
- •Принципы работы оптического спектрометра. Новый взгляд на старые проблемы.
- •1. Введение
- •1.1 От автора
- •1.2 Используемые идеализации
- •1.3. Зачем изучать спектр?
- •1.4. Еще об используемых идеализациях
- •2. Общие принципы работы оптических спектральных приборов
- •2.1. Спектральный прибор как линейная система
- •2.2. Связь между истинным и измеренным спектром. Понятие аппаратной функции
- •2.3. Определение истинного спектра по измеренному. Разрешающая способность спектрометра при наличии шумов
- •2.3.1. Разрешающая способность спектрального прибора по Рэлею.
- •2.4.1. Формирование аппаратного контура классического монохроматора
- •2.4.1.1. Распределение амплитуд в изображении точки в выходной фокальной плоскости классического спектрометра
- •2.4.1.2. Распределение освещенности в изображении щели при когерентном и некогерентном освещении
- •2.4.13. Аппаратный контур классического монохроматора. Частные случаи
- •2.4.2. Предельная разрешающая сила классического спектрометра.
- •2.4.2.1. Способы аподизации аппаратного контура спектрометра
- •2.4.2.1.2. Аподизация контурной диафрагмой.
- •3. Элементы теории работы диспергирущих устройств
- •3.1. Монохроматическая волна. Простейшие случаи применения пространственно-частотных методов анализа.
- •3.1.1. Работа диспергирующего элемента спектрометра.
- •3.1.2. Дифракционная решетка как согласованный фильтр.
- •3.1.3. Преломление монохроматической волны призмой.
- •3.1.4. Гризма
- •3.1.5. Фокальный монохроматор.
- •3.2. Импульсные методы анализа спектроскопических систем.
- •3.2.1.Преобразование сигнала сложной дифракционной решеткой
- •3.2.2. Дифракция плоской -волны на щели.
- •3.2.3. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.3.1. Дифракция волны на двух щелях.
- •3.2.3.2. Амплитудная дифракционная решетка. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.4. Особенности преобразования классической решеткой сигналов разной длительности.
- •4. Растровые монохроматоры
- •4.1. Принципы работы растровых приборов
- •4.2. Аппаратная функция растрового монохроматора
- •4.3. Аподизация аппаратной функции растрового спектрометра.
- •4.3.1. Аподизация контуром растра.
- •4.3.2. Аподизация дефокусировкой.
- •4.4. Влияние дифракции
- •4.5. Схемы построения растровых спеткрометров
- •4.6. Двумерные растры
- •4.7. Монохроматор с фазовым кодированием на входе.
- •4.8. Псевдослучайные растры
- •4.9. Отношение сигнал/шум в растровом спектрометре
- •5. Интерференционные монохроматоры. Сисам
- •5.1. Измерение длины волны излучения по периоду интерференционной картины. Общие замечания.
- •5.2. Интерферометр Майкельсона
- •5.3. Сисам
- •5.4. Светосила сисама
- •5.5. Аподизация аппаратной функции сисама.
- •5.5.1. Аподизация контуром решетки.
- •5.5.2. Аподизация входной диафрагмой.
- •5.6. Оптические схемы сисамов
- •5.6.1 Равноплечий сисам
- •5.6.2. Неравноплечий сисам. Миас.
- •5.7. Отношение сигнал/шум сисама
- •6. Многоканальные спектрометры
- •6.1. Общие замечания. Выигрыш Фелжета
- •6.2. Мультплекс-спектрометры. Приборы с преобразованием Адамара.
- •6.2.1. Применение дискретных кодов для многоканальной регистрации спектров.
- •6.2.2. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •6.2.3. Особенности конструкции спектрометра с преобразованием Адамара
- •6.4.2. Приборы с двойным пространственным кодированием.
- •7. Мультиплекс-спектрометры. Элементы фурье-спектроскопии.
- •7.1. Основные принципы фурье-спектроскопии.
- •7.2. Простейшие случаи связи между интерферограммой и спектром
- •7.2.1. Интерферограмма монохроматического излучения.
- •7.2.2. Интерферограмма участка сплошного спектра
- •7.2.3. Метод кривых видности.
- •7.2.4. Гетеродинирование спектра.
- •7.2.5. Интерферограмма вращательного спектра молекулы.
- •7.2.6. Измерение толщины пленок.
- •7.3. Аппаратная функция фурье-спектрометра и ее аподизация.
- •7.4. Светосила фурье-спектрометра.
- •7.5. Влияние наклонных лучей на частоту интерференционных полос.
- •7.6. Дискретизация интерферограммы.
- •7.7. Интерполяция спектра по данным дискретных отсчетов.
- •7.10. Фурье-спектроскопия нестационарных процессов. Статический фурье-спектрометр.
- •7.11. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •7.12. Некоторые конструктивные особенности фурье-спектрометров.
- •7.13. Ламеллярная решетка.
- •7.14. Амплитудная интерференционная спектроскопия.
- •8. Некоторые новые тенденции
- •8.1. Комб-спектроскопия
- •8.2. Техника прямой амплитудной спектроскопии.
- •8.3 Развитие классического спектрометра
- •8.5 Гиперспектральная аппаратура
8.3 Развитие классического спектрометра
В этом разделе я выполняю обещание, данное в ЖЖЖ главе – рассказываю о спектрометре для эмиссионного анализа в видимом, УФ (с захватом части ВУФ) и ближнем ИК диапазоне. Прибор выбран в качестве примера потому, что в нем почти полностью реализованы все мои рассуждения о разумном подходе к конструированию спектрометров. Называется он ИСКРОН-2 и способен зарегистрировать сразу весь эмиссионный спектр исследуемой пробы в диапазоне 174-915 нм. Разрешающая способность – не хуже 0.05 нм в диапазоне 170-410 нм и лучше 0,2 нм в диапазоне 410-900 нм. Прибор предназначен для количественного определения содержания различных атомов в исследуемой пробе. Число одновременно определяемых спектрометром элементов может составлять десятки и ограничивается лишь наличием соответствующих эталонов. Измерение содержания данного элемента в пробе идет одновременно по нескольким линиям разной интенсивности. Это позволяет, например, при использовании двух линий расширять динамический диапазон измеряемых концентраций до 10 раз, трех – до 100 раз и т.д. Автоматика прибора сама определяет нужные спектральные линии и проводит необходимые измерения. Примененная в приборе оптическая схема и механическая конструкция обеспечили высокую термостабильность в типичных лабораторных условиях без применения обычных внутренних нагревателей, как это делается, например, в квантометрах. В диапазоне 15 – 40 ˚С изменения показаний прибора при анализе одной и той же пробы составили менее 0,1% от измеряемой концентрации. Таким образом, этот небольшой по размерам спектрометр является конкурентом громоздким квантометрам.
Сама схема прибора внешне очень проста (рис. 8.4). Излучение искрового источника (1)
|
Рис. 8.4 |
фокусируется на управляемую по ширине щель (3) с помощью кварцевой линзы (2) и освещает вогнутую решетку (4). Система ПЗС-линеек в количестве 14 штук (5), расположенных на круге Роуланда, регистрирует спектр падающего излучения, и сигнал с помощью АЦП и микроконтроллера (6) направляется в управляющий всей системой компьютер. Источник света продувается аргоном (7), а сам спектральный прибор откачивается компактным вспомогательным насосом.
На рис. 8.5 дано полученное в спектрометре изображение участка спектра алюминия и, детально, одной из линий в ВУФ области спектра. Обратите внимание, что контур линии
|
|
а |
б |
Рис. 8.5 |
укладывается на 3-4 пиксела линейки. Мы раньше (глава ЖЖ) специально подчеркивали, что при дискретизации число элементов должно быть не менее 3, чтобы можно было надежно воспроизвести весь контур и, таким образом уменьшить ошибки дискретизации.
Особо следует остановиться на искровом источнике, прекрасные свойства которого обеспечивают значительную часть той стабильности, которая была выше отмечена. Система управления генератором мощной искры контролирует заряд накопителя энергии – конденсатора – нормируя энергию импульса возбуждения, она же задает частоту следования импульсов. Жестко фиксируется напряжение в разрядном контуре и момент поджига искрового разряда высоковольтным импульсом. Все параметры задаются общим для установки компьютером. Наличие в спектрометре удобного программного обеспечения и автоматическое управление всем элементами установки сегодня вряд ли кого-то удивляет, но в его отсутствие резко уменьшились бы чисто потребительские качества прибора.