- •1. Эффект Холла.
- •1.1. Характер движения носителей заряда при наличии электрического и магнитного полей
- •1.2. Определение критерия слабого магнитного поля
- •1.3. Обьяснить возникновение эффекта Холла в полупроводнике со смешанной проводимостью
- •1.4. Чем определяется величина и знак холовской э.Д.С
- •1.5. Какую физическую информацию можно получить при исследовании эффекта Холла
- •2. Термо-э.Д.С
- •2.1. Объясните возникновение термо-э.Д.С. В полупроводнике смешанного типа проводимости
- •2.2. Какой физический смысл имеет кооф.-т «а»
- •2.3. Чем определяется величина кооф.-та термо-э.Д.С в полупроводнике
- •2.4. Объясните ход температурной зависимости кооф.-та «а» для полупроводника n-типа
- •3. Эффект поля
- •3.1. В чем заключается эффект поля в п/п.
- •3.2. Что такое «поверхностная проводимость», от чего она зависит
- •3.4. Экспериментальная и теоретическая зависимость поверхностной проводимости от индуцированного заряда. Причины различия
- •3.5. Структура и механизм работы мдп-транзистора
- •3.6. Что такое канал. Какие виды каналов бывают и их различия
- •4. Кооф. Поглощения света в п/п
- •4.1. Что такое собственное и фундаментальное поглощение. Каковы типы оптических переходов
- •4.2. Чем определяется плотность состояний электронов в разрешенной зоне.
- •4.3. Чем различаются спектры поглощения для разрешенных и запрещенных прямых межзонных переходов
- •4.4. Метод определения спектра поглощения полупроводника по спектру его пропускания
- •4.5. Методика определения ширины запрещенной зоны п/п по спектру поглощения
- •5. Фотопроводимость
- •5.1. Внутренний эффект
- •5.2. Что такое прямые и непрямые переходы электронов
- •5.3. Определение времени релаксации носителей заряда
- •5.4. Физический смысл понятия «квантовый выход»
- •5.5. Изменение неравновесной концентрации носителей при включении-выключении света при дельта t стремящемся к нулю
- •5.6. Понятие эффективного времени жизни
- •5.7. Дебаевская длина экранирования
- •6. Фотовольтаический эффект
- •6.1. Понятие фотовольтаического эффекта
- •6.2. Физические процессы, происходящие в фотодиоде при его освещении
- •6.3. Суть вентильного и фотодиодного режима работы фотодиода
- •6.4. Объясните отличие световых хар-к фотодиода в вентильном и фотодиодном режимах
- •Список использованных источников
2.2. Какой физический смысл имеет кооф.-т «а»
Коэффициентом термо-э. д. с. называется отношение термо-э. д. с. к разности температур на концах проводника.
где dϕi - изменение разности потенциалов при изменении разности темпера-
тур на концах материала; α - термоэлектрическая способность пары (или коэффициент термо-ЭДС). [В/К ]. В простейшем случае коэффициент термо-ЭДС определяется только материалами проводников, их физическими характеристиками, энергетическим спектром, концентрацией, механизмом рассеяния носителей заряда и от температуры, и в некоторых случаях с изменением температуры α меняет знак.
Также
– величина термо – ЭДС ропорциональна
разности температуры вдоль образца,
т.е.:
Также термо эдс при разности температур I*C – называется коэффициентом концентрации.
F- химический потенциал электронов, совпадающий с предельной энергий Ферми.
I - длина пробега электронов с кинетической энергией Е.
зависит от температуры
2.3. Чем определяется величина кооф.-та термо-э.Д.С в полупроводнике
В простейшем случае коэффициент термо-ЭДС определяется только материалами проводников, однако, строго говоря, он зависит и от температуры, и в некоторых случаях с изменением температуры α меняет знак.
Величина коэффициента термо-ЭДС α является важнейшей характеристикой полупроводника, определяющей его «добротность», т.е. пригодность к использованию в качестве термоэлемента. Величина термо-ЭДС собственного полупроводника определяется лишь шириной запрещенной зоны и соотношением подвижности электронов и дырок.
Термо-эдс полупроводника определяется двумя слагаемыми, каждое из которых соответствует вкладу, вносимому электронами и дырками, причем эти слагаемые имеют противоположные знаки.
Для электронной проводимости термо-эдс будет отрицательна, т.е. горячей торец образца имеет положительный заряд, а холодный – отрицательный. Для акцепторного типа термо-эдс - положительна.
2.4. Объясните ход температурной зависимости кооф.-та «а» для полупроводника n-типа
Вполупроводниках n типа на холодном контакте скапливаются дырки, а на горячем остаётся нескомпенсир.отрицат. заряд (если аномальный механизм рассеяния носителей заряда или эффект увлечения неприводит к перемене знака кооф.Термо эдс.).
3. Эффект поля
Эффект поля в широком смысле состоит в управлении электрофизическими параметрами поверхности твёрдого тела с помощью электрического поля, приложенного по нормали к поверхности.В качестве способа регистрации изменений электрофизических параметров под действием электрического поля когут быть использованы измерение проводимости, дифференциальной ёмкости — метод вольт-фарадных характеристик, поверхностной фото-ЭДС. Чаще всего под эффектом поля понимают изменение проводимости твёрдого тела под действием на него поперечного электрического поля.
3.1. В чем заключается эффект поля в п/п.
Эффект
поля заключается в изменении концентрации
носителей заряда в приповерхностном
слое полупроводника под воздействием
внешнего электрического
поля..Следствием этого является изменение
приповерхностной проводимости под
воздействием перпендикулярно приложенного
электростатического поля. При этом в
полупроводнике в
зависимости от знака и величины поля
могут возникнуть два основных вида
приповерхностных слоев. Обогащенный
слой -
это слой с повышенной концентрацией
основных носителей заряда (в
сравнении с концентрацией носителей в
объеме полупроводника). Обедненный
слой характеризуется
пониженной концентрацией
основных носителей заряда в приповерхностном
слое.
Рисунок – Изменение концентрации свободных носителей в приповерхностной области полупроводника при наличии вблизи поверхности заряженной металлической плоскости.
Существует стационарный и нестационарный эффекты поля. Для стационарного – изменение проводимости совпадает с изменением поля (т.е носители успевают следовать за полем). В нестационарном – заряд основных носителей не успевает за изменением поля и не вносит дополнительную емкость.Любое изменение проводимости, связанное с поверхностным слоем является функцией изгиба энергетических зон на поверхности. Поэтому вводят понятия избыточной концентрации дырок и электронов.
