Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Тестирование ПО (лекции).doc
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.05.2025
Размер:
3.27 Mб
Скачать

2.7.3.5. Покрытие по всем условиям (Multiple Condition Coverage)

Для выявления неверно заданных логических функций был предложен метод покрытия по всем условиям. При данном методе покрытия должны быть проверены все возможные наборы значений компонент логических условий. Т.е. в случае n компонент потребуется 2n тестовых примеров, каждый из которых проверяет один набор значений, Тесты, необходимые для полного покрытия по данному методу, дают полную таблицу истинности для логического выражения.

Несмотря на очевидную полноту системы тестов, обеспечивающей этот уровень покрытия, данный метод редко применяется на практике в связи с его сложностью и избыточностью.

Еще одним недостатком метода является зависимость количества тестовых примеров от структуры логического выражения. Так, для условий, содержащих одинаковое количество компонент и логических операций:

a && b && (c || (d && e))

((a || b) && (c || d)) && e

потребуется разное количество тестовых примеров. Для первого случая для полного покрытия нужно 6 тестов, для второго – 11.

2.7.4. Метод mc/dc для уменьшения количества тестовых примеров при 3-м уровне покрытия кода

Для уменьшения количества тестовых примеров при тестировании логических условий фирмой Boeing был разработан модифицированный метод покрытия по веткам/условиям (Modified Condition/Decision Coverage или MC/DC) [25, 26]. Данный метод широко используется при верификации бортового авиационного программного обеспечения согласно процессам стандарта DO-178B [7].

Для обеспечения полного покрытия по этому методу необходимо выполнение следующих условий:

  • каждое логическое условие должно принимать все возможные значения

  • каждая компонента логического условия должна хотя бы один раз принимать все возможные значения;

  • должно быть показано независимое влияние каждой из компонент на значение логического условия, т.е. влияние при фиксированных значениях остальных компонент.

Покрытие по этой метрике требует достаточно большого количества тестов для того, чтобы проверить каждое условие, которое может повлиять на результат выражения, однако это количество значительно меньше, чем требуемое для метода покрытия по всем условиям. В таблице 5 приведены примеры тестовых наборов, необходимых для тестирования логических блоков по MC/DC. Так, например, для блока OR достаточно n+1 тестовых примеров, где n – количество входов логического блока. Первый тестовый пример показывает, что при нулевых значениях входов значение выхода также нулевое. В каждом из следующих n примеров значение каждого входа устанавливается в 1, чем показывается независимое влияние входов на значение выхода.

Таблица 5. Логические блоки и определённые для них тестовые наборы

AND блок. Реализует логическую функцию И для двух или более входов

NAND блок. Реализует логическую функцию И-НЕ для двух или более входов

набора

1

2

3

4

···

n + 1

набора

1

2

3

4

···

n + 1

Вход 1

T

F

T

T

···

T

Вход 1

T

F

T

T

···

T

Вход 2

T

T

F

T

···

T

Вход 2

T

T

F

T

···

T

Вход 3

T

T

T

F

···

T

Вход 3

T

T

T

F

···

T

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

Вход n

T

T

T

T

···

F

Вход n

T

T

T

T

···

F

Выход

T

F

F

F

···

F

Выход

F

T

T

T

···

T

OR блок. Реализует логическую функцию ИЛИ для двух или более входов

NOR блок. Реализует логическую функцию ИЛИ - НЕ для двух или более входов

набора

1

2

3

4

···

n + 1

набора

1

2

3

4

···

n + 1

Вход 1

F

T

F

F

···

F

Вход 1

F

T

F

F

···

F

Вход 2

F

F

T

F

···

F

Вход 2

F

F

T

F

···

F

Вход 3

F

F

F

T

···

F

Вход 3

F

F

F

T

···

F

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

···

Вход n

F

F

F

F

···

T

Вход n

F

F

F

F

···

T

Выход

F

T

T

T

···

T

Выход

T

F

F

F

···

F