- •Основи електроніки навчальний посібник на базі програми схемотехнічного моделювання «multisim»
- •2.12. Поточний самоконтроль 83
- •2.10.1. Тестові контрольні запитання 83
- •3.7 Поточний самоконтроль 117
- •4.13. Поточний самоконтроль 166
- •5.10. Поточний самоконтроль 195
- •6.7. Поточний самоконтроль 230
- •7.5. Поточний самоконтроль 264
- •Передмова
- •Частина 1. Базові визначення, параметри та характеристики Розділ 1. Електричні інформаційні сигнали та типові системи їх обробки.
- •1.1. Узагальнена структура інформаційних систем
- •1.2 Компоненти радіоелектронної апаратури
- •1.2.1 Класифікація
- •1.2.2. Пасивні компоненти
- •1.2.3. Активні компоненти – електронні прилади
- •1.3. Типові процеси обробки еіс
- •1.4 Аналіз електронних пристроїв за постійним струмом, в частотній та часовій областях
- •1.5 Відносні та логарифмічні коефіцієнти підсилення
- •1.6.1 Класифікація
- •1.6.2 Подільники напруги
- •1.6.3. Генератори напруги та струму
- •1.6.5. Дослідження диференціюючих rc-схем
- •1.6.6. Дослідження інтегруючих rc-схем
- •1.7. Типові електронні інформаційні системи
- •1.7.1. Електроніка та радіотехніка
- •1.7.2. Вимірювальна система
- •1.7.3. Аналогові та цифрові системи
- •1.8.1. Основні постулати радіоелектроніки
- •1.8.2. Наноелектроніка
- •1.9. Поточний самоконтроль
- •1.9.1. Завдання для дослідження схем в ms
- •1.9.2. Тестові контрольні запитання
- •Частина іі. Активні компоненти реа Розділ 2. Електронно-дірковий перехід – напівпровідникова базова структура твердотілих компонентів реа
- •2.1. Класифікація речовин за провідністю
- •2.2. Дрейфовий та дифузійний струми власних напівпровідників
- •2.3 Домішкові напівпровідники
- •2.4. Визначення та класифікація електричних переходів
- •2.5. Електронно-дірковий перехід в стані рівноваги
- •2.6. Пряме та зворотне вмикання едп
- •2.7. Вольт-амперна характеристика ідеалізованого едп
- •2.8. Ємнісні властивості p-n переходу
- •2.9. Пробій p-n переходу
- •2.10. Перехід метал-напівпровідник
- •2.11. Особливості р-n переходів та їх використання для побудови різноманітних компонентів електронної апаратури
- •2.12. Поточний самоконтроль
- •2.10.1. Тестові контрольні запитання
- •Розділ 3. Напівпровідникові діоди та їх використання
- •3.1. Визначення, структура та класифікація
- •3.2. Вольт-амперна характеристика
- •3.3. Параметри нд
- •3.4. Модель та частотні властивості нд
- •3.5. Основні види пробою нд
- •3.6.Типові функціональні пристрої
- •3.6.1. Випрямлячі
- •3.6.3. Імпульсні діоди
- •3.6.4. Напівпровідникові стабілітрони. Параметричні стабілізатори напруги
- •3.6.5. Обмежувачі амплітуди
- •3.6.6. Варикапи та їх використання
- •3.6.7. Діоди Шотткі
- •3.7 Поточний самоконтроль
- •3.7.2 Контрольні запитання
- •Розділ 4. Біполярні транзистори
- •4.1. Структури, режими та схеми вмикання
- •4.2.Фізичні процеси в бт
- •Повний струм колектора
- •4.3. Статичні характеристики бт
- •4.3.1. Статичні характеристики бт із се
- •4.3.2. Статичні характеристики бт із сб
- •4.4. Температурний дрейф характеристик бт
- •4.5. Підсилення за допомогою бт
- •4.6. Графоаналітичний метод аналізу та розрахунку транзисторних схем
- •Коефіцієнт підсилення за струмом:
- •4.7. Динамічні властивості біполярних транзисторів
- •4.8. Ключовий режим бт
- •4.9. Порівняльний аналіз трьох схем вмикання бт
- •4.10. Власні шуми та шумові параметри транзисторів
- •4.11. Температурний режим та пробій бт
- •4.12. Основні типи біполярних транзисторів
- •4.13. Поточний самоконтроль
- •5. Польові транзистори
- •5.1. Типи польових транзисторів
- •5.2. Польовий транзистор з керувальним p-n‑переходом
- •5.4. Польові транзистори з ізольованими затворами
- •5.6. Ключовий режим мдн-транзистора
- •5.7. Температурні залежності та шуми польових транзисторів
- •5.8. Класифікація та особливості використання польових транзисторів
- •5.9. Порівняння польових та біполярних транзисторів
- •5.10. Поточний самоконтроль
- •5.10.2.Контрольні запитання
- •Розділ 6. Інтегральні мікросхеми
- •6.1. Особливості імс як активних компонентів
- •6.2. Класифікація інтегральних мікросхем
- •6.3.Аналогові інтегральні мікросхеми
- •6.3.1. Основні типи аіс
- •6.3.2. Схеми стабілізації режиму роботи каскаду підсилення.
- •6.3.3. Схеми зсуву рівнів напруг
- •6.4.Однокаскадні багатоцільові підсилювачі
- •6.5.Диференціальні підсилювачі
- •6.6. Операційні підсилювачі
- •6.6.1. Особливості оп
- •Р ис. 6.8. Принципова схема оп
- •6. 6. 2. Інвертувальна схема вмикання оп
- •Напругу на виході визначають напругою на конденсаторі:
- •6.6.4. Імпульсний режим оп
- •6.7. Поточний самоконтроль
- •6.7.2. Контрольні запитання
- •Розділ 7. Оптоелектронні напівпровідникові прилади
- •7.1. Особливості оптоелектроніки
- •7.2. Джерела оптичного випромінювання
- •7.2.1.Люмінесценція
- •7.2.2. Електролюмінесцентні індикатори
- •7.2.3. Випромінювальні діоди
- •7.3. Фотоелектричні напівпровідникові приймачі випромінювання
- •7.3.1. Внутрішній фотоефект
- •7.3.3. Фотодіоди
- •7.3.4. Фототранзистори
- •7.4. Оптрони та оптоелектронні імс
- •7.5. Поточний самоконтроль
- •7.5.1. Завдання для моделювання та дослідження схем в середовищі ms
- •Дослідити формування вихідних сигналів при надходженні інформаційних сигналів від двох джерел.
- •7.5.2.Контрольні запитання
- •Частина ш. Функціональні пристрої реа
- •8.1. Визначення, структурні схеми та класифікація підсилювачів
- •8.2. Основні характеристики та параметри еп
- •Для багато каскадного підсилювача
- •8.3. Підсилювачі з резистивно-ємнісним зв`язком
- •8.3.1. Особливості підсилювачів з резистивно-ємнісним зв`язком
- •8.3.2. Дослідження в частотній області.
4.10. Власні шуми та шумові параметри транзисторів
В електричних колах струми та напруги мають невеликі безпорядні (хаотичні) коливання, які називаються електричними флуктуаціями. Вони спричинені тепловим рухом електронів. 3 підвищенням температури флуктуації збільшуються.
Теоретично й експериментально доказано, що шумовий струм є сумою змінних синусоїдальних складових з різними частотами від нуля до надвисоких. Але на виході електронних пристроїв появляється лише частина цих складових шуму, яка тим більша, чим ширша смуга пропускання пристрою.
На виxoді транзисторних схем шуми зростають внаслідок додавання власних шумів транзистора, що обмежує мінімальні сигнали, які ще можуть бути виявлені і підсилені, тобто чутливість пристроїв.
Повний власний шум транзистора має декілька складових. Це тепловий шум, дробовий шум, шум струморозподілу, рекомбінаційний шум.
Теплові шуми зумовлені тепловими флуктуаціями електронів, характер-ними для будь-якого резистора. Усі ділянки транзистора мають опір, на якому і виникають шумові напруги. Опори емітерної і колекторної ділянок порівняно малі, а тому головний внесок у формування теплових шумів робить опір бази rB, оскільки він увімкнений у вхідне коло і шум від нього підсилюється самим транзистором.
Дробові шуми спричинені флуктуаціями, інжекцією і екстракцією в емітерному та колекторному переходах; шуми струморозподілу - флуктуаціями розподілу емітерного струму між базою та колектором, а рекомбінаційні шуми зумовлені флуктуаціями рекомбінації.
Крім того, створюються додаткові шуми флуктуаціями струмів у поверхневих шарах напівпровідників (флікер-ефект) та деякими іншими явищами.
Для оцінки шумових властивостей транзисторів використовують коефіцієнт шуму Fш. Його визначають так само, як і для будь-яких чотири-полюсників.
Вплив шумів завжди характеризується відношенням потужності корисного сигналу Рс до потужності шумів Рш. На виході підсилювача потужності це відношення менше, ніж на вході, оскільки на виході ці обидві потужності підсилюються в GP разів, але до потужності шумів транзистор додає ще власний шум РШ.ТР. Коефіцієнт шуму показує, у скільки разів відношення потужності сигналу до потужності шуму на вході більше, ніж на виході:
Значення шуму вимірюють також у децибелах за формулою: F = 10 lg Fш .
Виготовляються спеціальні малошумові транзистори, які використовують у вхідних каскадах високочутливої апаратури..
4.11. Температурний режим та пробій бт
Для нормальної роботи транзистора необхідно, щоб у межах температурного діапазону в кожній ділянці структури – емітерній, базовій та колекторній – переважала електропровідність одного типу – електронна або діркова. З підвищенням температури в насліок термогенерації може з’явитись така кількість електронів і дірок, що розраховане співвідношення основних і неосновних носіїв в домішкових напівпровідниках порушується і транзистор втрачає працездатність.
Максимальна робоча температура р-n переходів залежить від енергії іонізації атомів основної речовини і концентрації домішок. Розрахунки та експериментальні дослідження показують, що максимальна температура германієвих транзисторів лежить в межах 70 ... 1000 С, а максимальна робоча температура транзисторів з кремнію, що має більшу ширину забороненої зони, ніж германій, може становити 125 ... 2000 С.
Мінімальна робоча температура, за якої транзистор ще в змозі функціонувати, залежить від енергії іонізації та концентрацією домішок. Для забезпечення розрахованої електропровідності необхідно, щоб усі атоми домішок були іонізовані. Оскільки енергія іонізації домішок дуже мала (0,01 ... 0,05 еВ), то мінімальна робоча температура транзистора теоретично складає близько 2000 С. Фактично нижня межа температури обмежується термостійкістю корпусу та допустимими змінами параметрів дорівнює (60 ... 70)0 С.
Зміна температури транзистора в межах робочого діапазону також суттєво впливає на параметри та характеристики транзистора, що може викликати температурну нестабільність радіоелектронної апаратури. Це треба враховувати при проектуванні та експлуатації транзисторних приладів і пристроїв.
При щільному компонуванні елементів усередині апаратури або великих потужностях розсіювання в приладі використання радіаторів стає малоефективним. У цьому випадку потужні транзистори розташовують безпосередньо на корпусі приладу або на радіаторах, які мають тепловий контакт з навколишнім середовищем.
Для ефективного тепловідведення необхідно забезпечити надійний тепловий контакт радіатора з транзистором; для цього транзистори має відповідну конструкцію, а поверхня контакта покрита спеціальними теплопоглинальними пастами або мастилами.
Електричне ізолювання транзистора від радіатора досягається установленням прокладок із слюди, фторопластової плівки товщиною десятки мікрометрів, металокерамічних прокладок, а також використанням радіаторів з глибоким анодуванням. Однак необхідно домагатися електричного ізолювання радіаторів від корпусу приладу, а не транзистора від радіатора.
З порушенням теплового балансу, коли через недостатнє тепловідведення приріст потужності, що виділяється на колекторному переході, не викликає відповідний приріст потужності, що відводиться в зовнішнє середовище, температура переходу необмежено зростає, збільшується струм колектора та потужність, зрештою транзистор перегрівається, настає тепловий пробій, БТ виходить з ладу.
Допустима напруга тим менша, чим більший зворотній струм транзистора ICВ0, його загальний тепловий опір та температура навколишнього середовища. За умов недостатнього тепловідведення і високої температури навколишнього середовища напруга теплового пробою може стати значно нижчою, ніж робоча напруга транзистора. Особливо велика вірогідність теплового пробою в потужних БТ із значним струмом ICВ0 .
