •Построение схемы исследования инвертирующего усилителя
- •1.2. Исследование интегратора на оу
- •50 Минут Общие теоретические сведения
- •Построение схемы исследования интегратора на оу
- •40 Минут
- •Исследование усилителя переменного тока на оу
- •I. Исследование усилителя переменного тока на оу.
- •120 Минут
- •1.1. Общие теоретические сведения
- •1.2. Исследование усилителя переменного тока на оу средствами сапр
- •Построение схемы исследования усилителя
- •Анализ режима ограничения сигнала в усилителе.
- •Получение фазо – частотной характеристики усилителя
- •40 Минут
- •Исследование и синтез логических схем
- •Исследование и синтез логических схем
- •80 Минут
- •Исследование характеристик логического элемента "или-не"
- •Краткое описание методики синтеза простых логических схем по таблице истинности.
- •Иллюстрация возможностей сапр Electronics Workbench при проектировании логических схем по таблице истинности.
- •Иллюстрация возможностей сапр при проектировании простых логических схем по логической функции
- •II. Самостоятельная работа.
- •80 Минут
- •Исследование дешифраторов
- •I. Краткое описание характеристик дешифратора
- •120 Минут
- •Исследование дешифратора
- •Построение схемы исследования дешифратора
- •Исследование схемы каскадирования дешифраторов
- •Построение схемы исследования дешифратора
- •40 Минут
- •Исследование характеристик триггеров
- •I. Работа под руководством преподавателя. 80 минут Исследование характеристик триггеров
- •II. Самостоятельная работа. 80 минут
- •I. Исследование характеристик триггеров
- •80 Минут
- •1.1. Краткое описание назначения и основных функциональных возможностей триггера
- •1.2. Исследование характеристик триггера типа rs средствами сапр
- •Построение схемы исследования триггера типа rs
- •1.3. Исследование характеристик триггера типа jk средствами сапр.
- •1.4. Исследование характеристик триггера типа jk в счетном режиме (т триггер) при помощи сапр.
- •80 Минут
- •Порядок исследования работы приоритетных входов r и s установки
- •Исследование характеристик счетчиков
- •Работа под руководством преподавателя. 80 минут
- •Самостоятельная работа. 80 минут
- •I. Исследование характеристик счетчиков
- •80 Минут
- •1.1. Краткое описание назначения и основных функциональных возможностей счетчиков.
- •Классификация счетчиков
- •Исследование суммирующих двоичных счетчиков с последовательным переносом.
- •Построение схемы исследования идеальной модели двоичного счетчика
- •Настройка приборов
- •Моделирование работы счетчика
- •Исследование вычитающих двоичных счетчиков с последовательным переносом.
- •80 Минут
- •Пояснение к схеме (рис. 3)
- •Исследование характеристик цифро-аналоговых преобразователей
- •I. Исследование характеристик цап.
- •120 Минут
- •1.1. Краткое описание назначения и основных характеристик цифро-аналоговых преобразователей.
- •Исследование цифро-аналоговых преобразователей с параллельным суммированием токов.
- •1.3. Исследование цифро-аналоговых преобразователей с последовательным суммированием токов. Вариант №1.
- •1.4. Исследование цифро-аналогового преобразователя с последовательным суммированием токов. Вариант №2.
- •1.5. Построение функциональных генераторов на базе цап.
- •II. Самостоятельная работа.
- •40 Минут
- •Исследование характеристик аналого-цифровых преобразователей
- •I. Исследование характеристик ацп.
- •120 Минут
- •1.1. Краткое описание назначения и основных характеристик аналого-цифровых преобразователей.
- •Исследование аналого-цифровых преобразователей с последовательным преобразованием.
- •Исследование аналого-цифровых преобразователей с параллельным преобразованием.
- •Применение аналого-цифрового преобразователя для составления таблиц кодирования функциональных генераторов на цап.
- •II. Самостоятельная работа.
- •40 Минут
Исследование характеристик логического элемента "или-не"
Схема исследования логического элемента "ИЛИ-НЕ", представлена на рис. 1.
Рис. 1
На схеме рис. 1 входы логического элемента "ИЛИ-НЕ" подключены к генератору слов, формирующего последовательность двоичных чисел 00, 01, 10 и 11. Правый (младший) двоичный разряд каждого числа соответствует логической переменной Х1, левый (старший)– логической переменной Х2. К входам логического элемента также подключены логические пробники, которые загораются красным светом при поступлении на этот вход логической "1". Выход логического элемента подключен к логическому пробнику, который загорается красным светом при появлении на выходе логической "1".
Построение схемы исследования логического элемента "ИЛИ-НЕ"
Запустите при помощи ярлыка на рабочем столе Windows программу Electronics Workbench.
Построение схемы рис. 1 произведем в два этапа: сначала разместим как показано на рис. 1 пиктограммы элементов, а затем последовательно соединим их.
Щелкните по кнопке
панели библиотек компонентов и контрольно-измерительных приборов. Из появившегося окна логических элементов вытащите пиктограмму логического элемента NOR ("ИЛИ-НЕ").
Щелкните по кнопке
Из
появившегося окна последовательно
вытащите пиктограммы логических
пробников
.
Разверните логические пробники, так как показано на рис. 1. Для этого на панели функций воспользуйтесь кнопкой поворота
.
Щелкните по кнопке
панели библиотек компонентов и контрольно-измерительных приборов. Из появившегося окна индикаторов вытащите пиктограмму генератора слов
.
Расположите методом буксировки пиктограммы элементов так, как показано на рис. 1 и соедините элементы согласно рисунку.
Двойным щелчком кнопки мыши откройте лицевую панель генератора слов.
В левой части панели генератора слов отображаются кодовые комбинации в шестнадцатеричном коде, а в нижней части - в двоичном.
Заполним окно шестнадцатеричного кода кодовыми комбинациями, начиная с 0 в верхней нулевой ячейке и далее с прибавлением 1 в каждой последующей ячейке. С этой целью щелкните по кнопке
,
в появившемся окне предустановок
включите опцию Up counter
и щелкните по кнопке Accept.В окне Frequency установите частоту формирования кодовых комбинаций равной 1 Гц.
Последовательности двоичных чисел 00, 01, 10 и 11 соответствует в шестнадцатеричном коде - 0, 1, 2, 3. Запрограммируем генератор на периодическое формирование указанной последовательности чисел.
Наберите в окне Final число 0003 и щелкните на кнопке Cycle.
Запустите процесс моделирования при помощи выключателя. Наблюдайте, при каких сочетаниях входных сигналов на выходе логического элемента появится "1". Щелкая по кнопке Step, заполните в Отчете таблицу истинности для элемента "ИЛИ-НЕ". Остановите процесс моделирования при помощи выключателя.
Сохраните файл в папке с вашей Фамилией под именем Zan_17_01 .
