- •1.Кристаллозаготовка
- •1.1 Способы ориентации монокристалла по кристаллографическим плоскостям
- •1.2 Способы резки слитка на пластины
- •Среди основных способов резки слитков на пластины следующие:
- •1.3 Структура нарушенного слоя после механической обработки
- •1.4 Виды шлифовки пластин
- •Скругление краев пластин
- •1.4 Виды полировки пластин
- •1.6 Химико-механическая полировка пластин
- •1.7 Виды разделения пластины на кристаллы
- •1.8 Контрольные точки после финишной полировки
- •2. Химподготовка пластин
- •2.1 Источники загрязнения поверхности и классификация загрязнений
- •2.2 Деионизованная вода. Получение. Основные характеристики технологической деионизованной воды
- •2.3 Гидромеханическая отмывка
- •2.4 Обезжиривание пластин. Реактивы. Способы обезжиривания
- •2.5 Полирующее травление. Задачи травления. Принцип кислотного травления. Основные компоненты кислотного травителя
- •2.6 Щелочное травление кремния. Состав щелочного травителя
- •3.2 Структура установки газофазной эпитаксии кремния
- •3.3 Кинетика роста эпитаксиальной пленки
- •3.4 Процессы массопереноса в эпитаксиальном реакторе. Число Рейнольца. Толщина пограничного газового слоя
- •3.5 Основные типы газофазных эпитаксиальных реакторов
- •3.6 Легирование и автолегирование эпитаксиального слоя.
- •3.7 Основные дефекты эпитаксиальных плёнок и пути их снижения
- •3.8 Молекулярно – лучевая эпитаксия
- •1.Окисление кремния в сухом кислороде. Кинетика. Качество пленок
- •2. Окисление кремния в цикле сухой-влажный-сухой кислород.
- •3. Пирогенное окисление кремния
- •4. Модель окисления Дила- Гроува
- •5. Окисление под давлением
- •6. Контроль параметров и качества окисных пленок.
- •1. Назначение термодиффузии в технологии и основные механизмы термодиффузии в кремнии
- •2. Основные законы термодиффузии.
- •3. Диффузия из неограниченного источника (загонка).
- •4. Диффузия из ограниченного источника (разгонка)
- •5. Основные источники n- и р- примесей для кремния
- •6. Технологические методы проведения диффузии.
- •7. Диффузия из твердого планарного источника
- •8. Контроль толщины диффузионного слоя
- •9. Контроль концентрации легирующей примеси в диффузионном слое.
- •1. Эффект каналирования
- •2. Атомное и электронное торможение имплантированных ионов.Боковое рассеяние.
- •4. Принцип работы масс сепаратора при ионном легировании.
- •5. Источник ионов установки ионного легировании. Конструкция и принцип работы
- •6. Измерение ионного тока. Ячейка Фарадея
- •6. Металлизация
- •Назначение металлизации в ис. Контактное сопротивление металл- полупроводник.
- •3.Механические вращательные насосы. Принцип работы. Применимость.
- •4.Паромасляный (диффузионный) насос. Принцип работы. Применимость.
- •5.Насос Рутса (двухроторный). Принцип работы. Применимость.
- •6.Турбомолекулярный насос. Принцип работы. Применимость.
- •7.Геттерный и криосорбционный насосы. Принцип работы. Применимость.
- •Криосорбционные насосы.
- •8.Термопарный и ионизационный вакуумметры. Принцип работы. Применимость.
- •9.Электронно- лучевое испарение. Принцип. Применимость.
- •10.Импульсное испарение тугоплавких металлов. Основные методы.
- •11.Магнетронное распылительное устройство.
- •12.Ионно- лучевой источник нанесения- травления (типа Кауфман). Принцип, конструкция, применимость.
- •13.Контроль толщины пленок в процессе нанесения (по «свидетелю», кварцевый).
- •14.Электромиграция в металлических пленках. Технологические пути снижения электромиграции.
- •15.Создание омических контактов. Технологические пути повышения омичности контакта.
- •7. Микролитография.
- •Укрупненная схема техпроцесса фотолитографии.
- •2.Химподготовка химически активных технологических слоев.
- •3.Химподготовка химически неактивных технологических слоев.
- •4.Нанесение резиста на технологический слой. Основные методы.
- •5.Нанесение сверхтонкого слоя фоторезиста (Ленгмюровские пленки).
- •Травление кремния в щелочных растворах и кислотных травителях.
- •Использование травления кремния для выявления дефектов пластин.
- •Химическое травления диоксида кремния.
- •Электрохимическое травление кремния.
- •Удаление фоторезиста химическим методом и в кислородной плазме.
- •Взрывная фотолитография.
- •Проекционная фотолитография. Используемые варианты.
- •Рентгеновская литография. Техпроцесс изготовления рентгеновского шаблона.
- •Основные типы плазменных реакторов.
3.Химподготовка химически неактивных технологических слоев.
Группа химически неактивных слоёв – кремний и диоксид кремния:
- смесь Каро: H2SO4:H2O2 = 3:1 при 90-150°С
(очищает органические загрязнения и, частично, ионные и атомарные)
перекисно-аммиачные растворы ПАР: NH4OH:H2O2:H2O = 1:1:5 при 90-150°С
перекисно-соляные растворы: H2O:H2O2:HCl = 5:1:1 при 70-90°С
Контроль качества химподготовки
- под микроскопом в тёмном поле (подсчёт светящихся точек)
- измерение угла смачивания воды (окунание, распыление)
- измерение трения (грязная поверхность скользит)
4.Нанесение резиста на технологический слой. Основные методы.
Центрифугирование
Пульверизация
В электростатическом поле
Нанесение сухого фоторезиста с последующим удалением несущей плёнки
Двусторонняя литография
5.Нанесение сверхтонкого слоя фоторезиста (Ленгмюровские пленки).
Этот метод послойного наращивания на подложках однородных и стабильных кристаллических молекулярных пленок с желаемым числом слоев является, по-видимому, единственным, с помощью которого на гладкие подложки (например, стеклянные или металлические) можно наносить сплошные
ориентированные пленки многих органических веществ (стеарата бария, стеариновой кислоты, некоторых стеринов и многих других) известной и контролируемой толщины от единиц нанометров до нескольких микрометров с точностью ~2,5 нм.
Ленгмюровские пленки принимают форму той поверхности, на которую их наносят, и могут быть полезными для травления металлических пленок, которые пересекают ступеньки. Методики, основанные на технологии Ленгмюра–Блоджетт, позволяют без значительных материальных затрат воспроизводимо получать двумерные молекулярные моно- и мультислои на основе органических амфифильных веществ. Особенностью данных методик является то, что сплошной упорядоченный мономолекулярный слой, представляющий собой своего рода двумерный кристалл, предварительно фор-
мируется на поверхности субфазы и впоследствии целостно переносится на поверхность подложки (см. рис. 2.19).
Совмещение и экспонирование.
Оптические эффекты при контактной печати.
Проявление изображения в фоторезисте. Основные профили проявления и технологические пути достижения этих профилей.
Проявление фоторезиста после экспонирвания
-проявители негативных резистов : трихлорэтилен, бензол, толуол,..
-проявители позитивных резистов : водноглицериновые растворы щелочей ( 2% раствор тринатрийфосфата)
Факторы, определяющие качество травления технологического слоя.
Адгезия фоторезиста к слою
Степень задубливания фоторезиста
Смачиваемость вытравливаемых областей слоя( краевой угол смачивания)
Состав травителя
Угол смачивания зависит от :
-загрязнённости поверхности (органика)
-наличия неконтролируемых окислов на кремнии и металлизации
-адсорбции поверхности газов из воздуха
-шероховатости поверхности
Травление алюминия и его сплавов.
Травление алюминия и его сплавов применяют не только для удаления химических загрязнений поверхности металла, но и для легкого протравливания металла. Для этого рекомендуется применять растворы щелочей и кислот. Раствор щелочей берут обычно 10 - 20 % - ный; при температуре 50 - 80 процесс травления длится 1 - 2 мин. Добавка в раствор щелочи хлористого и фтористого натрия улучшает процесс травления и делает его более равномерным. После травления в щелочах сплавы алюминия имеют темный цвет.
