
- •Принципы работы оптического спектрометра. Новый взгляд на старые проблемы.
- •1. Введение
- •1.1 От автора
- •1.2 Используемые идеализации
- •1.3. Зачем изучать спектр?
- •1.4. Еще об используемых идеализациях
- •2. Общие принципы работы оптических спектральных приборов
- •2.1. Спектральный прибор как линейная система
- •2.2. Связь между истинным и измеренным спектром. Понятие аппаратной функции
- •2.3. Определение истинного спектра по измеренному. Разрешающая способность спектрометра при наличии шумов
- •2.3.1. Разрешающая способность спектрального прибора по Рэлею.
- •2.4.1. Формирование аппаратного контура классического монохроматора
- •2.4.1.1. Распределение амплитуд в изображении точки в выходной фокальной плоскости классического спектрометра
- •2.4.1.2. Распределение освещенности в изображении щели при когерентном и некогерентном освещении
- •2.4.13. Аппаратный контур классического монохроматора. Частные случаи
- •2.4.2. Предельная разрешающая сила классического спектрометра.
- •2.4.2.1. Способы аподизации аппаратного контура спектрометра
- •2.4.2.1.2. Аподизация контурной диафрагмой.
- •3. Элементы теории работы диспергирущих устройств
- •3.1. Монохроматическая волна. Простейшие случаи применения пространственно-частотных методов анализа.
- •3.1.1. Работа диспергирующего элемента спектрометра.
- •3.1.2. Дифракционная решетка как согласованный фильтр.
- •3.1.3. Преломление монохроматической волны призмой.
- •3.1.4. Гризма
- •3.1.5. Фокальный монохроматор.
- •3.2. Импульсные методы анализа спектроскопических систем.
- •3.2.1.Преобразование сигнала сложной дифракционной решеткой
- •3.2.2. Дифракция плоской -волны на щели.
- •3.2.3. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.3.1. Дифракция волны на двух щелях.
- •3.2.3.2. Амплитудная дифракционная решетка. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.4. Особенности преобразования классической решеткой сигналов разной длительности.
- •4. Растровые монохроматоры
- •4.1. Принципы работы растровых приборов
- •4.2. Аппаратная функция растрового монохроматора
- •4.3. Аподизация аппаратной функции растрового спектрометра.
- •4.3.1. Аподизация контуром растра.
- •4.3.2. Аподизация дефокусировкой.
- •4.4. Влияние дифракции
- •4.5. Схемы построения растровых спеткрометров
- •4.6. Двумерные растры
- •4.7. Монохроматор с фазовым кодированием на входе.
- •4.8. Псевдослучайные растры
- •4.9. Отношение сигнал/шум в растровом спектрометре
- •5. Интерференционные монохроматоры. Сисам
- •5.1. Измерение длины волны излучения по периоду интерференционной картины. Общие замечания.
- •5.2. Интерферометр Майкельсона
- •5.3. Сисам
- •5.4. Светосила сисама
- •5.5. Аподизация аппаратной функции сисама.
- •5.5.1. Аподизация контуром решетки.
- •5.5.2. Аподизация входной диафрагмой.
- •5.6. Оптические схемы сисамов
- •5.6.1 Равноплечий сисам
- •5.6.2. Неравноплечий сисам. Миас.
- •5.7. Отношение сигнал/шум сисама
- •6. Многоканальные спектрометры
- •6.1. Общие замечания. Выигрыш Фелжета
- •6.2. Мультплекс-спектрометры. Приборы с преобразованием Адамара.
- •6.2.1. Применение дискретных кодов для многоканальной регистрации спектров.
- •6.2.2. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •6.2.3. Особенности конструкции спектрометра с преобразованием Адамара
- •6.4.2. Приборы с двойным пространственным кодированием.
- •7. Мультиплекс-спектрометры. Элементы фурье-спектроскопии.
- •7.1. Основные принципы фурье-спектроскопии.
- •7.2. Простейшие случаи связи между интерферограммой и спектром
- •7.2.1. Интерферограмма монохроматического излучения.
- •7.2.2. Интерферограмма участка сплошного спектра
- •7.2.3. Метод кривых видности.
- •7.2.4. Гетеродинирование спектра.
- •7.2.5. Интерферограмма вращательного спектра молекулы.
- •7.2.6. Измерение толщины пленок.
- •7.3. Аппаратная функция фурье-спектрометра и ее аподизация.
- •7.4. Светосила фурье-спектрометра.
- •7.5. Влияние наклонных лучей на частоту интерференционных полос.
- •7.6. Дискретизация интерферограммы.
- •7.7. Интерполяция спектра по данным дискретных отсчетов.
- •7.10. Фурье-спектроскопия нестационарных процессов. Статический фурье-спектрометр.
- •7.11. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •7.12. Некоторые конструктивные особенности фурье-спектрометров.
- •7.13. Ламеллярная решетка.
- •7.14. Амплитудная интерференционная спектроскопия.
- •8. Некоторые новые тенденции
- •8.1. Комб-спектроскопия
- •8.2. Техника прямой амплитудной спектроскопии.
- •8.3 Развитие классического спектрометра
- •8.5 Гиперспектральная аппаратура
7.2.3. Метод кривых видности.
В общем виде задача о форме интерферограммы
и ее огибающей для узкополосного спектра
была решена еще Майкельсоном в 1891 г
[37]. Майкельсон визуально измерял
зависимость контраста (видности)
интерференционных полос от разности
хода между пучками. Эти измерения
позволили ему определить структуру
ряда эмиссионных линий. В частности он
установил, что линия Cd
нм
не имеет сверхтонкой структуры, а контур
ее приближенно описывается гауссовой
кривой с шириной
нм.
Результаты этих измерений позволили в
течение многих лет в ХХ веке использовать
излучение этой линии кадмия в качестве
стандарта длины.
Рассмотрим более подробно метод
Майкельсона. Для этого предположим, что
спектр излучения ограничен в интервале
частот
и для любой
из этого интервала выполняется неравенство
(это требование соответствует
квазимонохроматическому, узкополосному
сигналу). Точку
можно выбрать произвольным образом
внутри нашего интервала. Введем координату
,
тогда очевидно, что
(рис. 7.6).
|
Рис. 7.6 |
Найдем отклик интерферометра для такого сигнала:
|
|
Преобразуем это выражение, разложив
косинус суммы и вынося за знак
интегрирования члены, зависящие от
.
Тогда
|
(7.9) |
Введем для сокращения записи, следуя Майкельсону, следующие обозначения:
|
|
Уравнение (7.9) теперь преобразуется к виду:
|
|
где
и
.
При изменении разности хода
величина
меняется гораздо скорее, чем функции
и
,
так как мы предположили, что
.
Она описывает период, или частоту
интерференционных полос. Стоящая в
квадратных скобках медленно меняющаяся
функция есть контраст этих полос, или
видность.
Для функции видности полос имеем (см. гл. 5):
|
|
Из этого соотношения следует, что
— определенно-положительная величина,
лежащая между
и
(
).
Поскольку
и
меняются медленно, экстремумы
определяются, в основном, функцией
.
Учитывая это, нам не надо искать абсолютный
экстремум, а для локального имеем:
.
Тогда видность полос есть
|
|
Отсюда следует, что полностью совпадает с огибающей высокочастотной структуры интерферограммы.
Обработка кривой видности для анализа
спектра представляет существенные
трудности. Как показал Рэлей, процедура
будет достаточно простой и однозначной
только в том случае, когда функция
симметрична относительно некоторой
частоты
.
В самом деле, при
обращается в нуль интеграл
,
и тогда
,
т. е. с точностью до постоянного
множителя и знака, который можно
определить из физических соображений,
функция
является косинусным фурье-образом
.
Выполнив обратное преобразование, можно
найти спектр.
Некоторые распределения (1) и соответствующие им кривые видности (2) приведены на рис. 7.7, а, б. Примером неоднозначной связи между и спектром может служить
1 |
2 |
|
|
|
a |
|
|
б |
|
|
в |
Рис. 7.7 |
|
рис. 7.7, в. Показанный на этом рисунке спектр состоит из двух линий неравной яркости. Перестановка линий местами не меняет соответствующую кривую видности. Неоднозначность можно устранить, фиксируя в эксперименте не только видность, но и положение полос, однако вся прелесть простоты метода при этом пропадает.
При выполнении своих исследований Майкельсон в ряде случаев пользовался сконструированным им самим механическим «гармоническим анализатором». Пользуясь современной терминологией, можно сказать, что это была аналоговая вычислительная машина, осуществляющая синус- и косинус-преобразование Фурье по 80 точкам. Сравнивая результаты работы этого моделирующего устройства с полученными в эксперименте кривыми, можно было подобрать амплитуды различных частотных составляющих так, чтобы расхождение было минимальным.
Подкупающая простота такого метода анализа и возможность использования простых статистических критериев при сравнении расчетной и моделированной интерферограммы позволяет автору этой книги думать, что возможно возрождение такой методики современными техническими средствами. Может оказаться, что в условиях больших шумов, а также при анализе узкополосных спектров она будет давать ответ скорее и более достоверный, чем другие способы обработки интерферограмм.