- •Московский государственный университет приборостроения и информатики
- •Оптическое материаловедение
- •Часть 2
- •1. Основные положения
- •1.1. Спектральное пропускание Спектральный коэффициент пропускания τλ определяется как отношение прошедшего через кристалл потока излучения Фλτ к падающему Фλ .
- •1.2. Автоматический спектрофотометр сф-56а
- •2.Практическая часть
- •2.1. Методика снятия спектральных характеристик кристалла в уф, видимой и ик областях спектра
- •2.2. Порядок выполнения работы
- •3.Содержание отчета
- •4.Контрольные вопросы
- •Литература
- •Изучение оптических свойств кристаллов
- •1. Основные положения
- •1.1 Методика изучения оптических свойств кристаллов
- •Определение оптических изотропных и анизотропных оптических материалов
- •1.1.2. Определение осности оптически анизотропных кристаллов
- •1.1.3. Определение оптического знака кристалла
- •1.1.4. Определение вращения плоскости колебаний поляризованного света
- •1.2. Поляризационный микроскоп мин-8
- •4. Контрольные вопросы
- •Литература:
- •1.2. Инфракрасный спектрофотометр икс-29
2.Практическая часть
2.1. Методика снятия спектральных характеристик кристалла в уф, видимой и ик областях спектра
Запустите программу “СФ-56” в системе Windows 98, включите спектрофотометр (запуск программы и включение спектрофотометра могут осуществляться в произвольной последовательности). Программа готова к работе, когда на мониторе появится меню.
Установите контролируемый образец в спектрофотометр так, чтобы крайняя позиция была свободной.
Работа по программе осуществляется с помощью меню, функциональных клавиш F1…F10, ESC (выход), ENTER (ввод), “↑”, “↓”, “←”, “→” или мыши.
Ввести начало и конец диапазона, в файле накопления ввести имя файла (например: silicium).
При нажатии клавиши F5 (пуск) запускается программа выполнения режима “Сканирования” в соответствии с заданными параметрами. В процессе измерений результаты отображаются в графическом и табличном виде.
Выбор режима “Вывод графика и таблицы на печать” осуществляется с помощью нажатия на “Печать”.
2.2. Порядок выполнения работы
Получить у преподавателя образец кристалла.
Снять спектральную характеристику на спектрофотометре СФ-56А в соответствии с методикой (п. 2.1).
Определить по спектральной характеристике область прозрачности, λгр. и Еg кристалла.
Распечатки в виде графика и таблицы приложить к отчету.
Сделать выводы по результатам измерения.
3.Содержание отчета
Основные положения теоретической части, включая формулы и оптическую схему спектрофотометра СФ-56А.
Спектральные кривые τλ полученных кристаллов в виде графиков и таблиц (распечатанных с компьютера).
Расчет коэффициента R, учитывающего потери на отражение кристаллов; коэффициента внутреннего пропускания τiλ; длины волны на границе прозрачности λгр. при τiλ=0,5; ширины запрещенной зоны Еg. Результаты измерения и расчета привести в табл. 3.1.
Краткий вывод по полученным результатам.
Таблица 1 - Результаты измерения и расчета
Кристалл |
τλ0 |
λ0, нм |
R |
τiλ0 |
0.5τλ0 |
λгр, нм |
Еg, эВ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
4.Контрольные вопросы
Виды кристаллов и их область применения.
Спектральный коэффициент пропускания.
Интегральный коэффициент пропускания.
Связь между спектральным и интегральным коэффициентами пропускания.
Определить коэффициент R потерь на отражение.
Условие прозрачности кристаллов.
Принцип действия спектрофотометра СФ-56А.
Основные элементы и узлы спектрофотометра.
9. Какую информацию дает спектральная характеристика кристалла.
Литература
ГОСТ 23136-93. Материалы оптические. Параметры.-Минск: Изд-во Стандартов,-1995 г.
Химическая технология стекла и ситаллов. Под ред. Н.М. Павлушкина.-М.: Стройиздат,-1983г.-432с.
Спектрофотометр СФ-56А. Техническое описание-Л.:ЛОМО,-2001.-37с.
Оптическое стекло. Каталог.-М.: Машприбор.-1970г.
5. Справочник технолога-оптика /М.А. Окатов, Э.А. Антонов, А. Байгожин и др; Под ред. М.А. Окатова.-2 изд. - СПб:Политехника, 2004.-679с.