- •Часть 4. О п т и к а
- •I. Определение кардинальных точек оптических систем
- •1.1.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •1.1.2. Порядок выполнения работы
- •Определение фокусного расстояния тонкой отрицательной линзы
- •1.2.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •1.2.1. Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •1.3.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •Контрольные вопросы
- •Моделирование зрительной трубы Кеплера
- •2.1.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •2.1.2. Порядок выполнения работы
- •2.2.1, Описание экспериментальной установки и метода
- •2.3.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •Измерение показателя преломления стеклянной пластинки
- •3.1.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •3.1.2. Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •3.2. Лабораторная работа Определение радиуса кривизны линзы с помощью колец Ньютона
- •3.2.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •3.2.2. Порядок выполнения работы
- •3.3. Лабораторная работа
- •3.3.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •3.2.2. Порядок выполнения работы
- •4. Дифракция света
- •4.1. Лабораторная работа Изучение дифракции от одной щели
- •4.1.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •4.1.2. Порядок выполнения работы
- •4.2.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •4.2.2. Порядок выполнения работы
- •4.3.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •4.3.2. Порядок выполнения работы
- •4.4.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •Порядок выполнения работы
- •5. Поляризациясвета
- •5.1.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •5.2.1. Описание экспериментальной установки и метода
- •5.2.2. Порядок выполнения работы
- •Часть 4-. Оп тик а
4.1.2. Порядок выполнения работы
Работу выполняют в следующей последовательности:
Собрать установку по схеме рис. 2. Рейтер со щелью на расстоянии не менее 200 мм от лазера.
Включить лазер.
Регулировкой ширины щели и расстояния i от щели до экрана получить на экране дифракционную картину. Добиться наибольшей четкости картины. Для этого попеременными перемещениями установить щель так, чтобы пучок от лазера симметрично перекрывал щель. Наклонами плоскости щели и лазера добиться перпендикулярности падения пучка. При этом отраженные лучи должны идти в обратном направлении в выходное окно лазера.
Закрыв входную щель фоторезистора, определить темновой ток
.Перемещая щель фоторезистора вдоль дифракционной картины, снять показания прибора, регистрирующего величину силы тока
с шагом 0,5 мм в обе стороны от центра
картины, занести данные в таблицу,
составленную самостоятельно.Учитывая темновой ток
,
построить график распределения
интенсивности в дифракционной картине,
считая интенсивности пропорциональными
силе тока, для максимумов 1-го, 2-го, 3-го
порядков.Пользуясь полученным графиком и условиями максимума-минимума, (1) и (2), определить длину волны лазерного излучения, оценить погрешности.
Вычислить отношения
;
;
и
сравнить с аналогичными соотношениями
из формулы (8).
Контрольные вопросы
Чем отличается дифракция Фраунгофера от дифракции Френеля?
Как получить графически соотношения (3) и (4), определяющие наярав- ления на максимумы и минимумы?
4.2. Лабораторная работа
Изучение дифракции от двух щелей
Цель работы: ознакомиться со схемой дифракции Фраунгофера от двух щелей в когерентном свете лазера, определить параметров схемы и длины световой волны.
Приборы и принадлежности: источник света - лазер ЛГ - 72, двойные щели, экран, оптическая скамья с рейтерами.
4.2.1. Описание экспериментальной установки и метода
Принципиальная схема наблюдения дифракции от двух щелей представлена на рис. 1,
Рис. 1
Параллельный пучок лучей
от источника 1 освещает экран 2 с двумя
узкими щелями 3 и 4, длина которых
больше поперечника падающего пучка.
Ширина щелей b одинакова/Расстояние -
между серединами щелей d. Согласно
принципу Гюйгенса, плоскости щелей
становятся источниками вторичных волн,
распространяющихся во все стороны,
т.е. свет дифрагирует на щелях.
Дифрагированные волны являются
когерентными, а следовательно, они могут
интерферировать в
области их наложения.
Интерференционная картина наблюдается
на экране 5, находящемся на расстоянии
от плоскости щелей.
Распределение интенсивности при взаимной
интерференции волн, идущих от щелей 3 и
4, получим рассматривая их разность хода
.
Очевидно, максимумы интенсивности
возникают в тех случаях, когда волны от
щелей 3 и 4 приходят в точку
на экране синфазными, т.е. когда разность
хода А равна целому числу длин волн:
(1)
Максимумы, определяемые формулой (1), называются главными. Соответственно минимумы интенсивности при взаимной интерференции возникают в тех случаях, когда волны от щелей 3 и 4 встречаются в противофазе, т.е.
(2)
Результирующее распределение интенсивности на экране 5 дано
Рис. 2.
на графике (рис. 2), Пунктирная кривая соответствует распределению интенсивности первичных максимумов и минимумов (дифракция на одной щели), сплошная соответствует результирующему распределению с учетом главных максимумов и минимумов.
График показывает, что почти
весь дифрагированный световой поток
(
90%)
сосредоточен в пределах 0-го первичного
максимума, т.е. в пределах угла
;
.
Дальнейшая дифракционная картина очень
слаба и практически не наблюдается.
Если d больше b,
то в пределах угла
,
уложится несколько главных максимумов.
При
(
-
целое число) из условия минимума для
одной щели получим
,
а из формулы (1)
.
Следовательно, главные максимумы
- го порядка совпадают с первичными
минимумами
- го порядка и будут погашены. Таким
образом, между первичными минимумами
- го порядка уложится
главных максимумов, при этом
(3)
Шириной интерференционной
полосы
называется расстояние между серединами
соседних главных максимумов или
минимумов. При малых углах дифракции
(4)
где - расстояние между экраном 5 и экраном 2. Для длины волны получаем
(5)
