
- •Принципы работы оптического спектрометра. Новый взгляд на старые проблемы.
- •1. Введение
- •1.1 От автора
- •1.2 Используемые идеализации
- •1.3. Зачем изучать спектр?
- •1.4. Еще об используемых идеализациях
- •2. Общие принципы работы оптических спектральных приборов
- •2.1. Спектральный прибор как линейная система
- •2.2. Связь между истинным и измеренным спектром. Понятие аппаратной функции
- •2.3. Определение истинного спектра по измеренному. Разрешающая способность спектрометра при наличии шумов
- •2.3.1. Разрешающая способность спектрального прибора по Рэлею.
- •2.4.1. Формирование аппаратного контура классического монохроматора
- •2.4.1.1. Распределение амплитуд в изображении точки в выходной фокальной плоскости классического спектрометра
- •2.4.1.2. Распределение освещенности в изображении щели при когерентном и некогерентном освещении
- •2.4.13. Аппаратный контур классического монохроматора. Частные случаи
- •2.4.2. Предельная разрешающая сила классического спектрометра.
- •2.4.2.1. Способы аподизации аппаратного контура спектрометра
- •2.4.2.1.2. Аподизация контурной диафрагмой.
- •3. Элементы теории работы диспергирущих устройств
- •3.1. Монохроматическая волна. Простейшие случаи применения пространственно-частотных методов анализа.
- •3.1.1. Работа диспергирующего элемента спектрометра.
- •3.1.2. Дифракционная решетка как согласованный фильтр.
- •3.1.3. Преломление монохроматической волны призмой.
- •3.1.4. Гризма
- •3.1.5. Фокальный монохроматор.
- •3.2. Импульсные методы анализа спектроскопических систем.
- •3.2.1.Преобразование сигнала сложной дифракционной решеткой
- •3.2.2. Дифракция плоской -волны на щели.
- •3.2.3. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.3.1. Дифракция волны на двух щелях.
- •3.2.3.2. Амплитудная дифракционная решетка. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.4. Особенности преобразования классической решеткой сигналов разной длительности.
- •4. Растровые монохроматоры
- •4.1. Принципы работы растровых приборов
- •4.2. Аппаратная функция растрового монохроматора
- •4.3. Аподизация аппаратной функции растрового спектрометра.
- •4.3.1. Аподизация контуром растра.
- •4.3.2. Аподизация дефокусировкой.
- •4.4. Влияние дифракции
- •4.5. Схемы построения растровых спеткрометров
- •4.6. Двумерные растры
- •4.7. Монохроматор с фазовым кодированием на входе.
- •4.8. Псевдослучайные растры
- •4.9. Отношение сигнал/шум в растровом спектрометре
- •5. Интерференционные монохроматоры. Сисам
- •5.1. Измерение длины волны излучения по периоду интерференционной картины. Общие замечания.
- •5.2. Интерферометр Майкельсона
- •5.3. Сисам
- •5.4. Светосила сисама
- •5.5. Аподизация аппаратной функции сисама.
- •5.5.1. Аподизация контуром решетки.
- •5.5.2. Аподизация входной диафрагмой.
- •5.6. Оптические схемы сисамов
- •5.6.1 Равноплечий сисам
- •5.6.2. Неравноплечий сисам. Миас.
- •5.7. Отношение сигнал/шум сисама
- •6. Многоканальные спектрометры
- •6.1. Общие замечания. Выигрыш Фелжета
- •6.2. Мультплекс-спектрометры. Приборы с преобразованием Адамара.
- •6.2.1. Применение дискретных кодов для многоканальной регистрации спектров.
- •6.2.2. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •6.2.3. Особенности конструкции спектрометра с преобразованием Адамара
- •6.4.2. Приборы с двойным пространственным кодированием.
- •7. Мультиплекс-спектрометры. Элементы фурье-спектроскопии.
- •7.1. Основные принципы фурье-спектроскопии.
- •7.2. Простейшие случаи связи между интерферограммой и спектром
- •7.2.1. Интерферограмма монохроматического излучения.
- •7.2.2. Интерферограмма участка сплошного спектра
- •7.2.3. Метод кривых видности.
- •7.2.4. Гетеродинирование спектра.
- •7.2.5. Интерферограмма вращательного спектра молекулы.
- •7.2.6. Измерение толщины пленок.
- •7.3. Аппаратная функция фурье-спектрометра и ее аподизация.
- •7.4. Светосила фурье-спектрометра.
- •7.5. Влияние наклонных лучей на частоту интерференционных полос.
- •7.6. Дискретизация интерферограммы.
- •7.7. Интерполяция спектра по данным дискретных отсчетов.
- •7.10. Фурье-спектроскопия нестационарных процессов. Статический фурье-спектрометр.
- •7.11. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •7.12. Некоторые конструктивные особенности фурье-спектрометров.
- •7.13. Ламеллярная решетка.
- •7.14. Амплитудная интерференционная спектроскопия.
- •8. Некоторые новые тенденции
- •8.1. Комб-спектроскопия
- •8.2. Техника прямой амплитудной спектроскопии.
- •8.3 Развитие классического спектрометра
- •8.5 Гиперспектральная аппаратура
7.2.5. Интерферограмма вращательного спектра молекулы.
Известно, что вращательные спектры молекул состоят из почти эквидистантных линий, лежащих, как правило, в дальней инфракрасной области спектра. Для анализа этих спектров с успехом применяются фурье-спектрометры. В качестве приближения к реальному вращательному спектру возьмем в пространстве частот дираковскую гребенку (Рис. 7.10, а):
|
|
(в данном случае, в отличие от предыдущего
раздела,
есть расстояние между компонентами
вращательного спектра).
|
а |
|
б |
|
в |
|
г |
Рис. 7.10 |
Фурье-образ этого спектра дает нам интерферограмму вида
|
|
(Рис. 7.10, б). Для того чтобы приблизить
нашу задачу к реальности, будем
предполагать, что спектр
ограничен. Это произойдет, например, в
эксперименте по измерению спектра
поглощения молекулы, когда спектр
просвечивающего источника излучения
ограничен диапазоном частот
(Рис. 7.10, в), а внутри него он постоянен
(нетрудно рассмотреть и более сложные
распределения, но качественно это ничего
не изменит). Тогда
можно представить в виде
|
|
Умножению в пространстве частот
соответствует свертка спектров в
пространстве интерферограммы, т. е.
в пространстве
мы имеем свертку
с фурье-образом функции
.
С точностью до постоянного множителя
это дает:
|
|
Интерферограмма состоит из набора
эквидистантных функций вида
,
расстояние между которыми равно
.
Реальные интерферограмма и вращательный спектр молекулы NO даны на рис. 7.11. Рисунки 7.10, 7.11 и приведенные формулы показывают, что для определения вращательной
|
а |
|
б |
Рис. 7.11 |
постоянной молекулы достаточно измерить расстояние между пиками интерферограммы и совсем не обязательно производить вычисление спектра.
7.2.6. Измерение толщины пленок.
Еще один пример, показывающий возможности непосредственной обработки интерферограммы, — измерение толщины прозрачной пленки. В этом случае целесообразно несколько изменить ход рассуждений.
Рассмотрим пленку толщиной
из вещества с показателем преломления
,
причем пренебрежем дисперсией вещества
(рис. 7.12, а). Предположим, что на нее
падает плоская
- волна,
а отраженный сигнал собирается линзой
на вход интерферометра.
|
а |
|
б |
|
в |
|
г |
Рис. 7.12 |
|
Отраженные от передней (по отношению к
падающей волне) и задней поверхности
пленки
- импульсы
будут иметь разный знак, т. к. в первом
случае все частотные составляющие
теряют пол-волны, а во втором — нет.
Следовательно, импульсный отклик пленки
можно представить в виде
,
он показан на рис. 7.12, б. Коэффициенты
a и b
учитывают особенности пленки: если она
свободно висящая в вакууме (воздухе),
то
,
поскольку обычно
близко к единице, и ослаблением волны
за счет отражения можно пренебречь, при
этом
.
Это будет совсем не так в ИК области
спектра, где показатели преломления
прозрачных веществ могут значительно
отличаться от единицы (то же можно
сказать и об УФ области спектра вблизи
полос поглощения). Аналогичный эффект
будет наблюдаться и в случае, когда
пленка нанесена на поверхность металла.
Тогда знак коэффициента b
будет отрицательным, но
.
Как было показано, интерферограмма
пропорциональна автокорреляционной
функции входного сигнала. Вид ее для
прозрачной пленки в воздухе (вакууме)
приведен на рис. 7.12, в. После
нормировки на единицу значения при
получим:
. |
|
Если в этом выражении заменить
на
,
то оно будет соответствовать виду
интерферограммы. Полученная формула и
результаты опыта показывают, что
достаточно измерить расстояние между
пиками интерферограммы, чтобы измерить
оптическую толщину прозрачного слоя17.
Анализ, проведенный для
- импульса,
легко развить и на случай ограниченного
спектра излучения, падающего на
двухслойную структуру. Для этого
представим себе, что происходит при
подобном переходе в пространстве частот.
Выполним мысленно преобразование Фурье.
Спектр освещающего пучка предположим
очень широким, тогда в отражении мы
будем наблюдать приближенно спектр
отражения образца —
.
Чтобы более точно найти его, предположим,
что спектр источника есть
,
тогда
.
Вернемся к интерферограмме. Для этого
нам необходимо выполнить обратное
преобразование, и вместо произведения
в пространстве
мы получим свертку. Если излучению со
спектром
соответствует интерферограмма
,
а
—
,
то реальная интерферограмма вычисляется
как
.
Для участка сплошного спектра постоянной
яркости в интервале
получим, что каждая
- функция
расплывается в пакет
(рис. 7.12, г), для наблюдаемой
интенсивности -
.