
- •(Сборник лекций) Бийск 2006
- •Проблемы современной микроэлектроники.
- •Оптоэлектроника.
- •Приборы с зарядовой связью.
- •Устройство активной зоны пзс
- •Ввод информации в пзс
- •В ывод информации из пзс
- •Оптический способ ввода информации в пзс.
- •Перемещение носителя информации в активной зоне пзс.
- •Характерные временные интервалы в пзс.
- •1) Время тепловой генерации заряда.
- •2) Время перетекания заряда между соседними электродами. (Динамическое время)
- •3) Время установления потенциала.
- •Пзс в системах обработки информации.
- •Специализированные зу на пзс
- •Архитектура зу с последовательно-параллельной организацией.
- •Акустооптический эффект
- •Оптическое волокно Краткое описание принципов работы
- •Элементы и приборы акустоэлектроники
- •Акустоэлектроника изучает:
- •3. Акустоэлектрические преобразователи
- •5.1 Конструкции пьезокерамических элементов.
- •4. Резонансные явления в устройствах функциональной акустоэлектроники.
- •Колебательных систем:
- •6. Пьезокерамические трансформаторы.
- •6.1 Основные типы и конструкции пт
- •Табл 6.1 Основные характеристики пт напряжения
- •Пьезофильтры
- •11.2 Амплитудные (ам) модуляторы
- •12. Конструкции акустических линий задержки.
- •12.1 Улз на объемных волнах.
- •Краткая характеристика акустических волн в твердых телах
- •Поверхностные акустические волны
- •Линия задержки на пав с разьюстированным преобразователем.
- •9. Отражательные решетки
- •Резонаторы на пав
- •Рис Резонаторы на пав: а) одновходовой, б) двухвходовой; 1- отражательная решетка,
- •Качество отражательной решетки определяет значение добротности резонатора на пав:
- •Схемы подключения резонаторов.
- •10. Акустоэлектрический эффект.
- •Свч генератор на основе диода Ганна
- •Магнитоэлектроника.
- •Магнитодиоды
- •Магнитодиодный усилитель
- •Углеродные нанотрубки: их свойства и применение.
Ввод информации в пзс
Рисунок 4 – Последовательный ввод информации в ПЗС
В объем прибора имплантирована область с дырочной проводимостью (полупроводник р-типа)
Если V0 > 0 p-n переход открыт – течет ток и происходит инжекция дырок из области p+ под электрод №1, т.е. ним накапливается накапливается сгусток положительного заряда.
Если V0 = 0. Инжекции нет, заряда не накапливается.
В ывод информации из пзс
Vk < 0 p-n переход закрыт.
Появление сгустка заряда под электродом Vn приводит к притяжению (в этом случае дрейф не диффузия !) дырок под Vk.
Через Vk проходит импульс тока, величина которого зависит от величины сгустка заряда.
Оптический способ ввода информации в пзс.
Оптический ввод информации реализуется в преобразователях «свет – электрический сигнал». Такие преобразователи используется в видеокамерах и так называемых цифровых фотоаппаратах.
На электродах задан отрицательный потенциал: V1 = V2 …Vn < 0 , электроды прозрачны для света.
Свет производит генерацию электронно-дырочных пар. Электроны уходят, дырки остаются под отрицательным потенциалом электродов. Накапливаемый положительный объемный заряд пропорционален числу поглощаемых квантов, т.е. пропорционален интенсивности света и продолжительности экспозиции (как в фотографии!).
Перемещение носителя информации в активной зоне пзс.
Рассмотрим «трехфазную» схему питания :
Трёхфазная схема питания электродов ПЗС обеспечивает перемещение сгустка заряда только в одну сторону - в сторону потенциальной ямы с более отрицательным зарядом.
Рассмотрим, что происходит в разные моменты времени:
t = t1 - под Э1 перетекает заряд, если он был под Э0,
t2 - под Э1 заряд сохраняется,
t3 - заряд перетекает под Э2,
t4 - заряд сохраняется под Э2,
t5 - заряд перетекает под Э3,
Далее процесс передвижения заряда продолжается.
Шесть тактов за один период работы Т обеспечивают перетекания заряда на три шага (из под Э0 под Э3 ).
Характерные временные интервалы в пзс.
1) Время тепловой генерации заряда.
Представим себе, что отрицательный потенциал включен, а сгустка заряда рядом нет, то есть перетекать нечему. В этой ситуации заряд медленно накапливается. Время накопления заряда в потенциальной яме за счет тепловой генерации электронно-дырочных пар называют временем тепловой генерации зарядат. Это достаточно длительный процесс. Для n-Si при разной степени легирования:
т = 1 – 100 мс.
2) Время перетекания заряда между соседними электродами. (Динамическое время)
Это время можно оценить так же, как оценивается быстродействие МДП.
- D = L/v = L/(U/L) = L2/U
Здесь L – длина канала, v – скорость движения сгустка заряда, - подвижность носителей заряда (в нашем случае дырок), U – разность потенциалов, вызывающая движение сгустка зарядов. В случае ПЗС ориентировочно имеем:
L = 10-5 м; = 0.05 м2/Вс; U = 1 В; В результате получаем: D = 210-9 c.
3) Время установления потенциала.
Это интервал времени, в течение которого приложенный извне электрический потенциал проникает внутрь полупроводника. Это интервал времени называется временем Максвелловской релаксации. Его обозначают через м.
Известно, что м = 0/
Здесь - относительная диэлектрическая проницаемость полупроводника, - его электропроводность. Для кремния с определённым уровнем легирования имеем:
= 10 1/Омм ; 0 = 10-10 Ф/м
Из этого получаем:
м = 10-11 сек.
Для стабильной работы ПЗС необходимо выполнение условий:
м << D << т
К числу важнейших параметров ПЗС относятся амплитуды управляющих напряжений, предельные (максимальная и минимальная) тактовые частоты, потребляемая мощность, фоточувствительность.
Амплитуды управляющих импульсов в практических схемах управления ПЗС прибором составляет 10-20В.
Минимальная тактовая частота ПЗС определяется максимально допустимым временем хранения информации в одном элементе tхр макс:
fмин=1/(m*tхр макс)
m- коэффициент равный числу управляющих фаз питающего генератора.
Максимальная частота работы ПЗС определяется длительностью процесса передачи зарядового пакета из одного элемента в другой tпер:
fмакс=1/(m*tпер)
Потребление мощности в ПЗС происходит только в режиме передачи заряда: мощностью, расходуемой в режиме хранения за счет протекания токов термогенерации и токов утечки через диэлектрик затвора можно пренебреч. Единицы микроватт на бит.
Фоточувсвительность ПЗС зависит от пропускающей способности поверхности , коэффициента поглощения и способа засветки.