- •Московский государственный университет приборостроения и информатики
- •Оптическое материаловедение
- •Часть 2
- •1. Основные положения
- •1.1. Спектральное пропускание Спектральный коэффициент пропускания τλ определяется как отношение прошедшего через кристалл потока излучения Фλτ к падающему Фλ .
- •1.2. Автоматический спектрофотометр сф-56а
- •2.Практическая часть
- •2.1. Методика снятия спектральных характеристик кристалла в уф, видимой и ик областях спектра
- •2.2. Порядок выполнения работы
- •3.Содержание отчета
- •4.Контрольные вопросы
- •Литература
- •Изучение оптических свойств кристаллов
- •1. Основные положения
- •1.1 Методика изучения оптических свойств кристаллов
- •Определение оптических изотропных и анизотропных оптических материалов
- •1.1.2. Определение осности оптически анизотропных кристаллов
- •1.1.3. Определение оптического знака кристалла
- •1.1.4. Определение вращения плоскости колебаний поляризованного света
- •1.2. Поляризационный микроскоп мин-8
- •4. Контрольные вопросы
- •Литература:
- •1.2. Инфракрасный спектрофотометр икс-29
1.1.3. Определение оптического знака кристалла
Сводится к определению наименований осей в коноскопических фигурах с помощью кварцевого клина, вырезанного параллельно оптической оси, методом “бегущих полосок”. В случае оптически положительного одноосного кристалла, при вдвигании клина его тонким концом вперед, интерференционные кольца в квадратах креста, расположенных вдоль клина, смещаются от центра к периферии. В двух других квадратах кольца смещаются от периферии к центру. Данное смещение связано с возрастанием оптической разности хода с увеличением толщины пластины. Кольца будут тем чаще, чем толще пластина и чем больше двулучепреломление.
1.1.4. Определение вращения плоскости колебаний поляризованного света
Осуществляется в параллельном поляризованном свете со скрещенными николями на полную темноту, если между ними внести пластину из оптически активного кристалла. При этом наблюдается просветление поля.
а)
б)
Рисунок 6 - Коноскопические фигуры одноосного кристалла (а) и двухосного кристалла (б).
Поворотом анализатора на некоторый угол поле снова устанавливается на темноту. Величина угла и направление поворота анализатора от первоначального положения и определит величину и направление поворота плоскости колебаний.
1.2. Поляризационный микроскоп мин-8
Поляризационный микроскоп МИН-8 предназначен для исследования прозрачных объектов в проходящем обыкновенном и параллельном и сходящемся поляризованном свете. От источника света 1 ( рисунок 7 ) лучи, пройдя линзы 2 и 4, падают на призму 5, в которой они преломляются и направляются в поляризатор 7, откуда выходят поляризованным пучком. Далее, пройдя через апертурную диафрагму 8, поляризованные лучи падают на один из двух сменных конденсоров 9 и освещают исследуемый объект. От объекта лучи направляются в объектив 12, затем в анализатор 14 и монометрический светофильтр 15 и дальше идут либо непосредственно в окуляр 19 ( при наблюдении в параллельном поляризованном свете ), либо в тот же окуляр 11, но через линзу Бертрана (при наблюдении в сходящемся поляризованном свете). Откидная линза Лазо 10 включается в ход лучей при работе в сходящемся поляризованном свете с объективами 200, 40; 400,15; 600,85. Между объективом и анализатором в ход лучей может быть введен компенсационный кварцевый клин; компенсационная кварцевая пластина 14 первого порядка.
При работе с объективами 90,20 и выше диафрагма 8 в конденсаторе служит в качестве апертурной диафрагмы, поэтому диафрагма 6 в этом случае должна быть полностью открыта. При работе с объективом 3,50,10 в качестве апертурной служит диафрагма 6, поэтому диафрагма 8 в этом случае должна быть полностью открыта.
2. Порядок выполнения работы
2.1. Исследование кристаллов в параллельном свете.
2.1.1. Определение угла поворота плоскости поляризации.
-изменить толщину исследуемых пластин;
- установить объектив 3,50,10;
- выключить из хода лучей откидную линзу Лазо поворотом рукоятки;
- повернуть диск с тремя монокристаллическими светофильтрами и одним свободным отверстием, чтобы лучи проходили через свободное отверстие;
- выключить линзу Бертрана;
- включить осветитель;
-скрестить николи на полную темноту;
- поставить на поворотный столик исследуемую пластину и наблюдать просветление активного кристалла;
- повернуть анализатор снова на темноту;
- определить величину угла и направление поворота анализатора;
- произвести измерение угла вращения плоскости поляризации, используя монохроматические фильтры для пропускания света с длиной волны 486, 589 и 620 нм;
- произвести расчет постоянной вращения исследуемых ОМ .
2.1.2 Определение изотропных и анизотропных ОМ.
- настройка микроскопа, как в п. 2.1.1;
-установить на поворотный столик исследуемую пластину и, вращая столик, наблюдать четырехкратное просветление и потемнение поля зрения при повороте столика на 360 в случае оптически анизотропного ОК. Сравнить с пластиной из стекла.
Рисунок 7 - Оптическая схема поляризационного микроскопа МИН-8.
2.1.3. Определение осности оптически анизотропного ОК.
-установить объектив 600,85 или 400,65;
- включить в ход лучей откидную линзу Лазо поворотом рукоятки;
- включить линзу Бертрана вращением барашка;
- включить осветитель;
- скрестить николи на полную темноту;
- установить на поворотный столик исследуемую пластину и наблюдать коноскопическую фигуру, произведя подвижкой окуляра при вращении нактанного кольца фокусировку на резкость;
-определить по коноскопическим фигурам осность кристаллов, из которых изготовлена пластина;
- вращая столик, наблюдать смещение и подвижность темного креста при отклонении плоскости среза пластины от перпендикуляра к оптической оси у оптически однородных ОК.
2.1.4. Определение оптического знака ОК.
- настройка микроскопа, как в п. 2.1.3;
вставить в прорезь тубуса микроскопа, расположенную под углом 45 к плоскости симметрии микроскопа, кварцевый клин, представляющий собой клинообразную пластинку кварца, вырезанную параллельно оптической оси, и наблюдать направление смещения интерференционных колец в квадратах коноскопической фигуры, расположенных вдоль клина при перемещении кварцевого клина тонким концом вперед;
- определить оптический знак кристалла в исследуемых пластинах.
3. Содержание отчета.
Специфические оптические свойства ОК - двойное лучепреломление и вращение плоскости поляризации ( рис.1-3 ).
Схемы наблюдения кристалла в параллельном и сходящемся поляризованном свете ( рис. 4-5 ).
Оптическая схема поляризационного микроскопа МИН-8.
Таблица с результатами выполненных исследований.
Выводы по результатам работы.
Таблица 1 – Результаты наблюдения и измерений
-
ОК
Срез пластины
,
нм
,
град/мм
Вид оптически
активного ОК
Осность и знак опически анизотроп-ного ОК
Коноско-пическая фигура
Кварц
Z
486
Кварц
Z
589
Кварц
Z
620
