
- •Принципы работы оптического спектрометра. Новый взгляд на старые проблемы.
- •1. Введение
- •1.1 От автора
- •1.2 Используемые идеализации
- •1.3. Зачем изучать спектр?
- •1.4. Еще об используемых идеализациях
- •2. Общие принципы работы оптических спектральных приборов
- •2.1. Спектральный прибор как линейная система
- •2.2. Связь между истинным и измеренным спектром. Понятие аппаратной функции
- •2.3. Определение истинного спектра по измеренному. Разрешающая способность спектрометра при наличии шумов
- •2.3.1. Разрешающая способность спектрального прибора по Рэлею.
- •2.4.1. Формирование аппаратного контура классического монохроматора
- •2.4.1.1. Распределение амплитуд в изображении точки в выходной фокальной плоскости классического спектрометра
- •2.4.1.2. Распределение освещенности в изображении щели при когерентном и некогерентном освещении
- •2.4.13. Аппаратный контур классического монохроматора. Частные случаи
- •2.4.2. Предельная разрешающая сила классического спектрометра.
- •2.4.2.1. Способы аподизации аппаратного контура спектрометра
- •2.4.2.1.2. Аподизация контурной диафрагмой.
- •3. Элементы теории работы диспергирущих устройств
- •3.1. Монохроматическая волна. Простейшие случаи применения пространственно-частотных методов анализа.
- •3.1.1. Работа диспергирующего элемента спектрометра.
- •3.1.2. Дифракционная решетка как согласованный фильтр.
- •3.1.3. Преломление монохроматической волны призмой.
- •3.1.4. Гризма
- •3.1.5. Фокальный монохроматор.
- •3.2. Импульсные методы анализа спектроскопических систем.
- •3.2.1.Преобразование сигнала сложной дифракционной решеткой
- •3.2.2. Дифракция плоской -волны на щели.
- •3.2.3. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.3.1. Дифракция волны на двух щелях.
- •3.2.3.2. Амплитудная дифракционная решетка. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.4. Особенности преобразования классической решеткой сигналов разной длительности.
- •4. Растровые монохроматоры
- •4.1. Принципы работы растровых приборов
- •4.2. Аппаратная функция растрового монохроматора
- •4.3. Аподизация аппаратной функции растрового спектрометра.
- •4.3.1. Аподизация контуром растра.
- •4.3.2. Аподизация дефокусировкой.
- •4.4. Влияние дифракции
- •4.5. Схемы построения растровых спеткрометров
- •4.6. Двумерные растры
- •4.7. Монохроматор с фазовым кодированием на входе.
- •4.8. Псевдослучайные растры
- •4.9. Отношение сигнал/шум в растровом спектрометре
- •5. Интерференционные монохроматоры. Сисам
- •5.1. Измерение длины волны излучения по периоду интерференционной картины. Общие замечания.
- •5.2. Интерферометр Майкельсона
- •5.3. Сисам
- •5.4. Светосила сисама
- •5.5. Аподизация аппаратной функции сисама.
- •5.5.1. Аподизация контуром решетки.
- •5.5.2. Аподизация входной диафрагмой.
- •5.6. Оптические схемы сисамов
- •5.6.1 Равноплечий сисам
- •5.6.2. Неравноплечий сисам. Миас.
- •5.7. Отношение сигнал/шум сисама
- •6. Многоканальные спектрометры
- •6.1. Общие замечания. Выигрыш Фелжета
- •6.2. Мультплекс-спектрометры. Приборы с преобразованием Адамара.
- •6.2.1. Применение дискретных кодов для многоканальной регистрации спектров.
- •6.2.2. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •6.2.3. Особенности конструкции спектрометра с преобразованием Адамара
- •6.4.2. Приборы с двойным пространственным кодированием.
- •7. Мультиплекс-спектрометры. Элементы фурье-спектроскопии.
- •7.1. Основные принципы фурье-спектроскопии.
- •7.2. Простейшие случаи связи между интерферограммой и спектром
- •7.2.1. Интерферограмма монохроматического излучения.
- •7.2.2. Интерферограмма участка сплошного спектра
- •7.2.3. Метод кривых видности.
- •7.2.4. Гетеродинирование спектра.
- •7.2.5. Интерферограмма вращательного спектра молекулы.
- •7.2.6. Измерение толщины пленок.
- •7.3. Аппаратная функция фурье-спектрометра и ее аподизация.
- •7.4. Светосила фурье-спектрометра.
- •7.5. Влияние наклонных лучей на частоту интерференционных полос.
- •7.6. Дискретизация интерферограммы.
- •7.7. Интерполяция спектра по данным дискретных отсчетов.
- •7.10. Фурье-спектроскопия нестационарных процессов. Статический фурье-спектрометр.
- •7.11. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •7.12. Некоторые конструктивные особенности фурье-спектрометров.
- •7.13. Ламеллярная решетка.
- •7.14. Амплитудная интерференционная спектроскопия.
- •8. Некоторые новые тенденции
- •8.1. Комб-спектроскопия
- •8.2. Техника прямой амплитудной спектроскопии.
- •8.3 Развитие классического спектрометра
- •8.5 Гиперспектральная аппаратура
3.2.1.Преобразование сигнала сложной дифракционной решеткой
Итак, пусть на рассеивающую плоскую
решетку, коэффициент рассеяния которой
зависит только от координаты
,
падает под углом
плоская
-волна,
а рассеянную плоскую волну мы наблюдаем
под углом
на большом расстоянии от плоскости
(Рис. 3.8). Это можно
|
Рис. 3.8. Рассеяние δ-волны на плоской решетке |
реализовать установив линзу под
соответствующим углом и наблюдая сигнал
в точке ее фокуса. Длина пути от исходного
положения импульса (черная жирная
прямая) до нового, показанного жирным
пунктиром, после рассеяния есть
для луча, проходящего через начало
координат, и
для луча, падающего в точку
(учитываем, что в данном случае
).
Ориентацию падающей волны выбираем
так, чтобы штрих решетки освещался
однородно по всей его длине. На нашем
рисунке, соответственно, проекцией
такого штриха на плоскость рисунка
является точка на оси
.
При распространении волны точка
пересечения движется со скоростью
.
Считая процесс рассеяния безынерционным
и суммируя на плоскости наблюдения
амплитуды рассеянных волн по всем точкам
x, которые падающая
-волна
последовательно пробегает на плоскости
,
импульсный отклик можно записать в
виде:
|
|
где
есть коэффициент рассеяния в точке с
координатой
.
Перенесем начало отсчета времени в
точку
,
тогда
|
|
Величина зарегистрированной наблюдателем
«скорости опроса»
-волной
точек рассеяния
может меняться от
до
.
Пусть Вас не удивляет появление величин
скорости больше скорости света. Такие
же скорости будут фигурировать и при
изучении рассеяния монохроматической
волны обычной дифракционной решеткой,
если рассматривать этот процесс во
времени и только затем вычислять фазу
волны.
Нас больше всего будет интересовать
случай, когда
,
т. е. вариант
.
Тогда
|
|
Обозначим
,
тогда
|
(3.14) |
Пусть на входе действует сигнал
,
тогда интеграл (3.14) превращается в
|
|
Если углы падения и рассеяния волны
выбраны так, что
,
то
|
(3.15) |
Соотношение (3.15) показывает, что наша
сложная по структуре дифракционная
решетка преобразует падающую на нее
волну в сигнал, пропорциональный функции
взаимной корреляции двух вещественных
сигналов – падающего и «записанного»
на плоскости
.
Если же
,
то
|
(3.16) |
С точностью до знака, этот интеграл представляет собой свертку двух сигналов.
Таким образом, импульсный метод показал, что с помощью простой оптической системы можно осуществить очень важные для систем оптоинформатики операции: «вычисление» функции взаимной корреляции и свертки входного сигнала с наперед заданным образцом. Как известно, функция взаимной корреляции дает оптимальную (в статистическом смысле) оценку вероятности обнаружения известного сигнала в белом шуме.
Здесь уместно подчеркнуть, что полученный нами вывод совпадает со сделанным ранее в разделе 3.1.2, что дифракционная решетка с косинусоидильным пропусканием работает как оптимальный фильтр по отношению к монохроматической волне. В теории связи показано, что результаты применения оптимального фильтра и вычисления функции взаимной корреляции по отношению к сложному сигналу эквивалентны.
Перейдем теперь к самым простым задачам, иллюстрирующим важные особенности поля дифрагированного ультракороткого импульса.