Рентгендік талдау әдісі.

Рентгенограммалық талдау арқылы зерттеулер әр түрлі материалдардың құрамын, құрылысын анықтауда кеңінен қолданылады. Рентгенографиялық талдау үшін толқын ұзындығы 10^-2 – 10² А⁰ аралығындағы рентгендік сәулелерін қолданады. Рентгендік құбылыстарда рентген сәулесін алу үшін металл антикатодпен жоғарғы қысым әсерінен жеделдетілген электрондардың соқтығысуын қолданады. Мұндай жағдайда пайда болған рентген сәулесін толқын ұзындығына байланысты қатты және жұмсақ деп, спектрлік құрамына байланысты - үздіксіз және үздікті деп, антикатод затының табиғатына байланысты тәуелсіз және сипаттамалық (линейчатое) (тек қана антикатод затының табиғатымен анықталады) деп, сондай-ақ әртүрлі ұзындықтағы толқындардан құралған полихроматты және бірдей толқын ұзындықтағы толқындардан тұратын монохроматты (монохроматты жағдайда негізінен -сериялы желіні қолданады (электрондардың атомда L-деңгейден K-деңгейге өту кезінде пайда болады)) толқындар деп жіктейді.

Рентген сәулесін кристалды заттарды зерттеу үшін қолдану оның толқын ұзындығының табиғи дифракциялық тор қызметін атқаратын кристалл торлардағы атом аралық қашықтықпен сәйкес келуіне негізделген. Рентгенографиялық әдістің мәні рентген сәулесінің кристалл құрылымындағы атом жазықтықтарымен шағылысқан кездегі дифракциялық бейнесін зерттеу болып табылады.

Рентгенографиялық талдау негізінде рентген сәулесінің атом жазықтығына түсу немесе шағылысу бұрышы θ және λ толқын ұзындығы мен жазықтық аралық қашықтықты d байланыстыратын Вульф – Брегг теңдеуі жатыр:

nλ=2d·sinθ

мұндағы: n – бүтін сан (1,2,3 т.б..), спектр реті немесе шағылысу реті деп аталады

Рентгенографиялық талдау әдістері әр түрлі материалдардың құрылымы, құрамы мен қасиеттерін зерттеу үшін кеңінен қолданылады. Рентгенографиялық талдау көмегімен: материалдардың сандық және сапалық минералогиялық және фазалық құрамын (рентгенфазалық талдау), кристалды заттардың нақты құрылымын – пішінін, өлшемін, элементар ұяшықтың типін, кристалдардың симметриясын, атмдардың кеңістіктегі координаталарын (рентгенқұрылымдық талдау); кристалдардың жетілу дәрежесін және оларда зоналық кернеуліктің болуын; монокристалдардағы мозаикалық блоктардың өлшемін; қатты ерітінділердің типтерін, олардың реттілік дәрежесі мен еру шекарасын; дисперсті жүйелердегі бөлшектердің өлшемі мен бағдарлануын; заттардың текстурасын және әр түрлі материалдардың беткі қабаттарының күйін; термиялық кеңею тығыздығы мен коэффициентін, жабындардың қалыңдығын; бұйымдардағы ішкі микродефектерді (дефектоскопия) заттардағы төменгі және жоғары температура мен қысымның әсерінен болатын өзгерістерді анықтауға болады.

Бақылау сұрақтары:

1. Дифференциялды-термиялық талдау әдісінің маңызы, қолданылуы

2. Рентгендік талдау әдісінің маңызы мен қолданылуы

3. Құрылыс материалдарын зерттеуде қолданылатын басқа да физика-химиялық талдау әдістері

Ұсынылатын әдебиеттер тізімі

1. Пащенко А.Л. «Физическая химия силикатов»-М.: ВШ, 1986.368с.

2. Киреев В.А. «Краткий курс физической химии».-Учебник.-М.: ВШ, 1978

3. Горшков В.С. «Физическая химия силикатов и других тугоплавких соединений». М.: ВШ, 1988г.336с.

4. Ратинов В.Б. Химия в строительстве. М.: Стрйиздат, 1977г.

5. ПисаренкоА.А. Курс коллоидной химий».Учебник.-М.: ВШ, 1978

Тақырып 19. Ерітінілерің концентрациясы және белгілі бір концентрациядағы ерітінділерді дайындау әдістері