
Обработка результатов измерений
Протокол испытаний должен содержать данные, перечень которых приведен в приложении 1.
Значения tgδ и СX и образцов вычисляют по формулам (2.1) - (2.3).
Мощность потерь Р (Вт) рассчитывают по формуле
РAX = U2*2πfCXtgδX, (2.4)
где U, f и СX выражаются соответственно в вольтах, герцах, фарадах.
Относительная диэлектрическая проницаемость рассчитывается по формуле
ε =CX*h/(ε0*Sэфф), (2.5)
где ε = 8,85-10~12 Ф/м - электрическая постоянная; Sэфф (м2) - эффективная площадь измерительного электрода, которая зависит от искажения электрического поля у краев измерительного и охранного электродов. Эффективная площадь вычисляется по формуле
Sэфф =π(D+B*g)2 (2.6)
где В поправочный коэффициент, учитывающий искажение электрического поля у края электродов, может быть найден по графику (рис. 2.2).
Рис. 2.2 - Поправочный коэффициент В дня учета искажения поля у краев электродов
Средние значения, стандартные отклонения и 90%-ные доверительные интервалы для найденных значений εr и tgδ рассчитываются по формулам, приведенным в приложении 2.
Контрольные вопросы – ответить на вопросы обязательно
Какие виды поляризаций могут наблюдаться в твердых диэлектриках, что такое диэлектрическая проницаемость?
Какие поляризации сопровождаются диэлектрическими потерями?
Какие механизмы обусловливают диэлектрические потери, что такое мощность диэлектрических потерь и тангенс угла диэлектрических потерь?
Как зависят ε и tgδ от температуры, напряженности электрического
поля?
Как работает схема высоковольтного моста для измерения С и tgδ конденсаторов?
Почему необходима стандартизация измерений С и tgδ конденсаторов?
Как рассчитать величину диэлектрического материала по измеренной емкости конденсатора?
Что представляют собой стеклотекстолит, текстолит, электрокерамика, конденсаторные и установочные стекла?
ЛИТЕРАТУРА
1. Арзамасов Б.Н. Материаловедение: Учебник для вузов / Б.Н. Арзамасов, В.И. Макарова, Г.Г. Мухин и др. Под общей редакцией Б.Н. Арзамасова, Г.Г. Мухина – 3 – е изд., переработанное и доп. – М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2001.-648 с., ил.
2. Горелик С.С. Материаловедение полупроводников и диэлектриков: Учебник для вузов / С.С. Горелик, М.Я. Дашевский – 2 – е изд., переработанное и доп. – М.: МИСИС, 2003.-480 с., ил.
3. Струк В.А., Материаловедение в машиностроении и промышленных технологиях: Учебно-справочное руководство / В.А. Струк, Л.С. Пинчук, Н.К. Мышкин, В.А. Гольдаде, П.А. Витязь – Долгопрудный: - Изд. Дом «Интелект», 2010.-536 с.