
- •1.Кристаллозаготовка
- •1.1 Способы ориентации монокристалла по кристаллографическим плоскостям
- •1.2 Способы резки слитка на пластины
- •Среди основных способов резки слитков на пластины следующие:
- •1.3 Структура нарушенного слоя после механической обработки
- •1.4 Виды шлифовки пластин
- •Скругление краев пластин
- •1.4 Виды полировки пластин
- •1.6 Химико-механическая полировка пластин
- •1.7 Виды разделения пластины на кристаллы
- •1.8 Контрольные точки после финишной полировки
- •2. Химподготовка пластин
- •2.1 Источники загрязнения поверхности и классификация загрязнений
- •2.2 Деионизованная вода. Получение. Основные характеристики технологической деионизованной воды
- •2.3 Гидромеханическая отмывка
- •2.4 Обезжиривание пластин. Реактивы. Способы обезжиривания
- •2.5 Полирующее травление. Задачи травления. Принцип кислотного травления. Основные компоненты кислотного травителя
- •2.6 Щелочное травление кремния. Состав щелочного травителя
- •3.2 Структура установки газофазной эпитаксии кремния
- •3.3 Кинетика роста эпитаксиальной пленки
- •3.4 Процессы массопереноса в эпитаксиальном реакторе. Число Рейнольца. Толщина пограничного газового слоя
- •3.5 Основные типы газофазных эпитаксиальных реакторов
- •3.6 Легирование и автолегирование эпитаксиального слоя.
- •3.7 Основные дефекты эпитаксиальных плёнок и пути их снижения
- •3.8 Молекулярно – лучевая эпитаксия
- •1.Окисление кремния в сухом кислороде. Кинетика. Качество пленок
- •2. Окисление кремния в цикле сухой-влажный-сухой кислород.
- •3. Пирогенное окисление кремния
- •4. Модель окисления Дила- Гроува
- •5. Окисление под давлением
- •6. Контроль параметров и качества окисных пленок.
- •1. Назначение термодиффузии в технологии и основные механизмы термодиффузии в кремнии
- •2. Основные законы термодиффузии.
- •3. Диффузия из неограниченного источника (загонка).
- •4. Диффузия из ограниченного источника (разгонка)
- •5. Основные источники n- и р- примесей для кремния
- •6. Технологические методы проведения диффузии.
- •7. Диффузия из твердого планарного источника
- •8. Контроль толщины диффузионного слоя
- •9. Контроль концентрации легирующей примеси в диффузионном слое.
- •1. Эффект каналирования
- •2. Атомное и электронное торможение имплантированных ионов.Боковое рассеяние.
- •4. Принцип работы масс сепаратора при ионном легировании.
- •5. Источник ионов установки ионного легировании. Конструкция и принцип работы
- •6. Измерение ионного тока. Ячейка Фарадея
- •6. Металлизация
- •Назначение металлизации в ис. Контактное сопротивление металл- полупроводник.
- •3.Механические вращательные насосы. Принцип работы. Применимость.
- •4.Паромасляный (диффузионный) насос. Принцип работы. Применимость.
- •5.Насос Рутса (двухроторный). Принцип работы. Применимость.
- •6.Турбомолекулярный насос. Принцип работы. Применимость.
- •7.Геттерный и криосорбционный насосы. Принцип работы. Применимость.
- •Криосорбционные насосы.
- •8.Термопарный и ионизационный вакуумметры. Принцип работы. Применимость.
- •9.Электронно- лучевое испарение. Принцип. Применимость.
- •10.Импульсное испарение тугоплавких металлов. Основные методы.
- •11.Магнетронное распылительное устройство.
- •12.Ионно- лучевой источник нанесения- травления (типа Кауфман). Принцип, конструкция, применимость.
- •13.Контроль толщины пленок в процессе нанесения (по «свидетелю», кварцевый).
- •14.Электромиграция в металлических пленках. Технологические пути снижения электромиграции.
- •15.Создание омических контактов. Технологические пути повышения омичности контакта.
- •7. Микролитография.
- •Укрупненная схема техпроцесса фотолитографии.
- •2.Химподготовка химически активных технологических слоев.
- •3.Химподготовка химически неактивных технологических слоев.
- •4.Нанесение резиста на технологический слой. Основные методы.
- •5.Нанесение сверхтонкого слоя фоторезиста (Ленгмюровские пленки).
- •Травление кремния в щелочных растворах и кислотных травителях.
- •Использование травления кремния для выявления дефектов пластин.
- •Химическое травления диоксида кремния.
- •Электрохимическое травление кремния.
- •Удаление фоторезиста химическим методом и в кислородной плазме.
- •Взрывная фотолитография.
- •Проекционная фотолитография. Используемые варианты.
- •Рентгеновская литография. Техпроцесс изготовления рентгеновского шаблона.
- •Основные типы плазменных реакторов.
3.2 Структура установки газофазной эпитаксии кремния
3.3 Кинетика роста эпитаксиальной пленки
Используемые кремнийсодержащие реагенты:
- SiCl4 – тетрахлорид кремния
- SiHCl3 – трихлорсилан
- SiH2Cl2 – дихлорсилан
- SiH4 –силан
Наиболее изучен и используется в промышленности – SiCl4
Суммарная реакция – водородное восстановление Si из SiCl4
SiCl4ГАЗ + 2H2ГАЗ (1200°С)→ SiТВ + 4HClГАЗ↑
В зависимости от температуры реакция может пойти по разному:
SiCl4 + H2 ↔ SiHCl3 + HClГАЗ↑
SiHCl3 + H2 ↔ SiH2Cl2 + HClГАЗ↑
SiH2Cl2 + H2 ↔ SiCl2 + H2↑
SiHCl3 ↔ SiCl2 + HClГАЗ↑
SiCl2 + H2 ↔ Si + 2HClГАЗ↑
При низких и высоких температурах скорость роста отрицательна, т.е. начинается процесс травления
Механизм наращивания плёнки
- подход молекулы SiCl4 и Н2 к поверхности
- адсорбция молекул SiCl4 и Н2
- реакция SiCl4 + Н2 на поверхности
- десорбция продукта реакции HCl
- упорядочение атомов Si в решётке
Энергия активации процесса 5эВ соответствует энергии самодиффузии Si
Попытка значительно увеличить скорость роста плёнки приводит к росту поликремния !
3.4 Процессы массопереноса в эпитаксиальном реакторе. Число Рейнольца. Толщина пограничного газового слоя
Основные параметры массопереноса
Толщина пограничного слоя
У=(DrX / Re)1/2
Х – расстояние вдоль оси реактора от входа
- реагенты диффундируют из пограничного слоя к подложке
- продукты реакции диффундируют от подложки в пограничный слой и уносятся газовым потоком
Поток реагентов к подложке
J=D dn/dy
Вывод: для достижения равномерного осаждения плёнки необходимо поддерживать постоянным поток J путём поддержания dn/dy = const, т.е. конструкцией реактора
Число Рейнольдса – параметр, описывающий характер течения газа в реакторе
Re=Drvρ / μ
ρ – плотность газа, μ – вязкость, v – скорость течения, Dr – диаметр реакторной трубы
При Re > 2000 поток турбулентный
Re < 2000 поток ламинарный
Вывод: ламинарность потока, обеспечивающая однородность осаждения по площади подложек обеспечивается вариацией геометрии реактора для конкретного газа
Формирование пограничного слоя газа с уменьшением скорости течения газа у стенок трубы
3.5 Основные типы газофазных эпитаксиальных реакторов
Горизонтальный реактор
Колоколообразный реактор
Вертикальный (баррельный) реактор
Используемые газы
продувочный газ ( азот, либо аргон) - перед процессом нанесения продувают реактор для удаления воздуха
- газ носитель – водород – газ, в котором разбавляют реагент SiCl4 или SiН
- газ травитель – обычно HCl – для очистки подложки непосредственно перед нанесением плёнки
- легирующий газ – газ, содержащий легирующую примесь (бор, фосфор)
- реагент – SiCl4 … SiН4 – газ, содержащий кремний
Зависимость скорости травления (очистки) кремния от концентрации HCl в водороде
Влияние добавок HCl на поверхность кремния
Основные газы для эпитаксии кремния
3.6 Легирование и автолегирование эпитаксиального слоя.
Пары источника легирующей примеси переносятся газом – носителем в зону реакции
- жидкие источники (PCl3, BBr3) 2PCl3 + 3H2 → 2P + 6HCl
Процесс капризен к малейшим скачкам температуры
- газообразные источники (диборан B2H6, арсин AsH3, фосфин РH3)
Очень токсичны, поэтому разбавляют водородом в концентрациях (5·10-4 – 1)%
Типичный техпроцесс эпитаксии
- химическое травление, отмывка, сушка
- загрузка подложек
- вытеснение воздуха – продувка азотом при 500°С
- газовое травление в HCl + H2
- нанесение в реагенте
- охлаждение реактора
- разгрузка
Контроль параметров эпитаксиальной плёнки
Толщина и разброс толщины по поверхности подложки
-интерференция по p-n–переходу (n-слой на p-подложке и наоборот)
-травление лунки с окрашиванием в HF(p-тёмный, n-светлый)
-косой шлиф
-инфракрасная интерференция
Автолегирование (технологическое загрязнение) эпитаксиальных плёнок