Нормы освещенности рабочих поверхностей при визуально-оптическом контроле

Точность работы	Наименьший размер объекта различения, мм	Контраст объекта различе­ния с фоном	Характеристика фона	Система комбинированного освещения		Система общего освещения
				Разрядные лампы, лк	Лампы накаливания, лк	Разрядные лампы, лк	Лампы накаливания, лк
Наивысшая	Менее 0,15	Малый » Средний Малый Средний Большой Средний Большой »	Темный Средний Темный Светлый Средний Темный Светлый » Средний	5000 4000 4000 4000 3000 3000 3000 1500 1500	4000 3000 3000 3000 2000 2000 2000 1250 1250	1500 1250 1250 1250 1000 1000 1000 400 400	300 300 300 300 300 300 300 300 300
Очень высокая	0,15-0,3	Малый » Средний Малый Средний Большой Средний Большой »	Темный Средний Темный Светлый Средний Темный Светлый » Средний	4000 3000 3000 3000 2000 2000 2000 1000 1000	3000 2500 2500 2500 1500 1500 1500 750 750	1250 750 750 750 500 500 500 300 300	300 300 300 300 300 300 300 200 200
Высокая	0,3-0,5	Малый » Средний Малый Средний Большой Средний Большой »	Темный Средний Темный Светлый Средний Темный Светлый » Средний	2000 1000 1000 1000 750 750 750 400 400	1500 750 750 750 600 600 600 400 400	500 300 300 300 300 300 300 200 200	200 200 200 200 200 200 200 150 150
Средняя	0,5-1,0	Малый » Средний Малый Средний Большой Средний Большой »	Темный Средний Темный Светлый Средний Темный Светлый » Средний	750 500 500 500 400 400 400 300 300	600 500 500 500 400 400 400 300 300	300 200 200 200 150 150 150 150 150	200 150 150 150 100 100 100 100 100

Видимость дефектов определяется контрастностью, яркостью, освещенностью и угловым размером объекта. Наиболее важным условием видимости является контраст. Контраст определяется свой­ством дефектов выделяться на окружающем фоне при различных оптических характеристиках дефекта и фона. В табл. 6.2 приведены нормы освещенности рабочих поверхностей при визуально-опти­ческом контроле.

Оптические приборы значительно расширяют пределы возмож­ностей глаза, что позволяет видеть дефекты, размеры которых нахо­дятся за пределами разрешающей способности невооруженного глаза. Для визуально-оптического контроля деталей целесообразно при­менять приборы с кратностью увеличения не более 20...30, так как с возрастанием кратности увеличения уменьшаются поле зрения, глубина резкости, производительность и надежность контроля.

По назначению и конструктивным особенностям визуально-оптические приборы делятся:

на приборы для обнаружения близкорасположенных дефектов с расстояния наилучшего зрения 250 мм и менее. Приборы этой группы монокулярные и бинокулярные лупы (лупы Польди — ЛП; складные лупы — ЛАЗ; измерительные лупы — ЛИЗ; штативные лупы — ЛГИ, ЛПГИ, ЛПШ и др.) и микроскопы (МИР и др.);

оптические приборы для обнаружения невидимых дефектов в закрытых полостях конструкций, деталей, отверстий и т.д. Для контроля скрытых поверхностей применяются эндоскопы, пери­скопические дефектоскопы и др. Контроль с помощью линзового эндоскопа (рис. 6.2) заключается в осмотре закрытых поверхнос­тей через специальную оптическую систему с подсветкой, обеспе­чивающей передачу изображения на расстояние в несколько мет­ров. Перспективными являются конструкции эндоскопов с воло­конными световодами, позволяющие передавать изображения без искажения на значительные расстояния. Волоконные световоды состоят из тонких светопроводящих нитей диаметром до 50 мкм с оболочкой толщиной до 2 мкм, собранных в гибкий жгут.

При недостаточной освещенности контролируемой поверхнос­ти применяют светильники направленного излучения с разрядны­ми лампами или лампами накаливания.

Магнитно-порошковый метод (ГОСТ 21105—87) используется только для контроля деталей, изготовленных из ферромагнитных материалов. Применяется для обнаружения поверхностных нару­шений сплошности с шириной раскрытия у поверхности 0,001 мм, глубиной 0,01 мм и выявления относительно больших подповерхностных дефектов, находящихся на глубине до 1,5... 2,0 мм. Метод использует магнитное поле рассеяния, возникающее над дефек­том при намагничивании изделия и основан на явлении притяже­ния частиц магнитного порошка в местах выхода на поверхность контролируемой детали магнитного потока. Благодаря скоплению магнитного порошка в области дефекта обеспечивается визуализация форм и размеров невидимых в обычных условиях дефектов.

Рис. 6.2. Схема эндоскопа: 1 — корпус; 2 — призма; 3 — контролируемая поверхность; 4 — объектив; 5 — передающая система; б— окуляр; 7— объектив; 8— пере­дающая телевизионная трубка; 9 — видеокон­трольное устройство

Важное достоинство метода — это возможность точного опре­деления расположения концов усталостных трещин и обнаруже­ние дефектов через слой немагнитного покрытия. Если на конт­ролируемой поверхности толщина немагнитного покрытия со­ставляет де в, 1 мм, целесообразно применять магнитные сус­пензии, а свыше 0,1 мм — магнитный порошок во взвешенном состоянии.

Чувствительность метода определяется магнитными характери­стиками материала контролируемого изделия, его формой и раз­мерами, чистотой обработки поверхности, напряженностью на­магничивающего поля, способами контроля, взаимным направле­нием намагничивающего поля и дефекта, свойствами применяе­мого порошка, способом нанесения порошка или суспензии, а также освещенностью контролируемого участка изделия. Установ­лены следующие уровни чувствительности (табл. 6.3).

Для обнаружения дефектов деталь намагничивают, и на поверх­ность, подлежащую контролю, наносят ферромагнитные части­цы, которые находятся во взвешенном состоянии (чаще всего в виде суспензий на основе воды, керосина, минеральных масел). Если на пути магнитного потока встречается препятствие в виде нарушения сплошности (дефект), то часть магнитных силовых ли­ний выходит из металла (рис. 6.3). Там, где они выходят из металла и входят обратно, образуются локальные магнитные полюса N и S, обусловливающие локальное магнитное поле над дефектом (поле рассеяния). Поскольку это поле неоднородно, на попавшие в него магнитные частицы действуют силы, стремящиеся затянуть их в места наибольших концентраций магнитных силовых линий. Для намагничивания деталей применяют постоянный и переменный токи, а также постоянные магниты.

Таблица 6.3