
- •261700 «Технология полиграфического и упаковочного производства»
- •Введение
- •1. Общие указания о порядке выполнения лабораторных работ и оформлении отчёта
- •2. Техника безопасности при выполнении лабораторных работ
- •Построение термомеханических кривых для различных полимерных материалов
- •Методические указания
- •Аморфных (I) и кристаллизующихся (II) полимеров и макросетчатого (сшитого) (III) полимеров:
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Изучение теплового расширения полимеров методом линейной дилатометрии
- •Методические указания
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок проведения работ
- •Обработка экспериментальных данных
- •Контрольные вопросы
- •Построение циклической диаграммы растяжение-сжатие для эластомеров
- •Методические указания
- •Описание лабораторией установки
- •Порядок проведений работы
- •Обработка экспериментальных данных
- •Исследование процессов электрической релаксации в полимерах
- •Методические указания
- •Применяемая аппаратура
- •Порядок проведения работы
- •Обработка экспериментальных данных
- •Контрольные вопросы
- •Исследование влияния условий кристаллизации на характер надмолекулярной структуры кристаллизующихся полимеров
- •Методические указания
- •Применяемая аппаратура
- •Порядок проведения работы
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Изучение ползучести полимеров в твёрдом состоянии
- •Методические указания
- •Применяемая аппаратура
- •Порядок проведения работы
- •Обработка экспериментальных данных
- •Исследование влияния условий деформирования на прочностные характеристики полимерных материалов при растяжении
- •Методические указания
- •Применяемая аппаратура
- •Порядок проведения работы
- •Обработка экспериментальных данных
- •Контрольные вопросы
- •Механические испытания полимерных упаковочных материалов
- •Методические указания
- •Определение прочности
- •8.1. Параметры образцов, испытываемых на растяжение
- •8.2. Параметры образцов, испытываемых на ударный изгиб
- •8.3. Параметры образцов, испытываемых на сжатие
- •8.4. Параметры образцов, испытываемых на статический изгиб
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка экспериментальных данных
- •Контрольные вопросы
- •Определение прочностных характеристик композиционных полимеров. Построение круговой диаграммы
- •Методические указания
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка экспериментальных данных
- •Контрольные вопросы
- •Сравнительная оценка прочностных показателей различных плёночных упаковочных материалов
- •Методические показания
- •Порядок выполнения работы
- •Определение прочностных характеристик при растяжении.
- •Определение сопротивления разрыву.
- •Обработка экспериментальных данных
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Содержание
- •Физико-химия полимерных упаковочных материалов
- •392000, Г. Тамбов, ул. Советская, д. 106, к. 14
- •Рекомендуемая литература:
Применяемая аппаратура
Поляризационный микроскоп МИН-8 предназначен для исследования прозрачных препаратов в проходящем (обыкновенном или поляризованном) свете. Прилагаемый к микроскопу набор объективов и окуляров обеспечивает возможность получения увеличений от 17,5Х до 1350Х. Прикладываемые к микроскопу объективы предназначены для работы с препаратами, имеющими покровные стекла толщиной 0,17 мм. Оптика объективов не имеет натяжений, влияющих на поляризацию света. Оптическая схема микроскопа изображена на рис. 5.3 и рис. 5.4.
От источника света 1 через конденсорные линзы 2 и 4 лучи падают на призму 5, преломляются в ней и проходят через поляризатор 7, откуда выходят поляризованным пучком. Далее, проходя через апертурную диафрагму 8, поляризованные лучи попадают на один из трёх сменных конденсаторов 9 (в зависимости от опертуры установленного объектива) и освещают исследуемый препарат 11. От препарата лучи направляются в объектив 12, анализатор 15 и дальше либо непосредственно в окуляр 19 (при ортоскопическом наблюдении), либо в этот же окуляр 19 через линзу Бертрана 20 (при наблюдении картины дифракции при коноскопическом наблюдении).
При коноскопическом наблюдении и при работе с объективами 20Х, 40Х и 60Х откидная линза 10 должна быть включена в ход лучей.
Рис. 5.3. Оптическая схема микроскопа с ходом лучей при ортоскопическом исследовании кристаллов:
1 – источник света; 2 – конденсорная линза; 3 – полевая диафрагма; 4 – конденсорная линза; 5 – призма; 6 – апертурная диафрагма; 7 – поляризатор; 8 – апертурная диафрагма; 9 – сменный конденсатор; 10 – откидная линза; 11 – препарат; 12 – объектив; 13 – нижняя коррекционная линза; 14 – компенсационная пластинка; 15 – анализатор; 16 – верхняя коррекционная линза; 17 – призма; 18 – ирисовая диафрагма; 19 – окуляр
В конденсаторе имеются две диафрагмы 6 и 8; первая помещается под поляризатором, а вторая – над ним. При работе с объективом 9Х и выше диафрагма 8 служит в качестве апертурной диафрагмы, поэтому диафрагма 6 в этом случае должна быть полностью открыта. При работе со слабым объективом 3,5Х диафрагма 6 является апертурной диафрагмой, и тогда диафрагма 8 должна быть полностью открыта. Диафрагма 3, находящаяся около осветителя, является полевой. Диафрагма 18 служит для ограничения зерна минерала при коноскопическом исследовании. При ортоскопическом наблюдении диафрагма 18 должна быть полностью открыта. Призма 17 изменяет направление оптической оси микроскопа для удобства наблюдения.
Микроскоп имеет основание, на выступ которого жёстко установлен тубусодержатель. На задней стенке основания установлен фонарь, в кожухе которого расположен патрон с электролампой. Светящаяся нить лампы центрируется двумя винтами. Накал лампы регулируется ручкой трансформатора. Для фокусировки микроскопа на объект служат маховички грубой подачи и барабанчики микрометренного механизма. Дифференциальный микрометренный механизм имеет две рукоятки подачи. При работе одновременно обеими рукоятками скорость перемещения стола будет в два раза больше, чем при работе одной рукояткой. Поворот правой или левой рукоятки на одно деление соответствует перемещению стола на 0,002 мм.
Для наилучшего использования объективов с разными апертурами в комплекте микроскопа предусмотрены три сменных конденсатора 9 и постоянная откидывающаяся линза 10. На салазках каждого конденсатора указано значение численной апертуры.
Конденсор с апертурой А-1,2 применяется только при работе с иммерсионным объективом 901,25. Конденсор с апертурой А-0,85 используется для всех объективов микроскопа, кроме иммерсионного, причем при включенной линзе 10 апертура конденсора равна 0,85, а при выключенной линзе 10…0,27; при выключенной линзе 10 конденсор используется для работы с объективом 3,50,10 конденсор поднимается до верхнего упора, как обычно, а при работе с объективом 90,20 опускается ниже примерно на 4 мм.
Между конденсором 9 и поляризатором 7 (см. рис. 5.3) помещена апертурная ирисовая диафрагма 8, отверстие которой регулируется рукояткой; эта диафрагма используется при ортоскопическом наблюдении с объективами 9Х и выше. Поляризатор помещен в специальную оправку, при помощи которой он вставляется в корпус конденсоров. На наружной конусной части оправы поляризатора награвирована шкала на 360° (с делениями через 5°), а на цилиндрической части корпуса – индекс, что позволяет, разворачивать поляризатор на требуемый угол по отношению к анализатору. Под поляризатором помещена вторая ирисовая диафрагма 6 (рис. 5.3), отверстие которой регулируется вращением нижней накатанной части оправы; эта диафрагма служит апертурной диафрагмой при работе с объективов 3,5Х.
Рис. 5.4. Оптическая схема микроскопа с ходом лучей при коноскопическом исследовании кристаллов:
1 – источник света; 2 – конденсорная линза; 3 – полевая диафрагма; 4 – конденсорная линза; 5 – призма; 6 – апертурная диафрагма; 7 – поляризатор; 8 – апертурная диафрагма; 9 – сменный конденсатор; 10 – откидная линза; 11 – препарат; 12 – объектив; 13 – нижняя коррекционная линза; 14 – компенсационная пластинка; 15 – анализатор; 16 – верхняя коррекционная линза; 17 – призма; 18 – ирисовая диафрагма; 19 – окуляр; 20 – линза Бертрана
Над прорезью для компенсаторов 14 предусмотрены паз типа ласточкина хвоста, в который вставлены салазки с оправой анализатора 15. Анализатор снабжён поворотным механизмом и может поворачиваться на 90°. На салазках анализатора укреплен сегмент круговой шкалы на 90° с делениями через 5°. Деления «0» шалы анализатора и «90» или «180» шкалы поляризатора соответствуют скрещенному положению поляризационных устройств.
Над салазками анализатора установлен поворотный диск с тремя монохроматическими фильтрами и одним свободным отверстием. Монохроматические фильтры применяют для пропускания света с длиной волны 486, 589 и 620 ммк.
Настройка микроскопа при работе с искусственным освещением производится следующим образом. В тубус микроскопа вставить окуляр. В щипцовое устройство микроскопа вставить объектив согласно требуемому увеличению. Необходимо следить за тем, чтобы апертура применяемого конденсора соответствовала апертуре применяемого объектива. Анализатор временно выключить. На предметный столик микроскопа установить исследуемый объект и фокусируя столиком, добиться резкого изображения объекта. При работе с искусственным освещением необходимо, чтобы нить лампы накаливания 1 (см. рис. 5.3) спроектировалась на плоскость апертурной диафрагмы и полностью заполнила зрачок выхода объектива. Центрировку нити следует производить регулировочными винтами, а проекцию нити на плоскость апертурной диафрагмы – подвижкой источника света. Настройку освещения надо производить либо с помощью точечной диафрагмы, устанавливаемой вместо окуляра, либо с окуляром при включенной линзе Бертрана (см. рис. 5.4). Наблюдая за зрачком выхода объектива, подвижкой конденсора по высоте добиться такого положения, при котором нить лампы была бы резко видна и заполнила весь зрачок объектива.