- •Московский государственный университет приборостроения и информатики
- •Оптическое материаловедение
- •Часть 2
- •1. Основные положения
- •1.1. Спектральное пропускание Спектральный коэффициент пропускания τλ определяется как отношение прошедшего через кристалл потока излучения Фλτ к падающему Фλ .
- •1.2. Автоматический спектрофотометр сф-56а
- •2.Практическая часть
- •2.1. Методика снятия спектральных характеристик кристалла в уф, видимой и ик областях спектра
- •2.2. Порядок выполнения работы
- •3.Содержание отчета
- •4.Контрольные вопросы
- •Литература
- •Изучение оптических свойств кристаллов
- •1. Основные положения
- •1.1 Методика изучения оптических свойств кристаллов
- •Определение оптических изотропных и анизотропных оптических материалов
- •1.1.2. Определение осности оптически анизотропных кристаллов
- •1.1.3. Определение оптического знака кристалла
- •1.1.4. Определение вращения плоскости колебаний поляризованного света
- •1.2. Поляризационный микроскоп мин-8
- •4. Контрольные вопросы
- •Литература:
- •1.2. Инфракрасный спектрофотометр икс-29
1.2. Инфракрасный спектрофотометр икс-29
Принцип действия спектрофотометра при работе по двухлучевой схеме основан па нулевом методе. Световой поток от источника излучения направляется двумя пучками, в одном из которых помещается исследуемый образец, в другом — фотометрический клин и образец сравнения. Фотометрические свойства световых пучков одинаковы.
Оба пучка направляются на зеркальный модулятор, который попеременно пропускает их в монохроматор.
При отсутствии поглощения в обоих пучках на болометр попадают световые потоки одинаковой интенсивности, на входе усилительной системы при этом сигнал отсутствует.
При наличии поглощения в одном из пучков на болометр попадают потоки различной интенсивности, в результате чего возникает переменный сигнал, частота которого равна частоте прерывания.
Этот сигнал после усиления и преобразования подается на обмотку электродвигателя отработки, который перемещает фотометрический клин, уменьшая до нуля возникшую разность интенсивностей пучков.
Фотометрический клин механически связан с пишущим устройством СПП-4 (пером), которое, перемещаясь, регистрирует на бланке величину пропускания.
В однолучевом режиме прибор работает при электрическом разбалансе мостовой схемы. Оптическая схема спектрофотометра представлена на рисунке 1.
Рисунок 1 - Оптическая схема спектрофотометра ИКС-29
В качестве источников излучения для спектрофотометра используется дейтериевая лампа 1 - для работы в области спектра от 190 до 340 нм и галогенная лампа 3 - для работы в области спектра от 340 до 1100 нм.
Смена источников излучения производится автоматически при помощи плоского зеркала 2, которое в рабочем положении перекрывает световой поток от лампы 1, направляя на входную щель монохроматора световой поток от лампы.
При помощи эллиптического зеркала 4 и плоского зеркала 5 светящееся тело каждого источника излучения проецируется на входную щель 8 монохроматора с увеличением 5 (х5).
Для уменьшения рассеянного света и устранения высших порядков дифракции перед монохроматором установлен блок со светофильтрами 6. Линза 7 служит для согласования оптических систем осветителя и монохроматора.
Двойной монохроматор построен по горизонтальной схеме с постоянным углом отклонения 12° со сложением дисперсий и состоит из двух вогнутых дифракционных решёток 12 с переменным шагом и криволинейным штрихом и сферического зеркала 9, выполняющего роль средней щели.
Сканирование спектра осуществляется одновременным поворотом решёток обоих монохроматоров на одинаковый угол.
На входную щель 11 проецируется изображение выходной щели с увеличением 1(х 1).
Оптическая система кюветного отделения и приёмного устройства, состоящая из трёх торических зеркал 10,13,16, формирует изображение выходной щели в кюветном отделении в плоскости установки образца с увеличением 1(х1) и изображение выходного зрачка на фотоприёмнике 14 блока ФПУ с увеличением 0,2 (х 0,2). На входе и выходе кюветного отделения установлены защитные пластины 15.
2.Практическая часть
2.1. Методика контроля кристалла.
1. Установите переключатель уменьшения скорости развертки в положение «1».
2. Установите в нужное положение переключатель ДИАПАЗОНЫ. На экране отсчетной шкалы волновое число должно соответствовать началу диапазона, а индикаторные лампы должны показывать, что установлена необходимая решетка. Если шкала прибора не установлена на начало диапазона, нажмите кнопки УСКОРЕННО и ПУСК и подождите, пока прибор автоматически не установится на начало выбранного диапазона.
3. Установите кнопочный переключатель УСКОРЕННО в положение ВЫКЛЮЧЕНО, переключатель СКОРОСТЬ РАЗВЕРТКИ — в положение «2» и, оперируя кнопками. ПУСК и СТОП, установите шкалу спектрофотометра точно на начальный штрих.
4. Установите необходимую программу щелей переключателем ПРОГРАММА ЩЕЛЕЙ.
5. Установите перо на начало шкалы, нанесенной на бланке, для чего поставьте переключатель увеличения скорости протяжки бумаги в три раза в положение «1», предварительно переместив бланк до совмещения его начала с пером записывающего устройства. Точную установку произведите перемещением пера.
6. Установите необходимую скорость развертки.
7. Поверните ручку УСИЛЕНИЕ на два-три деления шкалы, откройте оба пучка (при этом перо должно перемещаться в направлении к линии 100%-ного пропускания) и подберите такое усиление, при котором перо, выведенное из положения равновесия на 30—40 делений по шкале коэффициентов пропускания кратковременным перекрытием пучка образца, возвращалось бы в исходное положение и переходило это положение не более одного раза.
Выбирать усиление следует на таком участке спектра, где нет интенсивных полос поглощения атмосферной воды и углекислого газа.
8. Установите перо на 100%-ную линию пропускания с помощью оси, перемещающей компенсирующий клин, отверткой через отверстие над входным окном пучка образца.
9. Установите исследуемый образец в пучок, опустите перо, нажмите кнопку ПУСК и произведите запись спектра.
2.2. Порядок выполнения работы
1. Получить у преподавателя образец кристалла.
2. Снять спектральную характеристику на спектрофотометре ИКС-29 в соответствии с методикой (п. 2.1).
3. Определить по спектральной характеристике коэффициент поглощения
4. Спектрограммы и таблицы приложить к отчету.
5. Сделать выводы по результатам измерения.
3.Содержание отчета
1. Основные положения теоретической части, включая оптическую схему спектрофотометра ИКС-29.
2. Спектральные кривые τλ полученных кристаллов в виде графиков.
3. Расчет коэффициента поглощения. Результаты измерения и расчета привести в таблице 2.
4. Краткий вывод по полученным результатам.
Таблица 2 - Результаты измерения и расчета
Кристалл |
τ3900 |
τ3585 |
τ3500 |
τ3410 |
α при υ, см-1 |
Q×10-6
|
|
||||
3585 |
3500 |
3410 |
5(n=5) |
1(n=1) |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
4. Контрольные вопросы
1. Методы определения добротности.
2. ИК - метод определения добротности
3. Коэффициент экстинкции.
4. Оптическая схема ИК – спектрофотометра.
5. Принцип действия ИК - спектрофотометра.
6. Определение коэффициентов экстинкции.
7. Зависимость качества кристалла от значения коэффициента экстинкции.
8. Какую информацию дает спектральная характеристика кристалла?
Литература:
1. ГОСТ 23136-93. Материалы оптические. Параметры.-Минск: Изд-во Стандартов, - 1995 г. – 21с.
2. Мостяев В.А., Дюжиков В.И. «Технология пьезо- и акустоэлектронных устройств», -М., Ягуар, 1993г. – 280с.
3. Инструкция по эксплуатации инфракрасного спектрофотометра ИКС-29. – 52с
4. Справочник технолога-оптика /М.А. Окатов, Э.А. Антонов, А. Байгожин и др; Под ред. М.А. Окатова.-2 изд. - СПб:Политехника, 2004. – 679с
Оглавление
Определение и исследование спектральных характеристик пропускания кристаллов………………………………………………………………………….....3
Изучение оптических свойств кристаллов…………………………………………11
Определение и исследование качества кристаллов методом ИК – спектроскопии*..……………………………………………………………………..23
___________________
*Лабораторная работа написана автором совместно с Королевым В.А.
