- •Содержание
- •Модуль 1.
- •Полупроводниковые приборы
- •Модуль 1.1
- •Электрофизические свойства полупроводников.
- •Модуль 1.2 Электронно-дырочный переход
- •Полупроводниковый диод.
- •Выпрямительные диоды
- •Кремневые стабилитроны (опорные диоды)
- •Контрольные вопросы по модулю 1.2
- •Тест контроля знаний по модулю 1.2
- •Транзисторы.
- •Модуль 1.3 Биполярные транзисторы.
- •Схемы включения биполярного транзистора.
- •Характеристики биполярных транзисторов.
- •Контрольные вопросы по модулю 1.3
- •Тест контроля знаний по модулю 1.3
- •Модуль 1.4 Полевые транзисторы.
- •Характеристики полевого транзистора.
- •Тест контроля знаний по модулю 1.4
- •Модуль 1.5 Тиристоры
- •Устройство приборов.
- •Динистор.
- •Тринистор
- •Контрольные вопросы по модулю 1.5
- •Тест контроля знаний по модулю 1.5
- •Маркировка полупроводниковых приборов.
- •Модуль 2 Фотоэлектронные приборы.
- •Фотоэлементы с внешним фотоэффектом.
- •Вакуумные и газонаполненные фотоэлементы.
- •Б) вакуумного фотоэлемента; в) газонаполненного фотоэлемента.
- •Характеристики фотоэлемента
- •Фотоэлектронные умножители.
- •Устройство.
- •2. Внутренний фотоэффект.
- •Фоторезисторы.
- •Фотодиоды.
- •Фототранзисторы.
- •Применение:
- •3. Вентильный фотоэффект.
- •Тесты для контроля знаний по модулю 2.
- •Модуль 3 Интегральные микросхемы
- •Классификация имс.
- •По способу изготовления:
- •Гибридные имс
- •По типу формируемых транзисторов:
- •По степени интеграции.
- •По типу защиты от внешних воздействий (температуры, влажности, вредных веществ в атмосфере, солнечной радиации и др.)
- •По конструктивному оформлению:
- •По степени использования в различных видах аппаратуры:
- •Однотактные выпрямители
- •Двухполупериодный выпрямитель со средней точкой.
- •Трёхфазный выпрямитель
- •Двухтактные мостовые выпрямители
- •Трёхфазный мостовой выпрямитель
- •Модуль 4.2. Сглаживающие фильтры
- •Основные требования к сглаживающим фильтрам.
- •Простейшие сглаживающие фильтры. Ёмкостный параллельный фильтр
- •Индуктивный последовательный фильтр
- •Сложные сглаживающие фильтры
- •Резистивно-ёмкостные фильтры
- •Тест для проверки предъявляются по модулю 4.
- •Модуль 5. Электронные усилители.
- •Классификация усилителей:
- •Основные параметры усилителя.
- •Однокаскадный усилитель на биполярном транзисторе.
- •Температурная стабилизация
- •Многокаскадные усилители.
- •Однотактный усилитель мощности.
- •Двухтактные усилители мощности
- •Преимущества двухтактных усилителей мощности:
- •Бестрансформаторный усилитель мощности
- •Усилитель постоянного тока
- •Режимы работы усилительных каскадов
- •Достоинство.
- •Применение.
- •Обратная связь в усилителях
- •Классификация обратной связи
- •Тест контроля знаний по модулю 5
- •Модуль 6 Электронные генераторы
- •Классификация электронных генераторов.
- •Параметры генераторов
- •Модуль 6.1. Электронные генераторы гармонических колебаний
- •Генераторы типа lc
- •Генератор с трансформаторной связью
- •Индуктивная трехточка
- •Емкостная трехточка
- •Генераторы типа rс
- •Модуль 6.2. Электронные генераторы несинусоидальных колебаний – импульсные.
- •Генераторы пилообразного напряжения
- •Генераторы прямоугольных импульсов.
- •Симметричный мультивибратор
- •Триггер
- •Тестовый контроль знаний по модулю:
- •Консультации по тестовому контролю знаний Модуль 1.
- •Модуль 2.
- •Модуль 4.
- •Модуль 5.
- •Модуль 6.
- •Третий знак цифра
- •Заключение
- •Студентам
- •Преподавателям
- •Список литературы
Гибридные имс
В современных гибридных ИМС пассивные элементы, контактные площадки и внутрисхемные соединения изготавливают путем последовательного нанесения на подложку пленок из различных материалов, а активные элементы выполняют в виде отдельных навесных деталей (в миниатюрном или бескорпусном оформлении.)
В зависимости от толщины пленок различают толстопленочные (от 1 до 25 мкм) и тонкопленочные (до 1 мкм) ИМС.
Существенным недостатком толстопленочных микросхем является нестабильность номинальных значений величин пассивных элементов и относительно низкая плотность монтажа. Тонкие пленки обеспечивают более высокую плотность монтажа и высокую точность их исполнения.
Совмещение ИМС – активные элементы изготовляют в объеме полупроводникового кристалла, а пассивные элементы – методом тонкопленочной технологии на его поверхности. Т.к. каждый из этих технологических принципов имеет свои преимущества, то оба указанных типа ИМС взаимно дополняют друг друга, не конкурируя между собой.
Это самые перспективные ИМС.
Изготовление ИМС это сложный комплекс технологических приемов и операций, к которому предъявляются особые требования по чистоте применяемых материалов и производственных помещений, точности и стабильности работы оборудования, точности поддержания режимов, квалификации обслуживающего персонала.
Изготовление ведется одновременно групповым способом на автоматизированном технологическом оборудовании. Процент годности кристаллов составляет единицы или десятки процентов в зависимости от сложности ИС и площади поверхности кристалла.
По типу формируемых транзисторов:
- полевые (МОП),
- биполярные.
Биполярные отличаются высоким быстродействием, полевые – высокой плотностью размещения элементов и сравнительно малой потребляемой мощностью, более простой технологией, меньшими размерами.
По степени интеграции.
Степень интеграции – число элементов, содержащих в кристалле одной интегральной схемы.
Под элементом понимают не транзистор или диод, а узел, выполняющий элементарную операцию. Чем больше элементов, тем большие функции выполняет ИС:
- интегральные схемы (ИС) малой интеграции МИС с числом элементов до 10,
- средней степени интеграции СИС, с числом элементов от 10 до 100,
- большой степени интеграции БИС, с числом элементов от 100 до 1000,
- сверхбольшой степени интеграции СБИС, с числом элементов свыше 1000.
Большой интегральной схемой называется схема, в корпусе которой на одной пластине содержится более 100 схемных ячеек, соединенных между собой в сложную функциональную схему.
Причины перехода к БИС и СБИС-ам.
- Общая современная тенденция, связанная с интеграцией.
- Стремление сократить целый ряд операций, обладающих низкой надежностью при производстве обычных интегральных схем, (резка пластин, установка кристаллов в корпусе, присоединение кристалла к выводам).
- Получение более качественных показателей и большей надежности электронных устройств при меньших затратах (уменьшение количества сварных соединений и числа технологических операций).
Интенсивность отказов БИС всегда меньше суммы интенсивностей отказов составляющих ее схем.
В Японии разработана микросхема с памятью 160 Мбит: на кремневой пластине размеров 8.9 на 16.9 мм можно записать текст объемом 640 газетных полос (эта схема содержит около 400 млн. транзисторов, конденсаторов
и других элементов). В настоящее время выпущено микросхема с памятью 64 Гбит.
По виду обрабатываемой информации ИМС бывают:
- логические (цифровые),
- линейные (аналоговые)
Цифровые микросхемы используются в устройствах дискретной обработки информации, ЭВМ, системах автоматики. Активные элементы этих устройств обычно работают в ключевом режиме. Информация в таких ИС представляется определенной последовательностью сигналов в виде импульсов прямоугольной формы.
Аналоговые микросхемы используются в устройствах, осуществляющих линейные и нелинейные преобразования входных аналоговых и импульсных сигналов в виде изменяющегося уровня напряжения (или тока). Это УВЧ, УНЧ, смесители, фильтры, линии задержки и др.
