
- •Локальность электронно-зондовых методов
- •Автоматическая юстировка системы позволяет выбрать размер зонда, увеличение и ускоряющее напряжение.
- •Рентгеноспектральный микроанализ
- •Погрешности при построении градуировочной характеристики для определения концентрации определяемого элемента в электронно-зондовом анализе.
- •Поправка на разницу атомных номеров (z):
- •Поправка на разницу поглощения (a):
- •Поправка на флуоресценцию характеристическим излучением (f)
- •Рентгеноспектральный микроанализ в микроскопе xl-30
- •IDXi: распределительный анализ и вывод на экран
- •Анализ частиц состоит из:
- •Литература
Анализ частиц состоит из:
анализа формы частицы, измерения периметра частицы, измерения площади частицы, построения распределения по размеру площадей, химической идентификации частиц.
-
Слайд 84
Анализ частиц состоит из:
анализа формы частицы,
измерения периметра частицы,
измерения площади частицы,
построения распределения по размеру площадей,
химической идентификации частиц.
iDXac: Распределение по размеру площадей и химическая
идентификация отдельных частиц.
-
Слайд 85
Программа DXGSR специально разработана для быстрой идентификации следов продуктов после выстрела из огнестрельного оружия на одежде и других предметах.
Слайд 86 |
|
Литература
Практическая растровая электронная микроскопия/Ред. Дж.Гоулдстейн, Х.Яковиц. М.: Мир. 1978. -518 с.
Гимельфарб Ф.А., Шварцман С.А. Современные методы контроля композиционных материалов. М.: Металлургия. 1979. - 247с.
Кальнер В.Д., Зильберман А.Г. Практика микрозондовых методов исследования металлов и сплавов. М.: Металлургия. 1981. -215с.
Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ред. Ф.Морис, Л.Мени, Р.Тиксье М.: Металлургия. 1985. - 408с.
Гимельфарб Ф.А. Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов. М.: Металлургия. 1986. - 152с.
Johnson G.G., White E.W. X-Ray emission wavelengths and keV Tables for nondiffractive analysis. ASTM Data Series DS 46. 1970. - 42p.
Блохин М.А., Швейцер И.Г. Рентгеноспектральный справочник. М.: Наука. 1982.-375.