
- •Принципы работы оптического спектрометра. Новый взгляд на старые проблемы.
- •1. Введение
- •1.1 От автора
- •1.2 Используемые идеализации
- •1.3. Зачем изучать спектр?
- •1.4. Еще об используемых идеализациях
- •2. Общие принципы работы оптических спектральных приборов
- •2.1. Спектральный прибор как линейная система
- •2.2. Связь между истинным и измеренным спектром. Понятие аппаратной функции
- •2.3. Определение истинного спектра по измеренному. Разрешающая способность спектрометра при наличии шумов
- •2.3.1. Разрешающая способность спектрального прибора по Рэлею.
- •2.4.1. Формирование аппаратного контура классического монохроматора
- •2.4.1.1. Распределение амплитуд в изображении точки в выходной фокальной плоскости классического спектрометра
- •2.4.1.2. Распределение освещенности в изображении щели при когерентном и некогерентном освещении
- •2.4.13. Аппаратный контур классического монохроматора. Частные случаи
- •2.4.2. Предельная разрешающая сила классического спектрометра.
- •2.4.2.1. Способы аподизации аппаратного контура спектрометра
- •2.4.2.1.2. Аподизация контурной диафрагмой.
- •3. Элементы теории работы диспергирущих устройств
- •3.1. Монохроматическая волна. Простейшие случаи применения пространственно-частотных методов анализа.
- •3.1.1. Работа диспергирующего элемента спектрометра.
- •3.1.2. Дифракционная решетка как согласованный фильтр.
- •3.1.3. Преломление монохроматической волны призмой.
- •3.1.4. Гризма
- •3.1.5. Фокальный монохроматор.
- •3.2. Импульсные методы анализа спектроскопических систем.
- •3.2.1.Преобразование сигнала сложной дифракционной решеткой
- •3.2.2. Дифракция плоской -волны на щели.
- •3.2.3. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.3.1. Дифракция волны на двух щелях.
- •3.2.3.2. Амплитудная дифракционная решетка. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.4. Особенности преобразования классической решеткой сигналов разной длительности.
- •4. Растровые монохроматоры
- •4.1. Принципы работы растровых приборов
- •4.2. Аппаратная функция растрового монохроматора
- •4.3. Аподизация аппаратной функции растрового спектрометра.
- •4.3.1. Аподизация контуром растра.
- •4.3.2. Аподизация дефокусировкой.
- •4.4. Влияние дифракции
- •4.5. Схемы построения растровых спеткрометров
- •4.6. Двумерные растры
- •4.7. Монохроматор с фазовым кодированием на входе.
- •4.8. Псевдослучайные растры
- •4.9. Отношение сигнал/шум в растровом спектрометре
- •5. Интерференционные монохроматоры. Сисам
- •5.1. Измерение длины волны излучения по периоду интерференционной картины. Общие замечания.
- •5.2. Интерферометр Майкельсона
- •5.3. Сисам
- •5.4. Светосила сисама
- •5.5. Аподизация аппаратной функции сисама.
- •5.5.1. Аподизация контуром решетки.
- •5.5.2. Аподизация входной диафрагмой.
- •5.6. Оптические схемы сисамов
- •5.6.1 Равноплечий сисам
- •5.6.2. Неравноплечий сисам. Миас.
- •5.7. Отношение сигнал/шум сисама
- •6. Многоканальные спектрометры
- •6.1. Общие замечания. Выигрыш Фелжета
- •6.2. Мультплекс-спектрометры. Приборы с преобразованием Адамара.
- •6.2.1. Применение дискретных кодов для многоканальной регистрации спектров.
- •6.2.2. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •6.2.3. Особенности конструкции спектрометра с преобразованием Адамара
- •6.4.2. Приборы с двойным пространственным кодированием.
- •7. Мультиплекс-спектрометры. Элементы фурье-спектроскопии.
- •7.1. Основные принципы фурье-спектроскопии.
- •7.2. Простейшие случаи связи между интерферограммой и спектром
- •7.2.1. Интерферограмма монохроматического излучения.
- •7.2.2. Интерферограмма участка сплошного спектра
- •7.2.3. Метод кривых видности.
- •7.2.4. Гетеродинирование спектра.
- •7.2.5. Интерферограмма вращательного спектра молекулы.
- •7.2.6. Измерение толщины пленок.
- •7.3. Аппаратная функция фурье-спектрометра и ее аподизация.
- •7.4. Светосила фурье-спектрометра.
- •7.5. Влияние наклонных лучей на частоту интерференционных полос.
- •7.6. Дискретизация интерферограммы.
- •7.7. Интерполяция спектра по данным дискретных отсчетов.
- •7.10. Фурье-спектроскопия нестационарных процессов. Статический фурье-спектрометр.
- •7.11. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •7.12. Некоторые конструктивные особенности фурье-спектрометров.
- •7.13. Ламеллярная решетка.
- •7.14. Амплитудная интерференционная спектроскопия.
- •8. Некоторые новые тенденции
- •8.1. Комб-спектроскопия
- •8.2. Техника прямой амплитудной спектроскопии.
- •8.3 Развитие классического спектрометра
- •8.5 Гиперспектральная аппаратура
3.2.3.2. Амплитудная дифракционная решетка. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
Полученные в предыдущем параграфе
результаты позволяют аналогичным
способом изучить формирование импульсного
отклика и аппаратной функции амплитудной
дифракционной решетки. В простейшем
варианте, фигурирующем в большинстве
учебных пособий, пропускающая решетка
может быть представлена как система
бесконечно длинных щелей шириной
,
расположенных в плоскости
параллельно друг другу с пространственным
периодом
.
Полное число таких щелей пусть будет
(рис. 3.14, а).
|
а |
|
б |
|
в |
Рис. 3.14 |
Зависимость пропускания решетки от координаты в направлении x, перпендикулярном штрихам, показана на рис. 3.14, б. Введя функцию пропускания одного штриха
|
|
и используя гребенку Дирака
|
|
мы можем записать пропускание решетки бесконечного по х размера в виде:
|
(3.25) |
Аналогичным образом нетрудно написать
и формулу для дифракционной решетки
конечной длины. Для этого достаточно
умножить соотношение (3.25) на функцию-
прямоугольник шириной
:
|
(3.26) |
Рассмотрим теперь падение волны
на дифракционную решетку. Каждый край
щели возбуждает вторичные краевые
-волны,
положительную в теневую относительно
окна пропускания сторону и отрицательную
— в освещенную. Отклик одной щели
на большом расстоянии от решетки при
наблюдении под малым углом
к нормали в соответствии с (3.22) будет
иметь вид, показанный на рис. 3.11:
|
|
а полный сигнал легко записать, используя (3.26) и заменив все линейные переменные на их проекции на направление распространения света:
|
(3.27) |
Эта функция показана на рис. 3.14, в.
Она состоит из периодической
последовательности
эквидистантных пар
-импульсов
противоположной полярности. Именно
такой сигнал будет «виден» наблюдателю,
находящемуся в плоскости
,
ортогональной направлению распространения,
на большом расстоянии от решетки (или
в фокальной плоскости линзы).
Для того чтобы найти реакцию дифракционной решетки на монохроматический сигнал, вычислим фурье-образ (3.27). Нормируя отклик в максимуме на единицу, имеем:
|
(3.28) |
Рассмотрим полученное соотношение.
Первый компонент формулы — это
классическая для оптики функция,
связанная, в данном случае, с дифракцией
света на полной апертуре решетки (
—
полная ширина дифракционной решетки).
Поскольку обычно
,
угловая, или спектральная ее ширина
гораздо меньше соответствующих периодов
функций, стоящих в фигурных скобках.
Гребенка Дирака показывает, что имеется множество углов дифракции, в направлении которых наблюдаются максимумы излучения, отвечающих условию:
|
|
т. е. в длинах волн
|
|
В классической оптике мы называем эту совокупность максимумов множеством различных порядков дифракции.
Распределение амплитуд дифрагированного
излучения по порядкам, в свою очередь,
определяется модулирующей функцией,
образованной при дифракции на одной
щели. Учтем также, что выведенная нами
форма импульсного отклика одной щели
верна для малых углов дифракции, т.е.
,
тогда имеем:
|
|
Перейдем от частот к длинам волн:
|
|
Можно было бы вычислить квадрат модуля полученного выражения и сравнить его, допустим, с приведенным в [21, с.64], чтобы убедиться в полном совпадении результатов, однако, мы остановимся на последнем из полученных соотношений, чтобы продолжить качественный его анализ.
Положение порядков дифракции описывается
функцией
,
которая в приближении малых углов дает
совокупность эквидистантных максимумов.
Распределение амплитуд этих максимумов
по порядкам дифракции в пространстве
описывается функцией вида
и определяется пропусканием одного
штриха решетки, как это показано на
рис. 3.15, а. Следовательно, даже в
рассмотренном нами простейшем случае
«черно-белой»
|
а |
|
б |
Рис. 3.15 |
пропускающей
решетки имеется возможность управления
распределением амплитуд волн по порядкам
дифракции путем изменения ширины штриха.
Например, если взять
,
т. е. ширину прозрачной и непрозрачной
части штриха одинаковой, то нули функции
приходятся на четные порядки дифракции.
В дифракционной картине будут наблюдаться
только нечетные порядки — явление,
резко уменьшающее, например, роль эффекта
переложения спектров различных порядков
(рис. 3.15, б).
К такому варианту структуры решетки мы
еще вернемся, а пока вспомним, как была
получена функция, модулирующая
распределение амплитуд по порядкам.
Она появилась в результате интегрирования
по ширине щели однородного распределения
амплитуд с весовыми множителями
.
Представим себе, что каждый штрих будет
снабжен ахроматической призмой, ребро
которой параллельно краю штриха. Считая
угол при вершине А малым, а показатель
преломления вещества равным n,
можно показать, что роль призмы сведется
к повороту оси z на
угол
.
В результате произойдет смещение
всего распределения амплитуд по порядкам
дифракции при сохранении общей
дифракционной структуры положения
порядков. Описанный вариант весьма
близок к рассмотренной выше гризме. Для
отражающей решетки системе миниатюрных
призм соответствует поворот плоскости
отражающего штриха, в результате
появляется отличие «угла блеска» решетки
от угла зеркального отражения на
усредненной плоской поверхности
(положения «нулевого» порядка дифракции).
Вернемся к рис. 3.14, в) и обратим внимание на то, что при равной ширине прозрачной и непрозрачной части штриха импульсный отклик имеет вид, показанный на рис. 3.16 а. До сих
|
|
а |
б |
Рис. 3.16 |
пор анализ
аппаратной функции мы проводили, считая,
что начало отсчета времени находится
в середине промежутка между положительной
и отрицательной
-функцией.
Однако никто не мешает нам изменить
положение начала координат. Достаточно
сдвинуть его на 1/4 периода – и вместо
синуса при вычислении фурье-преобразования
мы получим косинус (рис. 3.16 б). В
реальной жизни подобную операцию можно
осуществить, сместив решетку параллельно
самой себе в направлении, перпендикулярном
штриху, на расстояние 1/2 ширины прозрачной
части штриха. Фаза дифрагированной
волны при этом изменится на
.
Величина сдвига фазы не зависит от длины
волны излучения.