
- •Принципы работы оптического спектрометра. Новый взгляд на старые проблемы.
- •1. Введение
- •1.1 От автора
- •1.2 Используемые идеализации
- •1.3. Зачем изучать спектр?
- •1.4. Еще об используемых идеализациях
- •2. Общие принципы работы оптических спектральных приборов
- •2.1. Спектральный прибор как линейная система
- •2.2. Связь между истинным и измеренным спектром. Понятие аппаратной функции
- •2.3. Определение истинного спектра по измеренному. Разрешающая способность спектрометра при наличии шумов
- •2.3.1. Разрешающая способность спектрального прибора по Рэлею.
- •2.4.1. Формирование аппаратного контура классического монохроматора
- •2.4.1.1. Распределение амплитуд в изображении точки в выходной фокальной плоскости классического спектрометра
- •2.4.1.2. Распределение освещенности в изображении щели при когерентном и некогерентном освещении
- •2.4.13. Аппаратный контур классического монохроматора. Частные случаи
- •2.4.2. Предельная разрешающая сила классического спектрометра.
- •2.4.2.1. Способы аподизации аппаратного контура спектрометра
- •2.4.2.1.2. Аподизация контурной диафрагмой.
- •3. Элементы теории работы диспергирущих устройств
- •3.1. Монохроматическая волна. Простейшие случаи применения пространственно-частотных методов анализа.
- •3.1.1. Работа диспергирующего элемента спектрометра.
- •3.1.2. Дифракционная решетка как согласованный фильтр.
- •3.1.3. Преломление монохроматической волны призмой.
- •3.1.4. Гризма
- •3.1.5. Фокальный монохроматор.
- •3.2. Импульсные методы анализа спектроскопических систем.
- •3.2.1.Преобразование сигнала сложной дифракционной решеткой
- •3.2.2. Дифракция плоской -волны на щели.
- •3.2.3. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.3.1. Дифракция волны на двух щелях.
- •3.2.3.2. Амплитудная дифракционная решетка. Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом.
- •3.2.4. Особенности преобразования классической решеткой сигналов разной длительности.
- •4. Растровые монохроматоры
- •4.1. Принципы работы растровых приборов
- •4.2. Аппаратная функция растрового монохроматора
- •4.3. Аподизация аппаратной функции растрового спектрометра.
- •4.3.1. Аподизация контуром растра.
- •4.3.2. Аподизация дефокусировкой.
- •4.4. Влияние дифракции
- •4.5. Схемы построения растровых спеткрометров
- •4.6. Двумерные растры
- •4.7. Монохроматор с фазовым кодированием на входе.
- •4.8. Псевдослучайные растры
- •4.9. Отношение сигнал/шум в растровом спектрометре
- •5. Интерференционные монохроматоры. Сисам
- •5.1. Измерение длины волны излучения по периоду интерференционной картины. Общие замечания.
- •5.2. Интерферометр Майкельсона
- •5.3. Сисам
- •5.4. Светосила сисама
- •5.5. Аподизация аппаратной функции сисама.
- •5.5.1. Аподизация контуром решетки.
- •5.5.2. Аподизация входной диафрагмой.
- •5.6. Оптические схемы сисамов
- •5.6.1 Равноплечий сисам
- •5.6.2. Неравноплечий сисам. Миас.
- •5.7. Отношение сигнал/шум сисама
- •6. Многоканальные спектрометры
- •6.1. Общие замечания. Выигрыш Фелжета
- •6.2. Мультплекс-спектрометры. Приборы с преобразованием Адамара.
- •6.2.1. Применение дискретных кодов для многоканальной регистрации спектров.
- •6.2.2. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •6.2.3. Особенности конструкции спектрометра с преобразованием Адамара
- •6.4.2. Приборы с двойным пространственным кодированием.
- •7. Мультиплекс-спектрометры. Элементы фурье-спектроскопии.
- •7.1. Основные принципы фурье-спектроскопии.
- •7.2. Простейшие случаи связи между интерферограммой и спектром
- •7.2.1. Интерферограмма монохроматического излучения.
- •7.2.2. Интерферограмма участка сплошного спектра
- •7.2.3. Метод кривых видности.
- •7.2.4. Гетеродинирование спектра.
- •7.2.5. Интерферограмма вращательного спектра молекулы.
- •7.2.6. Измерение толщины пленок.
- •7.3. Аппаратная функция фурье-спектрометра и ее аподизация.
- •7.4. Светосила фурье-спектрометра.
- •7.5. Влияние наклонных лучей на частоту интерференционных полос.
- •7.6. Дискретизация интерферограммы.
- •7.7. Интерполяция спектра по данным дискретных отсчетов.
- •7.10. Фурье-спектроскопия нестационарных процессов. Статический фурье-спектрометр.
- •7.11. Отношение сигнал/шум в спектре.
- •7.12. Некоторые конструктивные особенности фурье-спектрометров.
- •7.13. Ламеллярная решетка.
- •7.14. Амплитудная интерференционная спектроскопия.
- •8. Некоторые новые тенденции
- •8.1. Комб-спектроскопия
- •8.2. Техника прямой амплитудной спектроскопии.
- •8.3 Развитие классического спектрометра
- •8.5 Гиперспектральная аппаратура
2.4.1.1. Распределение амплитуд в изображении точки в выходной фокальной плоскости классического спектрометра
Найдем вид функции . С этой целью вычислим вначале распределение амплитуды поля в окрестности фокуса выходного объектива для точечного объекта, находящегося в плоскости входной апертуры.4
Предположим, что от диспергирующего
элемента на объектив камеры падает
плоская монохроматическая волна. На
расстоянии
от объектива находится его задняя
фокальная плоскость. Пользуясь
приближением геометрической оптики, в
точке
мы должны были бы получить
-образное
распределение освещенности. На самом
деле вследствие дифракции и аберраций
оптической системы образующийся фронт
волны не плоский, и поле световой волны
остается конечным в некоторой малой
окрестности фокальной точки. Для простоты
мы будем рассматривать только так
называемые дифракционно-ограниченные
оптические системы, т. е. считать, что
влиянием аберраций можно пренебречь
по сравнению с дифракционными эффектами.
|
Рис. 2.15 |
Введем координату
в плоскости объектива параллельную
координате
в задней фокальной плоскости. За начало
координат примем точку пересечения
оптической оси прибора для излучения
частоты
с соответствующей плоскостью. Величину
зрачка системы в направлении координаты
примем равной
.
Рассмотрим точку
.
Разность хода между ней и любой из точек
фронта плоской волны, падающей на
объектив вдоль оптической оси, постоянна
(лишь благодаря этому свойству плоская
волна фокусируется в
).
Амплитуду поля световой волны
в рассматриваемой точке можно найти,
сложив амплитуды световой волны
на поверхности
:
|
(2.12) |
Используя функцию
|
(2.13) |
мы можем перейти в (2.12) к бесконечным пределам интегрирования.
Рассмотрим теперь некоторую точку
в плоскости
,
не совпадающую с
и находящуюся от нее на расстоянии много
меньшем
.
В пространстве вблизи плоскости
можно построить поверхность, разность
хода между любой из точек которой и
будет постоянна. Как известно, для
идеальной оптической системы в
параксиальном приближении такой
поверхностью является плоскость,
расположенная под углом
к оптической оси. Иначе говоря, плоская
волна, падающая под углом
на объектив, сфокусируется в точке
.
Амплитуду поля в
,
аналогично предыдущему, найдем как
сумму амплитуд на поверхности волнового
фронта.
Поскольку мы предположили, что угол
мал, можно считать, что модуль амплитуды
световой волны на рассматриваемой
плоскости будет совпадать с
,
но из-за наклона между рассматриваемым
фронтом и плоскостью
имеется некоторая разность хода
.
Учитывая это, представим
в форме:
|
|
Из рис. 12 нетрудно видеть, что
,
тогда
|
(2.14) |
Соотношение (2.14), включает в себя как
частный случай и (2.12). Вместо функции
под знаком интеграла могла стоять любая
другая ограниченная функция, описывающая
пропускание зрачка оптической системы,
следовательно, полученное соотношение
показывает, что распределение амплитуд
поля световой волны в выходной фокальной
плоскости прибора является фурье-образом
распределения амплитуд в плоскости
выходного объектива. Для того чтобы
это было совершенно очевидно, в качестве
единицы измерения
надо взять длину волны излучения
,
а
измерять в единицах
,
тогда
|
|
Очевидно, что в силу линейности системы будет верно и обратное утверждение: распределение амплитуд в плоскости выходного зрачка является фурье-образом распределения амплитуд в выходной фокальной плоскости прибора.