- •Лабораторная работа №1 Универсальный измерительный микроскоп компьютеризированный.
- •Назначение универсального измерительного микроскопа уим-21
- •Методы измерения на микроскопе уим-21
- •Программно-математическое обеспечение «СуперУим-21»
- •Порядок выполнения работы:
- •Методика построения прилегающей прямой.
- •Преобразователь линейных перемещений лир-7 Обозначение: лир-7- x1- xxxx2-xx3-xx4-xx5-xx6-х7-xxх8
- •Меры плоского угла призматические (по гост 2875-88)
- •Лабораторная работа №2 Методика оценки точности изготовления изделий сложной формы с использованием лазерного 3d-сканера Roland lpx-250
- •Определение параметров совмещения физической и математической моделей изделий сложной формы
- •Порядок выполнения работы
Лабораторная работа №2 Методика оценки точности изготовления изделий сложной формы с использованием лазерного 3d-сканера Roland lpx-250
Цель работы: Изучение одного из математических методов совмещения математической и физической моделей изделия сложной формы с целью определения отклонений формы изготовленного физического объекта
Определение параметров совмещения физической и математической моделей изделий сложной формы
Одной из актуальных задач прикладной геометрии в современных условиях автоматизации проектирования и производства технических изделий становится оценка точности их изготовления, на основе сопоставления материалов измерений с исходной математической моделью.
Выделяют следующие основные проблемы обработки материалов измерения сложных поверхностей:
возможности точной установки модели на столе контрольно-измерительной машины. Уточнение базирования модели ограничивается точностью изготовления баз и расположения относительно баз контролируемой поверхности, а также точностью их визирования (фиксации) при измерениях;
непосредственный замер координат контролируемых точек изготовленной поверхности, отклонения которых от эталона должны быть установлены, практически невозможен. Они могут быть установлены только косвенно на основании измерений достаточно большого объема в их окрестности;
конечная геометрия щупа, касающегося измеряемой поверхности позволяет оценивать координаты только косвенно. Достоверно фиксируется координата нижней точки щупа или его центра;
вследствие погрешностей базирования и изготовления для измеренных точек поверхности необходимо найти соответствующие им на математической модели изделия. Для сложных поверхностей решение данной задачи весьма затруднительно. Именно сопоставление соответствующих точек математической модели с результатами измерений, позволяет сделать заключение о точности изготовления.
При измерениях положение осей изделия после установки на столе КИМ в общем случае не совпадает с осями КИМ. Отличия определяют погрешность базирования, которая должна быть устранена перед сопоставлением результатов измерений с исходной математической моделью изделия.
Оценка точности базирования должна формироваться как на основе измерения баз, так и достаточного объема точек контролируемой поверхности. Наряду с решением задачи базирования поверхностей, должна быть также решена задача базирования контрольных обводов (сечений и характерных линий на поверхности) при различных используемых способах задания информации.
Рассмотрим вопрос совмещения детали и
его математической модели [1]. Пусть
имеются математическая и изготовленная
с ограниченной точностью физическая
модели. Начала собственных систем
координат О и Од моделей смещены
на вектор
.
Кроме того, система Одxдyдzд
повернута относительно осей Ox,
Oy, Oz системы
Оxyz на углы ,
и
(рис. 3.1).
Рис. 2.1. Системы координат детали и математической модели
На математической модели задается ряд характерных точек ai. Производится замер соответствующих им точек bi на детали. Число точек n и их расположение зависит от конкретной формы модели и определяется конструктором.
Необходимо найти преобразование R, которое переводило бы систему Одxдyдzд в систему Оxyz так, что сумма квадратов расстояний от преобразованных измеренных точек ci=R(bi) до соответствующих им точек математической модели ai была минимальной:
(3.1)
Преобразование измеренной точки bi в матричной форме можно записать следующим образом:
, (3.2)
где M(R) — матрица поворота:
Ограничимся линейным приближением, тогда, считая, что величины Px, Py, Pz, , и , можно записать: sin, cos1. Отбрасывая величины второго порядка малости, получаем выражение для M(R):
.
Таким образом, искомыми являются шесть величин: Px, Py, Pz, , и .
Преобразование (3.2) для измеренной точки в координатной форме выглядит следующим образом:
.
Подставив значения cx, cy и cz в выражение (3.1), получаем выражения для функции Лагранжа:
Условием минимума функции Лагранжа является равенство нулю частных производных
Приравняв выражения для частных производных к нулю и сгруппировав подобные члены, получаем систему линейных уравнений:
(3.3)
Решая эту систему уравнений, получаем искомые значения Px, Py, Pz, , и , определяющие преобразование (3.2). Определенные значения линейных и угловых смещений Px, Py, Pz, , и составляют исходную информацию оператору КИМ для корректировки СКД.
После базирования физической модели на ней производится ряд кольцевых замеров, соответствующих контрольным обводам (сечениям) математической модели. Точки замеренного сечения bi лежат в одной плоскости. Число точек в сечении зависит от геометрии конкретного сечения. Каждое замеренное сечение совмещается с соответствующим ему сечением математической модели способом, аналогичным описанному.
