Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Быкова лабораторные фотолитография.docx
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
333.28 Кб
Скачать

Лабораторная работа №7

Тема: Определение толщины слоя SiO2 методом цветовых оттенков Ньютона.

Цель работы: Научиться определять толщину оксидного слоя с помощью метода цветовых оттенков Ньютона.

Используемое оборудование и материалы: этиловый спирт для обезжиривания поверхности, кремниевые пластинки со слоем SiO2, фтороводородная кислота, фторопластовые стаканчики.

Теоритическая часть:

Травление SiO2

Поскольку слежение за процессом травления и управления им происходит по полноте удаления стравливаемого оксида, измерение толщины тонких пленок SiO2 приобретает немаловажное значение. Оно сопряжено с трудностями и требует применения специальных методов.

Основные методы измерения толщины SiO2.

  1. Метод взвешивания образцов до и после окисления. Для этого нужны точное знание плотности пленки и высокая чувствительность весов.

  2. По измерению напряжения пробоя. Для расчета толщины нужно знание диэлектрической прочности пленки. Основные физические свойства пленки SiO2 сильно зависят от однородности и совершенства структуры пленки и модификации кремнезема, следовательно, и от методов получения тонких пленок SiO2. Усредненные значения параметров: плотности – 2,2 г/см3; диэлектрической прочности – 106 В/см.

  3. Наиболее распространенными являются оптические методы.

3.1. Эллипсометрический метод. Основан на отражении линейно поляризованного под углом 45° луча от окисленной поверхности кремния. Компонента, перпендикулярная плоскости падения, отражается иначе, чем компонента, лежащая в плоскости падения. В результате образуется эллиптически поляризованная отраженная волна. Величина поляризации волны зависит от свойств пленки. Для оценки свойств отраженной волны используются формулы, устанавливающие связь между фазой и амплитудой падающей и отраженной от поверхности оксидной пленки волны. Каждой точке графика, построенного в координатах , соответствует определенное значение коэффициента преломления и толщины пленки.

Этот метод имеет точность, на порядок большую всех остальных методов.

3.2. Интерференционный метод. При отражении света от двух различных поверхностей и наложении их появляется интерференционная картина в виде системы параллельных полос. Если две поверхности имеют различные показатели преломления n1 и n2, то возникает оптическая разность хода обоих лучей и интерференционный спектр сдвигается на т полос. Смещение т находят сравнением со спектром, образованным интерференцией обоих лучей без прохождения через исследуемые поверхности. При измерении толщины SiO2 вытравливается с помощью концентрированной HF (48 %) ступенька в слое оксида. При отражении от поверхности Si и от поверхности SiO2 разность оптических путей будет определять толщину слоя SiO2.

, (26)

где d – толщина оксидной пленки; n – коэффициент преломления оксидной пленки (1,45 при Å).

Смещение полос отражения, вызванное присутствием ступеньки в пленке оксида, показано на рис. 14.

Важную роль играет ширина клина оксида, т. е. пологость ступенек. Если клин узкий, то полосы получаются сильно сжатыми, что затрудняет отсчет. Чтобы добиться нужной ширины клина, часть оксида защищают воском. Травитель HF хорошо подтравливает край оксида под воском, образуя широкую полосу смещения интерференции.

Основное требование в этом методе предъявляется к источнику света – он должен быть монохроматическим и строго коллимированным. Основной источник света – лампы дугового разряда, ртутные лампы с длиной волны 5460 Å.

Д

Рис. 14. Образование

интерференционной картины

(смещение на три полосы)

ля определения толщины SiO2 этим методом используются микроинтерферометры (например МИИ-4, с помощью которого можно определить толщину пленки до 20–30 мкм с погрешностью измерения ±300 Å).

3.3. Метод цветовых оттенков Ньютона. Метод основан на наблюдении интерференционных цветов, которые возникают при преломлении и отражении белого света от границы раздела оксид – воздух. Цветность пленок зависит только от толщины и показателя преломления. Если наблюдение отраженного света производить под прямым углом к поверхности пленки, то . В случае реальной структуры воздух – оксид – кремний следует учитывать тот фактор, что кремний поглощает излучение в видимой части спектра, при этом состав отраженной волны не меняется. Следовательно, и соотношение между цветом и толщиной пленки должно быть таким же, как и в случае пленки, нанесенной на прозрачную стеклянную пластинку.

Зависимость толщины пленки от наблюдаемого цвета (при перпендикулярном освещении образца) приведена в табл. 18. Цветовые оттенки повторяются примерно через 0,22 мкм, проходя весь спектр от фиолетового к красному. При замере толщины необходимо знать порядок интерференции, т.е. количество повторений полного спектра цветов. Количество фиолетово-красных колец и определяет порядок интерференции. Этот простой, не требующий специального оборудования метод позволяет определять толщину SiO2 с погрешностью 5–10 % до 1 мкм. На толщинах более 1 мкм отдельные цвета спектра уже неразличимы.

Таблица 18. Интерференционные цвета пленок SiO2 в зависимости от ее толщины

Толщина, мкм

Порядок интерференции

Цвета и оттенки

1

2

3

0,0100

Серый

0,0300

Рыжевато-коричневый

0,0500

Бежевый

0,0700

Темно-коричнево-красный

0,1020

Индиго

0,1433

Голубовато-серый

0,1500

Светло-голубой

0,1688

Зелено-голубой

0,1700

I

Металлический

0,1786

Бледно-зеленый

0,1836

Желто-зеленый

0,1883

Светло-зеленый

0,1916

Зелено-желтый

0,1963

Золотисто-желтый

0,2000

Светло-золотистый

0,2200

Золотистый

0,2216

Оранжевый

0,2490

Светло-красный

0,2500

Красный

0,2700

Красно-фиолетовый

0,2753

Пурпурный

0,2810

Пурпурно-фиолетовый

0,2886

Фиолетовый

0,3000

Фиолетово-голубой

0,3033

Индиго

0,3100

Голубой

0,3160

Темно-голубой

0,3200

Зелено-голубой

0,3400

Светло-зеленый

0,3500

II

Зеленый

0,3760

Желтовато-зеленый

0,3830

Грязно-зеленый

0,3900

Желтый

0,4100

Светло-оранжевый

0,4193

Телесный

0,4200

Темно-розовый

0,4476

Фиолетово-красный

0,4586

Фиолетовый

0,4600

Красно-фиолетовый

0,4757

Голубовато-фиолетово-серый

0,4800

Голубовато-фиолетовый

0,4900

Голубой

0,4983

Зелено-голубой

0,5000

Голубовато-зеленый

0,5200

Зеленый

0,5403

Тускло-зеленый

0,5526

III

Желто-зеленый

0,5606

Зелено-желтый

0,5703

Желто-серый

0,5800

Светло-оранжевый

0,5813

Сиреневато-серовато-красный

0,6000

Темно-розовый

0,6088

Карминово-красный

0,6300

Фиолетово-красный

0,6423

Серовато-красный

0,6690

Голубовато-серый

0,6800

Голубоватый

0,6826

Голубовато-зеленый

0,7200

IV

Зеленый

0,7700

Желтоватый

0,7793

Бледно-розовый

0,8000

Оранжевый

0,8200

Желтовато-розовый

0,8500

Светло-красновато-фиолетовый

0,8600

Фиолетовый

0,8700

Голубовато-фиолетовый

0,8893

Бледно-зелено-голубоватый

0,8900

Голубой

0,9200

V

Голубовато-зеленый

0,9500

Желто-зеленый

0,9700

Желтый

0,9900

Оранжевый

1,000

Розовой гвоздики

Экспериментальная часть:

    1. Измерили толщину слоя SiO2 методом цветовых оттенков Ньютона. Для определения порядка интерференции на поверхность окисленной пластины кремния при помощи заостренной фторопластовой палочки нанести каплю плавиковой кислоты.

    2. После протравливания оксида до кремния пластину промыть дистиллированной водой, подсчитать число колец для определения порядка интерференции и определить цветность оксида при перпендикулярном падении света по таблице цветности (см. табл. 18).

Таблица 1 – Значения толщин оксидного слоя.

Номер пластины

Порядок интерференции

Цвета и оттенки

Толщина, мкм

1

IV

бледно-розовая

0,7793

2

I

желто-зеленый

0,1836

3

IV

бледно-розовая

0,7793

4

I

золотисто-желтый

0,1963

5

I

индиго

0,1020

6

I

индиго

0,1020

Вывод: В ходе проделанной работы мы научились определять толщину оксидного слоя с помощью метода цветовых оттенков Ньютона на 6 пластинах.