- •1. Магнитный вид неразрушающего контроля
- •1.1. Основы намагничивания
- •1.2. Основные магнитные величины
- •1.3. Физическая сущность магнитного вида контроля
- •1.4. Способы намагничивания деталей
- •1.5. Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля
- •1.5.1. Общие положения
- •1.5.2. Магнитные порошки и суспензии
- •1.5.3. Дефектоскопы и вспомогательные средства контроля
- •1.5.3.1. Дефектоскоп магнитопорошковый мд-12п
- •1.5.3.2. Дефектоскоп магнитопорошковый мд-13пр
- •1.5.3.3. Устройство намагничивающее унм-300/2000
- •1.5.3.4. Устройство для контроля зубчатых колес и шестерен умдз
- •1.5.3.5. Стенд смк-12 для магнитопорошкового контроля деталей
- •1.5.4. Подготовка к проведению магнитопорошкового контроля
- •1.5.4.1. Подготовка средств контроля
- •1.5.4.2. Подготовка деталей к контролю
- •1.5.5. Проведение магнитопорошкового контроля
- •1.5.5.1. Намагничивание детали
- •1.5.5.2. Оценка результатов контроля
- •1.5.6. Лабораторный практикум
- •1.5.6.1. Название и цель лабораторной работы
- •1.5.6.2. Объекты контроля
- •1.5.6.3. Средства контроля
- •1.5.6.3. Проведение контроля
- •1.5.6.3. Оформление отчета по лабораторной работы
1.5.3.5. Стенд смк-12 для магнитопорошкового контроля деталей
Стенд СМК-12 предназначен для магнитопорошкового контроля ответственных деталей подвижного состава, имеющих удлиненную и сложную форму. Стенд позволяет контролировать все детали, вписывающиеся в цилиндр длиной до 1500 мм при диаметре до 200 мм (детали удлиненной формы) и высотой до 150 мм при диаметре до 500 мм (детали сложной формы).
Стенд, укомплектованный одним или двумя одинаковыми дефектоскопами МД-12ПШ или МД-12ПЭ. Конструкция стенда (рис. 13) позволяет осуществлять перемещение округлых деталей в рабочей зоне намагничивающих устройств, перемещение намагничивающих устройств вдоль крупных деталей удлиненной формы, размещаемых на призматических опорах стола, перемешивание магнитной суспензии и её подачу в зону контроля, сбор использованной суспензии для повторного использования, освещение рабочей зоны, включая труднодоступные участки. Элементы стенда допускают перемещение дефектоскопов к другим рабочим местам.
Рис. 13. Стенд СМК-12 для магнитопорошкового контроля: 1 – подставки для размещения блока питания дефектоскопов; 2 – стойки для установки соленоидов; 3 – устройство для перемешивания и подачи суспензии; 4 – рабочий стол с поддоном для сбора суспензии; 5 – поворотный стол для намагничивания деталей; 6 – опоры для установки контролируемых деталей; 7 – емкость для нанесения суспензии; 8 – емкость для сбора суспензии; 9 – контролируемая деталь
1.5.4. Подготовка к проведению магнитопорошкового контроля
1.5.4.1. Подготовка средств контроля
Перед проведением контроля необходимо:
провести внешний осмотр и подготовку к работе дефектоскопов, намагничивающих устройств, вспомогательных приборов и устройств;
проверить работоспособность средств контроля;
подготовить магнитный индикатор.
Не допускается работа с применением неисправных дефектоскопов и вспомогательных средств контроля.
Подготовку к работе дефектоскопов, намагничивающих устройств и вспомогательных приборов осуществляются в соответствии с требованиями эксплуатационных документов на них. При подготовке к работе дефектоскопов, работающих от электрической сети, по показаниям приборов на лицевой панели проверяют соответствие напряжения питания и намагничивающего тока требованиям эксплуатационных документов на них.
1.5.4.2. Подготовка деталей к контролю
Перед проведением контроля с контролируемой поверхности детали должны быть удалены ржавчина, шлак, окалина, загрязнения, смазка, слой старой растрескавшейся краски и другие покрытия, мешающие проведению контроля. При очистке применяют волосяные и металлические щетки, скребки, губки, ветошь и салфетки не оставляющие ворса на очищаемой поверхности.
1.5.5. Проведение магнитопорошкового контроля
Магнитопорошковый контроль деталей включает следующие основные операции:
намагничивание;
нанесение магнитного индикатора на контролируемую поверхность;
осмотр контролируемой поверхности и обнаружение дефектов;
размагничивание и очистку деталей (при необходимости).
Магнитопорошковый контроль деталей проводят способом приложенного поля и способом остаточной намагниченности.
При контроле способом приложенного поля магнитный индикатор наносят на контролируемую поверхность перед намагничиванием или при намагничивании. Осмотр контролируемой поверхности проводят при намагничивании и (или) после намагничивания.
При контроле способом остаточной намагниченности деталь сначала намагничивают, затем после прекращения намагничивания на контролируемую поверхность наносят магнитный индикатор и проводят осмотр поверхности.
