
- •ОПТИКА
- •КВАНТОВАЯ ФИЗИКА
- •1. ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ СВЕТА
- •2.3. Дифракция Фраунгофера от щели
- •2.6. Дифракция на пространственных структурах
- •3. ПОЛЯРИЗАЦИЯ СВЕТА
- •3.1 Поляризованный и естественный свет
- •3.2. Типы поляризации
- •3.3. Степень поляризации
- •3.4.2. Поляризация при двойном лучепреломлении
- •3.5. Закон Малюса
- •4. РАВНОВЕСНОЕ ТЕПЛОВОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ
- •6. ЭФФЕКТ КОМПТОНА
- •7. ВНУТРЕННИЙ ФОТОЭФФЕКТ
- •9. ОСНОВЫ КВАНТОВОЙ МЕХАНИКИ
- •9.1. Принцип неопределенностей Гейзенберга
- •9.3. Уравнение Шредингера. Стационарные состояния
- •10. РАДИОАКТИВНОСТЬ
- •11. ТЕПЛОЕМКОСТЬ ТВЕРДЫХ ТЕЛ
- •12. ЭЛЕМЕНТЫ КВАНТОВОЙ СТАТИСТИКИ

2.5. Параметры решетки как спектрального прибора
Зависимость положения максимума и минимума от позволяет использовать дифракционную решетку для спектрального анализа.
Основными характеристиками спектральных приборов являются: 1) угловая дисперсия –
|
|
|
D |
|
; |
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Р |
|||
где – угловое расстояние между двумя соседними главными максимумами |
||||||||||||||
одного порядка для длин волн и . |
|
|
|
|
||||||||||
Значение |
D |
можно |
найти, |
|
|
|
продифференцировав |
|
выражение |
|||||
d cos d md . |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
У |
|
|
|
Следовательно, |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
m |
|
|
|
|
И |
|
|||||
|
|
|
D |
|
|
; |
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
cos |
Б |
|
|
|
|
||||||
2) разрешающая способность – |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
Г |
|
|
|
||||||
|
|
|
R |
, |
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
где – минимальная разность между длин ми волн двух спектральных линий,
|
при которой эти линии восприним ются раздельно. |
|
|
||||||||||||
Эта минимальная разность опр даляется с помощью критерия Рэлея, |
|||||||||||||||
согласно которому две спектральныеклинии с равными |
I и одинаковой |
||||||||||||||
симметрией |
контура |
|
разрешимы, |
|
сли максимум одной линии совпадает с |
||||||||||
минимумом другой. При выполненииеэтого условия I в промежутке между |
|||||||||||||||
максимумами составляет 80от% Imax (рис. 10). |
|
|
|||||||||||||
|
|
|
и |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
л |
о |
|
|
|
|
|
Imax |
|
|
||||
|
б |
|
|
|
|
|
|
|
|
0,8Imax |
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
Рис.10 |
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
Выраз м R через порядок спектра m и число штрихов решетки N : |
|||||||||||||||
иd sin |
max |
m( ) |
|
|
|
|
1 |
|
|||||||
Б |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
m( ) (m |
|
) , |
||||
|
d sin min |
(m |
) |
|
N |
||||||||||
|
N |
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
R mN .
2.6. Дифракция на пространственных структурах
Дифракция на пространственных структурах – важный случай дифракции, позволяющий исследовать периодические структуры, например кристаллы.