
- •Принципы работы оптического спектрометра. Новый взгляд на старые проблемы.
- •1. Введение
- •1.1 От автора
- •1.2 Используемые идеализации
- •1.3. Зачем изучать спектр?
- •1.4. Еще об используемых идеализациях
- •2. Общие принципы работы оптических спектральных приборов
- •2.1. Спектральный прибор как линейная система
- •2.2. Связь между истинным и измеренным спектром. Понятие аппаратной функции
- •2.3. Определение истинного спектра по измеренному. Разрешающая способность спектрометра при наличии шумов
- •2.3.1. Разрешающая способность спектрального прибора по Рэлею.
- •2.4.1. Формирование аппаратного контура классического монохроматора
- •2.4.1.1. Распределение амплитуд в изображении точки в выходной фокальной плоскости классического спектрометра
- •2.4.1.2. Распределение освещенности в изображении щели при когерентном и некогерентном освещении
- •2.4.13. Аппаратный контур классического монохроматора. Частные случаи
- •2.4.2. Предельная разрешающая сила классического спектрометра.
- •2.4.2.1. Способы аподизации аппаратного контура спектрометра
- •2.4.2.1.2. Аподизация контурной диафрагмой.
- •3. Элементы теории работы диспергирущих устройств
- •3.1. Монохроматическая волна. Простейшие случаи применения пространственно-частотных методов анализа.
- •3.1.1. Работа диспергирующего элемента спектрометра.
- •3.1.2. Дифракционная решетка как согласованный фильтр.
- •3.1.3. Преломление монохроматической волны призмой.
- •3.1.4. Гризма
- •3.1.5. Фокальный монохроматор.
- •3.2. Импульсные методы анализа спектроскопических систем.
- •3.2.1.Преобразование сигнала сложной дифракционной решеткой
- •3.2.2. Дифракция плоской -волны на щели.
- •3.2.3. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.3.1. Дифракция волны на двух щелях.
- •3.2.3.2. Амплитудная дифракционная решетка. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.4. Особенности преобразования классической решеткой сигналов разной длительности.
- •4. Растровые монохроматоры
- •4.1. Принципы работы растровых приборов
- •4.2. Аппаратная функция растрового монохроматора
- •4.3. Аподизация аппаратной функции растрового спектрометра.
- •4.3.1. Аподизация контуром растра.
- •4.3.2. Аподизация дефокусировкой.
- •4.4. Влияние дифракции
- •4.5. Схемы построения растровых спеткрометров
- •4.6. Двумерные растры
- •4.7. Монохроматор с фазовым кодированием на входе.
- •4.8. Псевдослучайные растры
- •4.9. Отношение сигнал/шум в растровом спектрометре
- •5. Интерференционные монохроматоры. Сисам
- •5.1. Измерение длины волны излучения по периоду интерференционной картины. Общие замечания.
- •5.2. Интерферометр Майкельсона
- •5.3. Сисам
- •5.4. Светосила сисама
- •5.5. Аподизация аппаратной функции сисама.
- •5.5.1. Аподизация контуром решетки.
- •5.5.2. Аподизация входной диафрагмой.
- •5.6. Оптические схемы сисамов
- •5.6.1 Равноплечий сисам
- •5.6.2. Неравноплечий сисам. Миас.
- •5.7. Отношение сигнал/шум сисама
- •6. Многоканальные спектрометры
- •6.1. Общие замечания. Выигрыш Фелжета
- •6.2. Мультплекс-спектрометры. Приборы с преобразованием Адамара.
- •6.2.1. Применение дискретных кодов для многоканальной регистрации спектров.
- •6.2.2. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •6.2.3. Особенности конструкции спектрометра с преобразованием Адамара
- •6.4.2. Приборы с двойным пространственным кодированием.
- •7. Мультиплекс-спектрометры. Элементы фурье-спектроскопии.
- •7.1. Основные принципы фурье-спектроскопии.
- •7.2. Простейшие случаи связи между интерферограммой и спектром
- •7.2.1. Интерферограмма монохроматического излучения.
- •7.2.2. Интерферограмма участка сплошного спектра
- •7.2.3. Метод кривых видности.
- •7.2.4. Гетеродинирование спектра.
- •7.2.5. Интерферограмма вращательного спектра молекулы.
- •7.2.6. Измерение толщины пленок.
- •7.3. Аппаратная функция фурье-спектрометра и ее аподизация.
- •7.4. Светосила фурье-спектрометра.
- •7.5. Влияние наклонных лучей на частоту интерференционных полос.
- •7.6. Дискретизация интерферограммы.
- •7.7. Интерполяция спектра по данным дискретных отсчетов.
- •7.10. Фурье-спектроскопия нестационарных процессов. Статический фурье-спектрометр.
- •7.11. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •7.12. Некоторые конструктивные особенности фурье-спектрометров.
- •7.13. Ламеллярная решетка.
- •7.14. Амплитудная интерференционная спектроскопия.
- •8. Некоторые новые тенденции
- •8.1. Комб-спектроскопия
- •8.2. Техника прямой амплитудной спектроскопии.
- •8.3 Развитие классического спектрометра
- •8.5 Гиперспектральная аппаратура
2.4.13. Аппаратный контур классического монохроматора. Частные случаи
Разберем теперь несколько частных случаев формирования аппаратного контура монохроматора. Чаще всего в практике спектрального анализа встречается вариант некогерентного освещения входной щели. Как следует из формул (2.11) и (2.18), аппаратный контур определяется при этом соотношением
|
(2.19) |
Здесь вновь
— распределение освещенности в
изображении входной щели, рассчитанное
в приближении геометрической оптики.
При однородном освещении входной щели
освещенность постоянна в пределах
изображения щели и обращается в нуль
за ее границами. Функция
для монохроматора описывает пропускание
выходной щели и качественно имеет такой
же вид, как
7.
Остается
,
описывающее распределение освещенности
картины, образующейся в выходной
фокальной плоскости при дифракции
плоской волны на отверстии призмы или
решетки. Эта функция имеет форму,
существенно зависящую от распределения
амплитуд непосредственно в плоскости
выходного объектива, она может меняться
экспериментатором.
С нее мы и начнем. Вычислим распределение
амплитуд в дифракционной картине.
Предположим, что от диспергирующего
элемента на выходной объектив падает
однородная по амплитуде плоская
монохроматическая волна. Пусть ширина
выходного зрачка (а следовательно, и
ширина выходящего светового пучка) в
направлении
есть
.
Совместим начало координат с центром
зрачка, тогда в соответствии с (2.13)
|
(2.20) |
Эта функция часто используется в теории
оптических систем, и для нее употребляются
обозначения:
.
Воспользовавшись соотношением (2.14), имеем:
|
(2.21) |
Опуская не имеющий для данного анализа множитель , получаем следующую формулу, описывающую распределение освещенности в дифракционной картине:
|
(2.22) |
Вид функции
приведен на рис. 2.16.
|
Рис. 2.16 |
Она тоже часто встречается при изучении оптических систем, и ей присвоены специальные обозначения:
|
|
Наиболее распространенным является первое и значительно реже употребляются второе и третье.
Функция
играет важную роль не только в оптике,
но также в теории связи и информации,
поэтому имеет смысл поговорить о ее
свойствах. Во-первых, она четна, т. е.
,
так как нечетны и числитель, и знаменатель.
Во вторых, при
функция имеет абсолютный максимум,
равный единице (в этом легко убедиться
самостоятельно). В третьих, она имеет
бесконечное множество равноотстоящих
нулей при
Наконец, она имеет бесконечное число
знакопеременных экстремумов, амплитуда
которых убывает приближенно как
,
они находятся вблизи (не точно!) точек
,
и положение их стремится к середине
между двумя нулями при больших
.
Значения функции
в точках первых экстремумов равны
приближенно -0,22, +0,13, -0,09 соответственно
для первого, второго и третьего.
Следуя [17], обозначим теперь через
расстояние от центра до первого нуля
функции
(ширина дифракционного контура, как мы
определили ее раньше),
— ширину функции
(ширина изображения входной щели в
приближении геометрической оптики) и
— контура
(ширина выходной щели, или пространственная
разрешающая способность фотоприемника).
Очевидно, что
.
Примем значение
за единицу измерения координаты
и рассмотрим некоторые из возможных
вариантов соотношения между величинами
,
и
.
Ширины входной и выходной щели
монохроматора обычно (но не всегда)
имеют близкую величину, во всяком случае
– одного порядка. Уменьшение одной из
них при фиксированной второй приводит
к большим потерям величины проходящего
через прибор светового потока, а
разрешающая способность спектрометра
остается практически неизменной, поэтому
в дальнейшем мы будем, как правило,
считать, что
.
Первый случай. Очень узкие (бесконечно
узкие) входная и выходная щели. (
).
В отсутствие аберраций этот случай
соответствует предельно возможному
разрешению классического спектрометра.
Аппаратный контур получается в результат
двух последовательных сверток функции
с очень узкими прямоугольниками, которые
приближенно мы можем считать
-функциями.
Значение интеграла свертки пропорционально
площади перекрытия двух контуров.
Результат достаточно очевиден (рис. 2.17):
в итоге получится кривая, очень близкая
к
,
отличие от нее будет заметно лишь вблизи
нулей этой функции. Аппаратный контур
имеет хорошо выраженные побочные
максимумы. Величина их спадает с
увеличением
как
,
амплитуда первого составляет около 5%
от основного.
|
Рис. 2.17 |
Второй случай. Ширина и выходной щели
одинакова, и равна «нормальной» входной
щели (
).
Формирование аппаратного контура
происходит в два этапа. Во-первых, в
выходной фокальной плоскости создается
действительное изображение входной
щели искаженное дифракцией. Затем
распределение освещенности в этом
изображении анализируется с помощью
выходной щели. Изучим оба этапа
формирования полного аппаратного
контура. Для того чтобы найти характер
распределения освещенности в изображении
входной щели, рассмотрим два положения
прямоугольника, описывающего пропускание
входной щели, относительно дифракционной
картины (рис. 2.18). Вычисление интеграла
свертки сводится к определению среднего
значения освещенности на интервале,
вырезанном «окном», ширина которого
равна ширине изображения щели (напомню:
в приближении геометрической оптики).
|
Рис. 2.18 |
При больших амплитуды соседних максимумов отличаются друг от друга незначительно, следовательно, распределение освещенности близко к синусоидальному. Ширина входной щели точно совпадает с периодом этой синусоиды, следовательно, среднее по периоду значение функции (положение 1) будет примерно равно половине высоты максимума. При смещении от одного максимума к другому среднее значение, в первом приближении, меняться не будет. Более аккуратный расчет показывает, что на самом деле незначительные колебания в этой области имеются. По мере приближения к центральному максимуму дифракционной картины максимумы увеличиваются, поэтому и среднее значение функции возрастает.
Предположим теперь, что «окно» установлено так, что центр его имеет координату, совпадающую с центром дифракционной картины (положение 2), Центральный пик дифракционного распределения освещенности вдвое превосходит по ширине все остальные, поэтому в результате усреднения получится значение лишь немного ниже исходного максимума.
Таким образом, распределение освещенности в изображении входной щели на выходе спектрометра будет несколько шире, чем дифракционное пятно. Крылья контура приподнимутся, но вторичные максимумы почти полностью пропадут. Сканирование полученного изображения выходной щелью приводит к дальнейшему расширению (правда, незначительному) центрального максимума и некоторому, незначительному, увеличению колебаний контура на крыльях.
Третий случай. Широкие щели. (
).
Далеко на крыльях (
,
положение 1 на рис. 2.19 а) ситуация
вполне аналогична рассмотренной для
.
Среднее по широкому прямоугольнику
значение мало меняется при смещении
«окна» вправо, или влево, колебания
интенсивности совсем незначительны.
Однако, как только в область «окна»
попадает центральный максимум, значение
интеграла свертки резко возрастает и
остается практически постоянным при
дальнейшем смещении окна к центру. Из
рис. 2.19, а видно, что положение
вблизи
чрезвычайно невыгодно для усреднения.
Заштрихованная на рисунке область
дифракционной кривой намного меньше,
чем площадь самого окна. Результатом
этого является уменьшение максимума
по отношению к крыльям контура.
Распределение освещенности в выходной
фокальной плоскости будет близко к
прямоугольному шириной близкой к
.
Считывание этого распределения выходной
щелью монохроматора, также имеющей
прямоугольную форму пропускания,
приводит к тому, что расширяющаяся
центральная часть и поднимающиеся
крылья формируют в конце концов
характерный для такого случая треугольный
аппаратный контур (рис. 2.19, б).
|
|
А |
б |
Рис. 2.19 |